【技术实现步骤摘要】
一种图像降噪方法和存储介质
本专利技术涉及图像处理领域,尤其涉及一种图像降噪方法和存储介质。
技术介绍
随着集成电路制造技术的发展和集成电路设计水平的不断提高,基于CMOS集成电路工艺技术制造的CMOS图像传感器由于其集成度高、功耗低、体积小、工艺简单、成本低且开发周期短等特点,使其在于CCD的竞争中逐渐处于优势地位。CMOS图像传感器被广泛应用于各类照相产品中,具有广泛的市场应用前景。而图像传感器中的图像信息经过模拟电路处理后,由于成像设备与外部环境噪声干扰等影响,会导致图像质量下降。尤其是会产生垂直的条纹和各种或明或暗的点,两者分别属于高斯噪声与椒盐噪声。噪声的存在会产生以下影响:(1)严重的噪声会使图像产生变形,失去其本质数据特征;(2)噪声会降低图像数据的质量以及精度,会影响后续对图像的相应处理。CMOS图像传感器的处理过程中,光信号需要经过感光像素采样转换为模拟电学信号,而后经过放大器以及模数转换单元(ADC)得到数字图像信号最终输出。在一系列的处理过程中,会引入各种噪声导致图像质量的下降,其中以高斯噪声和 ...
【技术保护点】
1.一种图像降噪方法,其特征在于,包括如下步骤:/nS1:判断输入图像是否含有噪声像素点,若含有则进一步判断所述各噪声像素点的类型;/nS2:根据各噪声像素点的类型分别采用相应的降噪方法依次对所述噪声像素点进行处理;/nS3:输出经过降噪处理后的图像。/n
【技术特征摘要】
1.一种图像降噪方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1:判断输入图像是否含有噪声像素点,若含有则进一步判断所述各噪声像素点的类型;
S2:根据各噪声像素点的类型分别采用相应的降噪方法依次对所述噪声像素点进行处理;
S3:输出经过降噪处理后的图像。
2.如权利要求1所述的图像降噪方法,其特征在于,所述噪声像素点的类型包括椒盐噪声点和/或高斯噪声点;
步骤S1包括:判断输入图像是否含有椒盐噪声点和/或高斯噪声点。
3.如权利要求2所述的图像降噪方法,其特征在于,判断输入图像是否含有椒盐噪声点包括:
计算输入图像上预定大小的滤波子块内所有像素点的平均值;
依次判断所述滤波子块内各像素点的像素值与所述滤波子块内所有像素点的平均值之差是否大于第一阈值,若是则判定滤波子块内该像素点为椒盐噪声点;否则判定该像素为椒盐噪声点。
4.如权利要求3所述的图像降噪方法,其特征在于,若判定所述滤波子块内含有椒盐噪声点,步骤S2包括:
S21:根据所述滤波子块内含有椒盐噪声点数量的不同,对各椒盐噪声点进行加权中值滤波处理,并将经过加权中值滤波处理后得到的像素值作为当前滤波子块对应的中心像素点的输出值。
5.如权利要求4所述的图像降噪方法,其特征在于,“根据所述滤波子块内含有椒盐噪声点数量的不同,对各椒盐噪声点进行加权中值滤波处理”包括:
当滤波子块内非椒盐噪声点数量大于两个时,根据各非椒盐噪声点的像素值大小进行排序,并根据设定的权重值对排序后的各非椒盐噪声点进行加权运算,将运算结果作为当前滤波子块对应的中心像素点的输出值;非椒盐噪声点的权重值与非椒盐噪声点的像素值成正比。
6.如权利要求4所述的图像降噪方法,其特征在于,所述滤波子块的大小为3X3子块,所述3x3子块包括3行3列共9个像素点,第一行像素点的像素值从左至右记为C1、C2、C3,第二行像素点的像素值从左至右记为C4、C5、C6,第三行像素点的像素值从左至右记为C7、C8、C9,所述C5为中心像素点;
步骤S21包括:
当判定所述3X3子块中所有像素点均为椒盐噪声点时,中心像素点的输出值q的计算公式如下:q=(C2+C4+C5+C6+C8)/5;
当判定所述3X3子块中所有像素点均不是椒盐噪声点时,...
【专利技术属性】
技术研发人员:辛国松,王欣洋,刘洋,李扬,马成,
申请(专利权)人:长春长光辰芯光电技术有限公司,
类型:发明
国别省市:吉林;22
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