存储器系统及存储器系统的操作方法技术方案

本公开的实施例涉及存储器系统及存储器系统的操作方法。提供了一种存储器系统及该存储器系统的操作方法。该存储器系统包括存储器设备，其包括多个存储器块；以及存储器控制器，其用于通过对多个存储器块执行初始测试操作来控制存储器设备检测初始坏块。存储器控制器将与检测的初始坏块物理相邻的存储器块注册并管理为弱存储器块。

【技术实现步骤摘要】
存储器系统及存储器系统的操作方法相关申请的交叉引用本申请根据35U.S.C.§119(a)要求于2019年10月1日提交的韩国专利申请号10-2019-0121687的优先权，其全部公开内容通过引用并入本文。
本公开一般涉及一种存储器系统及其操作方法，更具体地涉及一种能够有效管理弱存储器块的存储器系统及其操作方法。
技术介绍
新近的计算机环境的范例已经变为普适计算环境，在该普适计算环境中，计算系统可以在任何地方任何时间使用。这促进越来越多的使用诸如移动电话、数码相机、笔记本计算机等之类的便携式电子设备。这种便携式电子设备通常可以包括使用存储器设备(即，数据存储设备)的存储器系统。数据存储设备用作便携式电子设备的主存储器设备或辅助存储器设备。由于没有机械驱动部件，所以使用存储器设备的数据存储设备具有优异的稳定性和耐久性、高信息访问速度和低功耗。在具有这种优点的存储器系统的示例中，数据存储设备包括通用串行总线(USB)存储器设备、具有各种接口的存储器卡、固态驱动器(SSD)等。
技术实现思路
根据本公开的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储器系统，包括：/n存储器设备，包括多个存储器块；以及/n存储器控制器，被配置为通过对所述多个存储器块执行初始测试操作，来控制所述存储器设备检测初始坏块，/n其中所述存储器控制器将与检测到的所述初始坏块物理相邻的存储器块注册并管理为弱存储器块。/n

【技术特征摘要】
20191001 KR 10-2019-01216871.一种存储器系统，包括：
存储器设备，包括多个存储器块；以及
存储器控制器，被配置为通过对所述多个存储器块执行初始测试操作，来控制所述存储器设备检测初始坏块，
其中所述存储器控制器将与检测到的所述初始坏块物理相邻的存储器块注册并管理为弱存储器块。


2.根据权利要求1所述的存储器系统，其中所述存储器控制器包括存储器块管理块，所述存储器块管理块被配置为在所述初始测试操作中接收关于检测到的所述初始坏块的信息，并且基于关于所述初始坏块的所述信息，将与所述初始坏块物理相邻的所述存储器块注册并管理为所述弱存储器块。


3.根据权利要求1所述的存储器系统，其中所述存储器控制器基于从外部接收的编程数据的读取和写入频率，将在编程操作中所述编程数据分为冷数据和热数据。


4.根据权利要求3所述的存储器系统，其中在使用所述冷数据的编程操作中，所述存储器控制器控制所述存储器设备选择并且编程被注册为所述弱存储器块的所述存储器块中的至少一个存储器块。


5.根据权利要求4所述的存储器系统，其中在对被注册为所述弱存储器块的所述存储器块的编程操作中，所述存储器控制器通过使用单级单元编程方案来控制所述存储器设备对被注册为所述弱存储器块的所述存储器块进行编程。


6.根据权利要求3所述的存储器系统，其中在使用所述热数据的编程操作中，所述存储器控制器控制所述存储器设备，以选择并且编程除被注册为所述弱存储器块的所述存储器块之外的正常存储器块中的至少一个存储器块。


7.根据权利要求6所述的存储器系统，其中所述存储器控制器将被注册为所述弱存储器块的所述存储器块的刷新周期设置并管理为比所述正常存储器块的刷新周期短。


8.根据权利要求2所述的存储器系统，其中所述存储器控制器还包括chipkill管理块，所述chipkill管理块被配置为选择在所述存储器块管理块中注册的所述弱存储器块作为chipkill存储器块，并且控制使用所述多个存储器块中的每个存储器块中存储的数据生成的chipkill奇偶校验数据存储在所述chipkill存储器块中。


9.一种存储器系统，包括：
存储器设备，包括多个半导体存储器；以及
存储器控制器，被配置为通过对所述多个半导体存储器执行初始测试操作，来控制所述存储器设备检测所述多个半导体存储器中的每个半导体存储器中包括的多个存储器块中的初始坏块，
其中所述存储器控制器将与检测到的所述初始坏块相邻的存储器块注册为弱存储器块，并且选择所述弱存储器块作为存储所述多个半导体存储器的chipkill奇偶校验的chipkill存储器块。


10.根据权利要求9所述的存储器系统，其中所述存储器控制器包括存储器块管理块，所述存储器块管理块被配置为在所述初始测试操作中接收关...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩周玹，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR