离轴反射式光学镜头的光轴校准方法技术

技术编号:27933132 阅读:49 留言:0更新日期:2021-04-02 14:12
本发明专利技术公开了一种离轴反射式光学镜头的光轴校准方法,将校准激光发射器放置于平行光路中,利用激光出射细光束的准直特点,可以分别校准测试系统光轴、被测系统的光轴,实现测试光轴的粗略对准;再结合旁轴近似等像高原则,最终实现离轴反射式光学系统MTF测试时光轴的精确校准。与现有技术相比,本发明专利技术所提供的技术方法及装置具有以下优点:此光轴校准方法能够快速、准确调整离轴反射式光学系统的测试状态,是准确测试其MTF的必须手段。

【技术实现步骤摘要】
离轴反射式光学镜头的光轴校准方法
本专利技术属于光电测试仪器装调
,尤其涉及一种离轴反射式光学镜头的光轴校准方法。
技术介绍
近年来,随着我国航天事业、机载舰载武器装备的发展,对离轴反射式光学系统的性能要求日益增加,提出了对离轴反射式光学系统MTF的高精度检验需求。如何准确、高效的校准离轴反射式光学系统的光轴,确定最佳焦面位置,并保证其测试精度,就成为离轴反射式光学系统MTF测试校准检验的重要流程。离轴反射式光学系统的设计在保证长焦距、大通光口径、高分辨率的优点同时,可以做到光路折转、系统体积小、中心无遮拦、重量轻的优势,使得空间对地观测系统可以从折射式到反射式、从同轴光学系统到离轴光学系统的发展阶段。折射式光学系统由于受光学材料的限制,很难做到大口径和轻量化设计,反射式光学系统受材料限制较小,便于轻量化设计,完全没有色差,系统透过率高。离轴反射式光学系统中心无遮拦,可优化的变量多,既可以提高光学系统视场大小,还可以极大改善系统成像质量。光学调制传递函数MTF(ModuleTransferFunction)是国际公认的光学本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种离轴反射式光学镜头的光轴校准方法,其特征在于,包括如下步骤:/nS1装调离轴反射式光路的测试系统和待测系统;/nS2粗调所述测试系统和待测系统,使目标发生器(1)出射的光束依次经过第一离轴抛物面主镜(2)、激光发射器(3)、第二离轴抛物面主镜(4)、折返镜(5)、二次聚焦系统聚焦(6),再由二次聚焦系统后端设置的平面反射镜(7)使聚焦的光束按原路返回至所述目标发生器(1)的出射面;/nS3根据被测系统的焦距大小,调节统目标发生器(1)出射孔的大小;/nS4调整测试系统的探测器,使所述探测器目镜内的十字叉丝与被测系统所成像点重合,使光束聚焦被测系统传递函数最大值处,将此位置记为零点;/n...

【技术特征摘要】
1.一种离轴反射式光学镜头的光轴校准方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1装调离轴反射式光路的测试系统和待测系统;
S2粗调所述测试系统和待测系统,使目标发生器(1)出射的光束依次经过第一离轴抛物面主镜(2)、激光发射器(3)、第二离轴抛物面主镜(4)、折返镜(5)、二次聚焦系统聚焦(6),再由二次聚焦系统后端设置的平面反射镜(7)使聚焦的光束按原路返回至所述目标发生器(1)的出射面;
S3根据被测系统的焦距大小,调节统目标发生器(1)出射孔的大小;
S4调整测试系统的探测器,使所述探测器目镜内的十字叉丝与被测系统所成像点重合,使光束聚焦被测系统传递函数最大值处,将此位置记为零点;
S5旋转设置在所述第一离轴抛物面主镜(2)和探测器中间的转台,所述转台上用于放置待观察物品,将转台旋转+θ角度,平移转台X轴使得已偏离的像点调回到十字叉丝位置,记录数据平移距离x1;
S6再次旋转所述转台-θ角度,将已偏离的像点调回到十字叉丝位置,记录数据x2;
S7计算旁轴畸变α,



其中,当α>1%时,调节被测系统的转台及测试系统中探测器的平移机构,微调整被测系统的光轴,再进行步骤S4和步骤S5的操作,直至α≤1%,结束精调。


2.根据权利要求1所述的离轴反射式光学镜头的光轴校准方法,其特征在于,所述测试系统包括目标发生器(1)、探测器、第一离轴抛物面主镜(2)、激光发射器(3);所述目标发生器(1)发出的光线与水平面呈一定角度且为球面光,所述第一离轴抛物面主镜(2)接收所述目标发生器(1)发出的光线并将其转化为平行光束。


3.根据权利要求2所述的离轴反射式光学镜头的光轴校准方法,其特征在于,所述被测系统包括第二离轴抛物面主镜(4)、折转镜、二次聚焦系统,还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈晓苹谷立山马洪涛韩冰
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
类型:发明
国别省市:吉林;22

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