一种薄膜晶体管及其制备方法技术

技术编号:27980638 阅读:27 留言:0更新日期:2021-04-06 14:16
本发明专利技术的实施例提供了一种薄膜晶体管及其制备方法,涉及半导体技术领域,薄膜晶体管包括衬底、栅极、栅绝缘层、有源层、源极和漏极,本发明专利技术提供的薄膜晶体管,通过采用具有p型半导体特性的多元硫化物二维纳米片薄膜制备有源层,而二维纳米片是一种在厚度方向上仅仅具有单个或者多个原子层,并且依靠层间的范德瓦尔斯力堆积而成的层状材料,其层间时较弱的范德华作用力,不用考虑晶格匹配的限制,故本发明专利技术减缓了生长材料间的晶格失配现象,提升了晶体质量。同时,本申请中采用具有p型半导体特性的多元硫化物,其无需再进行掺杂,工艺流程简单,不需要进行材料掺杂工艺,成本低廉,并且保留了材料自身固有性质,有助于提升器件性能。

【技术实现步骤摘要】
一种薄膜晶体管及其制备方法
本专利技术涉及半导体
,具体而言,涉及一种薄膜晶体管及其制备方法。
技术介绍
具有可控的电子传输性能的单极型(n型或p型)的场效应晶体管是应用电子器件的关键部分。现阶段p型场效应晶体管制备工艺需要经过衬底材料热生长,掺杂等多道复杂工艺,掺杂后的材料的自身固有性质会受到影响,而且需要生长材料之间的晶格匹配度高,否则会出现晶格失配现象,影响晶体质量。
技术实现思路
本专利技术的目的包括,例如,提供了一种薄膜晶体管及其制备方法,其工艺流程简单,不需要进行材料掺杂工艺,成本低廉,保留了材料自身固有性质,且减缓了生长材料间的晶格失配现象,提升了晶体质量。本专利技术的实施例可以这样实现:第一方面,本专利技术提供一种薄膜晶体管,包括:衬底;位于所述衬底上的栅极;位于所述衬底上,并覆盖在所述栅极上的栅绝缘层;位于所述栅绝缘层上的有源层;以及,与所述有源层连接的源极和漏极;其中,所述有源层采用具有p型半导体特性的多元硫化物二维纳米片薄膜制成。...

【技术保护点】
1.一种薄膜晶体管,其特征在于,包括:/n衬底;/n位于所述衬底上的栅极;/n位于所述衬底上,并覆盖在所述栅极上的栅绝缘层;/n位于所述栅绝缘层上的有源层;/n以及,与所述有源层连接的源极和漏极;/n其中,所述有源层采用具有p型半导体特性的多元硫化物二维纳米片薄膜制成。/n

【技术特征摘要】
1.一种薄膜晶体管,其特征在于,包括:
衬底;
位于所述衬底上的栅极;
位于所述衬底上,并覆盖在所述栅极上的栅绝缘层;
位于所述栅绝缘层上的有源层;
以及,与所述有源层连接的源极和漏极;
其中,所述有源层采用具有p型半导体特性的多元硫化物二维纳米片薄膜制成。


2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述有源层为含铜的多元硫化物二维纳米片薄膜。


3.根据权利要求2所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述有源层采用Cu2FeSnS4和CuSbS2中至少一种材料。


4.根据权利要求1-3任一项所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述有源层的厚度为5-200nm。


5.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述源极和所述漏极分别与所述有源层的两侧连接,并与所述衬底的上表面、所述栅绝缘层的上表面接触。


6.一种薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
在衬底上制备栅极;
在所述栅极表面制备栅绝缘层;
...

【专利技术属性】
技术研发人员:庞超龚政胡诗犇郭婵潘章旭刘久澄龚岩芬王建太邹胜晗陈志涛
申请(专利权)人:广东省科学院半导体研究所
类型:发明
国别省市:广东;44

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