一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置制造方法及图纸

技术编号:27932806 阅读:29 留言:0更新日期:2021-04-02 14:12
本发明专利技术公开了一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置,属于太赫兹成像技术领域,包括转动组件、开关控制组件、测试校准组件、触发开关组件,所述开关控制组件与所述转动组件连接,所述触发开关组件与太赫兹成像仪电连接,通过调节所述开关控制组件的位置使所述触发开关组件开闭,控制切换太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程,所述测试校准组件与所述转动组件连接。本发明专利技术通过电机、支架、限位开关等组件的巧妙设置,能够方便地对太赫兹成像仪探测器阵列进行校准,操作更加方便;并且采用太赫兹成像仪内部校准的方式,摆脱外部辅助设备,同时大大降低对均匀太赫兹视场环境的依赖,填补了对太赫兹成像仪探测器阵列校准方面的空白。

【技术实现步骤摘要】
一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置
本专利技术涉及太赫兹成像
,具体涉及一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置。
技术介绍
被动式太赫兹成像仪已广泛应用于地铁、火车站、大型展会等公共场所的安检安防领域。受限于太赫兹探测器的技术发展与生产成本,目前被动式太赫兹成像仪多使用单元探测器,线性拼接成探测器阵列,另加一维扫描的形式,来获取人体等被测目标的全视场图像。探测器输出电压一般可表述为y=kx+b的形式,其中,y为探测器输出电压,k为响应系数,x为输入太赫兹辐射功率,b为探测器背景噪声。对于目前的太赫兹波段探测器,不同的探测器之间k值差异不大且较为稳定,但b值差异较大,且随时间漂移较大,对成像效果影响较大。为了减小此影响,可在太赫兹成像仪视场中放置太赫兹辐射较为均匀的背景板,或者寻找太赫兹成像仪视场中辐射较为均匀的区域,获取校准数据,计算探测器阵列中的不同探测器的相对b值。对于第一种方法,需要外部设备辅助,增加设备复杂度;对于第二种方法,需要太赫兹成像仪视场较为均匀,限制了使用环境。显然,上述两种方法都不利于太赫兹成像仪的外场铺设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置,其特征在于:包括转动组件、开关控制组件、测试校准组件、触发开关组件,所述开关控制组件与所述转动组件连接,所述触发开关组件与太赫兹成像仪电连接,通过调节所述开关控制组件的位置使所述触发开关组件开闭,控制切换太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程,所述测试校准组件与所述转动组件连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置,其特征在于:包括转动组件、开关控制组件、测试校准组件、触发开关组件,所述开关控制组件与所述转动组件连接,所述触发开关组件与太赫兹成像仪电连接,通过调节所述开关控制组件的位置使所述触发开关组件开闭,控制切换太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程,所述测试校准组件与所述转动组件连接。


2.根据权利要求1所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置,其特征在于:所述开关控制组件包括第一开关挡片、第二开关挡片,所述第一开关挡片、所述第二开关挡片随所述转动组件转动至不同位置控制太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程。


3.根据权利要求2所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置,其特征在于:所述触发开关组件包括第一限位开关与第二限位开关,所述第一限位开关被所述第一开关挡片遮挡时,控制所述转动组件停止转动,同时触发太赫兹成像仪采集校准数据,所述第二限位开关被所述第二开关挡片遮挡时,控制所述转动组件停止转动,同时触发太赫兹成像仪采集图像数据。


4.根据权利要求3所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置,其特征在于:所述测试校准组件包括太赫兹吸波材...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡广骁胡睿佶朱雨高广东缪玮杰高炳西冯辉
申请(专利权)人:博微太赫兹信息科技有限公司
类型:发明
国别省市:安徽;34

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1