一种冲击测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于电子产品测试技术领域，公开了一种冲击测试装置，其包括机架、冲击件和产品放置座，冲击件包括与机架活动连接的跌落板、多个撞击针和多个压力传感器，撞击针设置于跌落板的底部，撞击针与压力传感器连接，产品放置座设置于机架上且位于撞击针的下方。多个撞击针的设置使得冲击件一次冲击便能够测试待测试产品的多个不同部位，能够简化测试步骤，提高检测效率，从而减少测试人员的工作量。

【技术实现步骤摘要】
一种冲击测试装置
本技术属于电子产品测试
，尤其涉及一种冲击测试装置。
技术介绍
在电子行业中需要进行各种测试，其中需要一种冲击测试，冲击测试主要用来确定电工电子元器件、设备等在使用和运输过程中承受机械冲击的能力，以评价其对冲击环境的适应性和结构完好性，其次是用于微电子器件内强度试验。针对同一待测试产品，需要对其多个不同部位处进行冲击试验，现有的冲击测试装置在测试时，一次冲击只能检测一个部位。因此，整个待测试产品需要进行多次冲击，使得操作繁琐复杂，测试周期较长，增加工作量。因此，亟需一种冲击测试装置解决上述技术问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提出一种冲击测试装置，能够简化测试步骤，提高检测效率，从而减少测试人员的工作量。为达此目的，本技术采用以下技术方案：一种冲击测试装置，包括：机架；冲击件，包括与所述机架活动连接的跌落板、多个撞击针和多个压力传感器，所述撞击针设置于所述跌落板的底部，所述撞击针与所述压力传感器连接；产品放置座，所述产品放置座设置于所述机架上且位于所述撞击针的下方。作为优选，所述跌落板水平安装于所述机架上以使所述跌落板能依自身重力沿竖直方向向下跌落。作为优选，所述撞击针的内部为中空结构，所述压力传感器设置于所述撞击针的内部。作为优选，还包括：电磁块承载架，所述电磁块承载架与所述机架活动连接；电磁块，所述电磁块安装在所述电磁块承载架上，所述跌落板为能够被所述电磁块吸附的磁吸板。r>作为优选，还包括通磁线，所述通磁线连接于所述电磁块。作为优选，还包括滑轨和滑块，所述滑轨沿着所述跌落板的跌落方向设置于所述机架上，所述滑块滑动连接于所述滑轨，所述电磁块承载架连接于所述滑块。作为优选，还包括电磁柱，所述电磁柱穿设于所述电磁块承载架，所述电磁柱的一端连接于所述电磁块，另一端凸出于所述电磁块承载架以使所述电磁柱与所述磁吸板磁性连接。作为优选，所述电磁块承载架包括支撑部和握持部，所述支撑部连接于所述滑块，所述握持部连接于所述支撑部，所述电磁块安装于所述支撑部。作为优选，所述产品放置座开设有产品放置槽。作为优选，所述产品放置座包括多个定位柱，所述跌落板上开设有多个定位孔，所述定位柱能够一一对应地插装于所述定位孔内。本技术的有益效果：本技术提供了一种冲击测试装置，机架用于承载冲击件和产品放置座，产品放置座用于放置待测试产品，跌落板上的多个撞击针能够用于同时检测待测试产品上的不同部位，压力传感器用于检测撞击针所在部位受到的冲击力，因此，多个撞击针的设置使得冲击件一次冲击便能够测试待测试产品的多个部位，能够简化测试步骤，提高检测效率，从而减少测试人员的工作量。附图说明图1是本技术一实施例提供的冲击测试装置的正视图；图2是本技术另一实施例提供的冲击测试装置中冲击件与产品放置座冲击状态的示意图；图3是图2的冲击测试装置中冲击件与产品放置座分离状态的示意图。图中：1、机架；2、冲击件；3、产品放置座；5、滑轨；6、滑块；11、底板；12、立板；21、跌落板；211、定位孔；22、撞击针；23、铁板；31、产品放置槽；32、定位柱；33、定位卡条；41、电磁块；42、电磁块承载架；43、电磁柱；44、通磁线；421、握持部。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的零部件或具有相同或类似功能的零部件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“安装”应做广义理解，例如，可以是安装连接，也可以是可拆卸连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一特征和第二特征直接接触，也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。如图1所示，本实施例提供了一种冲击测试装置，其包括机架1、冲击件2和产品放置座3，冲击件2包括与机架1活动连接的跌落板21、多个撞击针22和多个压力传感器，撞击针22设置于跌落板21的底部，撞击针22与压力传感器连接；产品放置座3设置于机架1上且位于撞击针22的下方。在本实施例提供的冲击测试装置中，机架1用于承载冲击件2和产品放置座3，产品放置座3用于放置待测试产品，冲击件2能够向下移动冲击待测试产品，以对待测试产品进行冲击测试，可以理解，待测试产品的类型不做过多限制，可以为手机、平板电脑等电子产品。跌落板21上的多个撞击针22能够同时撞击待测试产品上的不同部位，撞击后产生的测试压力通过压力传感器传至检测端获得压力参数，这种多个撞击针22的设置使得冲击件2一次冲击便能够测试待测试产品的多个不同部位，能够简化测试步骤，提高检测效率，从而减少测试人员的工作量。进一步地，多个撞击针22均匀布设于跌落板21的整个底部，对应撞击待测试产品的多个部位。可选地，可以由驱动机构驱动跌落板21朝向产品放置座3移动，对待测试产品进行冲击测试，也可以利用跌落板21的自身重力，对待测试产品进行冲击。在本实施例中，跌落板21水平安装于机架1上以使跌落板21能依自身重力沿竖直方向向下跌落。进一步地，跌落板21水平位于产品放置座3的正上方，保证多个撞击针22能够同时冲击待测试产品。可选地，撞击针22的内部为中空结构，压力传感器设置于撞击针22的内部。起到保护压力传感器的作用。如图2所示，本实施例提供的冲击测试装置还包括电磁块承载架42和电磁块41，电磁块承载架42与机架1活动连接；电磁块41安装在电磁块承载架42上，跌落板21为能够被电磁块41吸附的磁吸板。在电磁块41上连接有通磁线44，通磁线44用于为电磁块41通电。首先，当电磁块41通电时，电磁块41产生磁力，能够将磁吸板吸附，然后，电磁块41在电磁块承载架42的带动下，移动至距产品放置座3设定距离的位置处，之后，对电磁块41断电，磁力消失，跌落板21在重力的作用下对产品放置座3上的待测试产品进行撞击测试。当对另一待测产品测试时，再次对电磁块41通电，移动电磁块承载架42本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种冲击测试装置，其特征在于，包括：/n机架(1)；/n冲击件(2)，包括与所述机架(1)活动连接的跌落板(21)、多个撞击针(22)和多个压力传感器，所述撞击针(22)设置于所述跌落板(21)的底部，所述撞击针(22)与所述压力传感器连接；/n产品放置座(3)，所述产品放置座(3)设置于所述机架(1)上且位于所述撞击针(22)的下方。/n

【技术特征摘要】
1.一种冲击测试装置，其特征在于，包括：
机架(1)；
冲击件(2)，包括与所述机架(1)活动连接的跌落板(21)、多个撞击针(22)和多个压力传感器，所述撞击针(22)设置于所述跌落板(21)的底部，所述撞击针(22)与所述压力传感器连接；
产品放置座(3)，所述产品放置座(3)设置于所述机架(1)上且位于所述撞击针(22)的下方。


2.根据权利要求1所述的冲击测试装置，其特征在于，所述跌落板(21)水平安装于所述机架(1)上以使所述跌落板(21)能依自身重力沿竖直方向向下跌落。


3.根据权利要求1所述的冲击测试装置，其特征在于，所述撞击针(22)的内部为中空结构，所述压力传感器设置于所述撞击针(22)的内部。


4.根据权利要求1所述的冲击测试装置，其特征在于，还包括：
电磁块承载架(42)，所述电磁块承载架(42)与所述机架(1)活动连接；
电磁块(41)，所述电磁块(41)安装在所述电磁块承载架(42)上，所述跌落板(21)为能够被所述电磁块(41)吸附的磁吸板。


5.根据权利要求4所述的冲击测试装置，其特征在于，还包括通磁线(44)，所述通磁线(44)连接于所述电磁块(41)。
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【专利技术属性】
技术研发人员：赵江涛，张鸽，张善亚，
申请(专利权)人：立讯智造浙江有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33