通信设备寿命预测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种通信设备寿命预测方法及装置，其中，该方法包括：获取目标通信设备的关键芯片的运行参数；若根据运行参数和预先获取的老化模型判断获知关键芯片存在异常老化，则将预测结果确定为目标通信设备即将达到使用寿命；其中，关键芯片为恒温压控晶振和/或非线性宏单元闪存芯片；老化模型是根据目标通信设备的关键芯片的特性获得的。本发明专利技术实施例提供的通信设备寿命预测方法及装置，通过将恒温压控晶振和/或非线性宏单元闪存芯片作为关键芯片，根据关键芯片实际的运行参数，获取关键芯片当前的老化速度，当关键芯片的老化速度属于异常老化，将目标通信设备的寿命预测结果确定为即将达到使用寿命，能准确预测目标通信设备的寿命。

【技术实现步骤摘要】
通信设备寿命预测方法及装置
本专利技术涉及通信
，尤其涉及一种通信设备寿命预测方法及装置。
技术介绍
作为通信基础设施的基站等通信设备通常安装在室外，工作环境存在高温、高湿等特点，生命周期少则十年多则二十年，生命周期内的工作时间通常是24*365。如果因为设备器件失效导致设备不工作，将带来很差的客户体验，甚至会引起混乱。这种设备器件失效导致设备不能工作的情况一般都是突然发生，而且常常发生在已经正常运行多年的设备上，所以一旦出问题，就让人措手不及。目前，在没有通信设备寿命预测装置时，只能在设备不能工作之后，才会发现设备已达到使用寿命。因此，如何预测通信设备的寿命是本领域亟待解决的课题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种通信设备寿命预测方法及装置，用以解决现有技术中无法预测通信设备的寿命的缺陷，实现对通信设备寿命的预测。本专利技术实施例提供一种通信设备寿命预测方法，包括：获取目标通信设备的关键芯片的运行参数；若根据所述运行参数和预先获取的老化模型判断获知所述关键芯片存在异常老化，则将预本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通信设备寿命预测方法，其特征在于，包括：/n获取目标通信设备的关键芯片的运行参数；/n若根据所述运行参数和预先获取的老化模型判断获知所述关键芯片存在异常老化，则将预测结果确定为所述目标通信设备即将达到使用寿命；/n其中，所述关键芯片为恒温压控晶振和/或非线性宏单元闪存芯片；所述老化模型是根据所述目标通信设备的关键芯片的特性获得的。/n

【技术特征摘要】
1.一种通信设备寿命预测方法，其特征在于，包括：
获取目标通信设备的关键芯片的运行参数；
若根据所述运行参数和预先获取的老化模型判断获知所述关键芯片存在异常老化，则将预测结果确定为所述目标通信设备即将达到使用寿命；
其中，所述关键芯片为恒温压控晶振和/或非线性宏单元闪存芯片；所述老化模型是根据所述目标通信设备的关键芯片的特性获得的。


2.根据权利要求1所述的通信设备寿命预测方法，其特征在于，所述获取目标通信设备的关键芯片的运行参数的具体步骤包括：
获取所述恒温压控晶振当前单位时间段标准温度下的压控值。


3.根据权利要求1或2所述的通信设备寿命预测方法，其特征在于，所述获取目标通信设备的关键芯片的运行参数的具体步骤包括：
获取所述非线性宏单元闪存芯片当前单位时间段的坏块数；
相应地，根据所述运行参数和预先获取的老化模型判断所述关键芯片是否存在异常老化的具体步骤包括：
若判断获知所述非线性宏单元闪存芯片当前单位时间段的坏块率小于预设的坏块率阈值，则根据所述非线性宏单元闪存芯片当前单位时间段的坏块数、所述坏块率阈值和所述老化模型，获取所述非线性宏单元闪存芯片的剩余寿命；
若判断获知所述非线性宏单元闪存芯片的剩余寿命小于预设的剩余寿命阈值，则确定所述非线性宏单元闪存芯片存在异常老化。


4.根据权利要求2所述的通信设备寿命预测方法，其特征在于，根据所述运行参数和预先获取的老化模型判断所述关键芯片是否存在异常老化的具体步骤包括：
根据所述恒温压控晶振当前单位时间段标准温度下的压...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦燕婷，
申请(专利权)人：武汉虹信科技发展有限责任公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42