信息预测方法、系统、电子设备和存储介质技术方案

本发明专利技术实施例公开了一种信息预测方法、系统、电子设备和存储介质，涉及信息处理领域。信息预测方法包括：获取所述电解电容的预设电压参数，其中，所述电压参数包括第一电压参数和第二电压参数；根据所述预设电压参数对所述电解电容进行测试，获取至少两个所述电解电容的测试数据，其中，所述测试数据为所述电解电容的电压参数从所述第一电压参数变化至所述第二电压参数的所需时间；根据所述测试数据获取所述电解电容的预测放电信息。应用变频器电解电容测试的过程中，通过对电解电容放电时间的统计来获取的电解电容的预测放电信息，解决了现有技术中由于变频器使用环境的影响而导致的难以准确获取电解电容放电信息的问题。

【技术实现步骤摘要】
信息预测方法、系统、电子设备和存储介质
本专利技术实施例涉及信息处理领域，特别涉及一种信息预测方法、系统、电子设备和存储介质。
技术介绍
电解电容作为通用变频器的中易损器件，起着支撑、储能、滤波等重要作用，然而电解电容属于易损件，其寿命是变频器的寿命瓶颈。随着变频器使用期限的增加，电解电容寿命将不可避免的逐渐减少，为了避免出现因电解电容寿命减小而导致出现炸机的风险，对于电解电容的寿命到期防护方面，国内、国际有很多相关研究，早期的方法是将电解电容在规定工作条件，如工作温度，工作电压，工作负载下的寿命标识在用户手册中，并给出其它工况下的寿命折算公式，提出部件更换的大致标准，便于用户在电力电子变换器中电容寿命到期前，有计划的对电解电容进行更换，从而避免意外停机造成的巨大损失。然而，由于用户根据折算公式手动计算只是一种人工防范措施，基于用户按照手册执行才能起到作用，且电解电容的寿命折算用户并不一定能够准确做到，且电解电容的寿命受环境影响较大，比如电网质量、通风条件、环境温度等，这些因素不便于监控，因此很难准确计算出电解电容寿命。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种信息预测方法，其特征在于，应用在变频器电解电容测试过程中，包括：/n获取所述电解电容的预设电压参数，其中，所述电压参数包括第一电压参数和第二电压参数；/n根据所述预设电压参数对所述电解电容进行测试，获取至少两个所述电解电容的测试数据，其中，所述测试数据为所述电解电容的电压参数从所述第一电压参数变化至所述第二电压参数的所需时间；/n根据所述测试数据获取所述电解电容的预测放电信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种信息预测方法，其特征在于，应用在变频器电解电容测试过程中，包括：
获取所述电解电容的预设电压参数，其中，所述电压参数包括第一电压参数和第二电压参数；
根据所述预设电压参数对所述电解电容进行测试，获取至少两个所述电解电容的测试数据，其中，所述测试数据为所述电解电容的电压参数从所述第一电压参数变化至所述第二电压参数的所需时间；
根据所述测试数据获取所述电解电容的预测放电信息。


2.根据权利要求1所述的信息预测方法，其特征在于，所述根据所述测试数据获取所述电解电容的预测放电信息，包括：
对所述测试数据按时间大小进行排序；
对所述排序之后的测试数据进行截尾平均处理，获取所述预测放电信息。


3.根据权利要求1所述的信息预测方法，其特征在于，所述根据所述测试数据获取所述电解电容的预测放电信息之后包括：
获取至少两个所述电解电容在非测试条件时的使用数据，其中，所述使用数据为所述电解电容的电压参数从所述第一电压参数变化至所述第二电压参数的所需时间，
根据所述使用数据获取所述电解电容的实际放电信息；
将所述实际放电信息与所述预测放电信息进行对比，获取所述电解电容的使用状态。


4.根据权利要求3所述的信息预测方法，其特征在于，所述将所述实际放电信息与所述预测放电信息进行对比，获取所述电解电容的使用状态，包括：
当Tn_Ave<a*Tn_Ref时，所述电解电容的使用状态为报警状态；
当Tn_Ave<b*Tn_Ref时，所述电解电容的使用状态为故障状态；
其中，Tn_Ref为所述预测放电信息，Tn_Ave为所述实际放电信息，a和b为数值不同的预设系数。


5.根据权利要求1所述的信息预测方法，其特征在于，所述根据所述预设电压参数对所述电解电容进行测试之前还包括：
获取所述变频器的系统组成和所述变频器的运行状态，其中，所述系统组成用于确定所述测试数据的存储位置；
当所述运行状态为待机状态时，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王亮平，李柏松，李武君，陈伟，李兴鹤，金辛海，蔡亮，
申请(专利权)人：上海新时达电气股份有限公司，上海辛格林纳新时达电机有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31