一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，属于太赫兹成像技术领域，包括转动组件、开关控制组件、测试校准组件、触发开关组件，所述开关控制组件与所述转动组件连接，所述触发开关组件与太赫兹成像仪电连接，通过调节所述开关控制组件的位置使所述触发开关组件开闭，控制切换太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程，所述测试校准组件与所述转动组件连接。本发明专利技术通过电机、支架、限位开关等组件的巧妙设置，能够方便地对太赫兹成像仪探测器阵列进行校准，操作更加方便；并且采用太赫兹成像仪内部校准的方式，摆脱外部辅助设备，同时大大降低对均匀太赫兹视场环境的依赖，填补了对太赫兹成像仪探测器阵列校准方面的空白。

【技术实现步骤摘要】
一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置
本专利技术涉及太赫兹成像
，具体涉及一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置。
技术介绍
被动式太赫兹成像仪已广泛应用于地铁、火车站、大型展会等公共场所的安检安防领域。受限于太赫兹探测器的技术发展与生产成本，目前被动式太赫兹成像仪多使用单元探测器，线性拼接成探测器阵列，另加一维扫描的形式，来获取人体等被测目标的全视场图像。探测器输出电压一般可表述为y＝kx+b的形式，其中，y为探测器输出电压，k为响应系数，x为输入太赫兹辐射功率，b为探测器背景噪声。对于目前的太赫兹波段探测器，不同的探测器之间k值差异不大且较为稳定，但b值差异较大，且随时间漂移较大，对成像效果影响较大。为了减小此影响，可在太赫兹成像仪视场中放置太赫兹辐射较为均匀的背景板，或者寻找太赫兹成像仪视场中辐射较为均匀的区域，获取校准数据，计算探测器阵列中的不同探测器的相对b值。对于第一种方法，需要外部设备辅助，增加设备复杂度；对于第二种方法，需要太赫兹成像仪视场较为均匀，限制了使用环境。显然，上述两种方法都不利于太赫兹成像仪的外场铺设与使用。对于可见光、红外光成像仪，多使用机械快门对阵列探测器进行校准。但是对于太赫兹成像仪，目前尚未见到相关文献对校准方式进行介绍。因此，提出一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于：如何解决对太赫兹成像仪探测器阵列的校准，提供了一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，也可称为一种太赫兹成像仪机械快门。本专利技术是通过以下技术方案解决上述技术问题的，本专利技术包括转动组件、开关控制组件、测试校准组件、触发开关组件，所述开关控制组件与所述转动组件连接，所述触发开关组件与太赫兹成像仪电连接，通过调节所述开关控制组件的位置使所述触发开关组件开闭，控制切换太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程，所述测试校准组件与所述转动组件连接。更进一步地，所述开关控制组件包括第一开关挡片、第二开关挡片，所述第一开关挡片、所述第二开关挡片随所述转动组件转动至不同位置控制太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程。更进一步地，所述触发开关组件包括第一限位开关与第二限位开关，所述第一限位开关被所述第一开关挡片遮挡时，控制所述转动组件停止转动，同时触发太赫兹成像仪采集校准数据，所述第二限位开关被所述第二开关挡片遮挡时，控制所述转动组件停止转动，同时触发太赫兹成像仪采集图像数据。更进一步地，所述测试校准组件包括太赫兹吸波材料板与支架，所述太赫兹吸波材料板设置在所述支架的一端。更进一步地，所述测试校准组件还包括探测器挡板，所述太赫兹吸波材料板通过所述探测器挡板与所述支架连接。更进一步地，在太赫兹成像仪采集校准数据时所述探测器挡板完全遮挡太赫兹成像仪的探测器阵列。更进一步地，所述转动组件包括转轴、电机，所述支架的另一端与所述转轴连接，所述电机通过联轴器与所述转轴的端部连接，驱动所述转轴转动。更进一步地，所述第一开关挡片、所述第二开关挡片均设置在所述转轴上。更进一步地，所述电机为步进电机或伺服电机。更进一步地，所述电机加速与减速过程均采用Logistic函数脉冲驱动。本专利技术相比现有技术具有以下优点：该太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，通过电机、支架、限位开关等组件的巧妙设置，能够方便地对太赫兹成像仪探测器阵列进行校准，操作更加方便；并且采用太赫兹成像仪内部校准的方式，摆脱外部辅助设备，同时大大降低对均匀太赫兹视场环境的依赖，填补了对太赫兹成像仪探测器阵列校准方面的空白，值得被推广使用。附图说明图1为本专利技术实施例二中校准装置校准数据采集位示意图；图2为本专利技术实施例二中校准装置图像数据采集位示意图；图3为本专利技术实施例二中校准装置的俯视图；图4为本专利技术实施例二中校准转置电机的一种转速时序图；图5为本专利技术实施例二中校准装置电机的运动角度时序图。具体实施方式下面对本专利技术的实施例作详细说明，本实施例在以本专利技术技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本专利技术的保护范围不限于下述的实施例。本实施例提供一种技术方案：一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，包括转动组件、开关控制组件、测试校准组件、触发开关组件，所述开关控制组件与所述转动组件连接，所述触发开关组件与太赫兹成像仪电连接，通过调节所述开关控制组件的位置使所述触发开关组件开闭，控制切换太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程，所述测试校准组件与所述转动组件连接。更进一步地，所述开关控制组件包括第一开关挡片、第二开关挡片，所述第一开关挡片、所述第二开关挡片随所述转动组件转动至不同位置控制太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程。更进一步地，所述触发开关组件包括第一限位开关与第二限位开关，所述第一限位开关被所述第一开关挡片遮挡时，控制所述转动组件停止转动，同时触发太赫兹成像仪采集校准数据，所述第二限位开关被所述第二开关挡片遮挡时，控制所述转动组件停止转动，同时触发太赫兹成像仪采集图像数据。更进一步地，所述测试校准组件包括太赫兹吸波材料板与支架，所述太赫兹吸波材料板设置在所述支架的一端。更进一步地，所述测试校准组件还包括探测器挡板，所述太赫兹吸波材料板通过所述探测器挡板与所述支架连接。更进一步地，在太赫兹成像仪采集校准数据时所述探测器挡板完全遮挡太赫兹成像仪的探测器阵列。更进一步地，所述转动组件包括转轴、电机，所述支架的另一端与所述转轴连接，所述电机通过联轴器与所述转轴的端部连接，驱动所述转轴转动。更进一步地，所述第一开关挡片、所述第二开关挡片均设置在所述转轴上。更进一步地，所述电机为步进电机或伺服电机。更进一步地，所述电机加速与减速过程均采用Logistic函数脉冲驱动。更进一步地，当成像仪处于图像数据采集模式时，电机静止，探测器挡板不遮挡探测器阵列，图像数据采集位限位开关处于触发态，且校准数据采集位限位开关处于非触发态。当成像仪发送校准指令后，电机启动，首先以加速Logistic函数脉冲驱动加速运动，然后以减速Logistic函数脉冲驱动减速运动，直至图像数据采集位限位光电开关处于非触发态，且校准数据采集位限位开关处于触发态，电机停转，此时，探测器挡板完全遮挡探测器阵列，成像仪采集一定时长校准数据。校准数据采集时长到达后，电机启动，转向反向，首先以加速Logistic函数脉冲驱动加速运动，然后以减速Logistic函数脉冲驱动减速运动，直至图像数据采集位限位光电开关处于触发态，且校准数据采集位限位开关处于非触发态，电机停转，成像仪恢复至图像数据采集模式，完成一次校准周期。实施例二如图1～5所示，本实施例提供一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，包括探测器阵列1、太赫兹吸波材料板2、探测器挡板3、支架4、转轴5、第一开关挡片6、第一限位开关7、第二开关挡片8、第二限位本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：包括转动组件、开关控制组件、测试校准组件、触发开关组件，所述开关控制组件与所述转动组件连接，所述触发开关组件与太赫兹成像仪电连接，通过调节所述开关控制组件的位置使所述触发开关组件开闭，控制切换太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程，所述测试校准组件与所述转动组件连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：包括转动组件、开关控制组件、测试校准组件、触发开关组件，所述开关控制组件与所述转动组件连接，所述触发开关组件与太赫兹成像仪电连接，通过调节所述开关控制组件的位置使所述触发开关组件开闭，控制切换太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程，所述测试校准组件与所述转动组件连接。


2.根据权利要求1所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：所述开关控制组件包括第一开关挡片、第二开关挡片，所述第一开关挡片、所述第二开关挡片随所述转动组件转动至不同位置控制太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程。


3.根据权利要求2所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：所述触发开关组件包括第一限位开关与第二限位开关，所述第一限位开关被所述第一开关挡片遮挡时，控制所述转动组件停止转动，同时触发太赫兹成像仪采集校准数据，所述第二限位开关被所述第二开关挡片遮挡时，控制所述转动组件停止转动，同时触发太赫兹成像仪采集图像数据。


4.根据权利要求3所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：所述测试校准组件包括太赫兹吸波材...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡广骁，胡睿佶，朱雨，高广东，缪玮杰，高炳西，冯辉，
申请(专利权)人：博微太赫兹信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34