一种芯片测试机的翻转机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试机的翻转机构，包括基座、升降结构、平移结构和，所述基座顶端的一侧固定连接有升降结构，且升降结构的一侧固定连接有平移结构，所述平移结构的底端固定连接有平移基座。本实用新型专利技术通过在架体外侧壁的四周均分别设置有放置槽，增加放置槽的数量，在测试机工作时，在架体四周的放置槽内分别放入一个芯片，再通过翻转机构分别对放置槽中的芯片进行检测，以此达到缩短检测时间，提高检测效率的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试机的翻转机构
本技术涉及电子产品检测
，具体为一种芯片测试机的翻转机构。
技术介绍
电子芯片在生产制造的时候都有非常严格的生产条件，因此为了保证每个芯片都能达标，需要对芯片进行检测，芯片检测机的翻转机构极大地方便了芯片的检测，但是现有的芯片测试机的翻转机构仍然存在许多问题或缺陷。在实现本技术的过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题没有得到解决：（1）传统的芯片测试机的翻转机构在进行芯片检测时，芯片容易出现松动现象，影响检测数据，导致检测结果不准确；（2）传统的芯片测试机的翻转机构适用性差，工作时无法调节位置，使用起来非常不方便；（3）传统的芯片测试机的翻转机构检测效率过于缓慢，大大增加了芯片生产的时间，影响芯片的生产效率。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种芯片测试机的翻转机构，以解决上述
技术介绍
中提出检测时芯片松动、适用性差和检测效率缓慢的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片测试机的翻转机构，包括基座、升降结构、平移结构和，所述基座顶端的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试机的翻转机构，包括基座（1）、升降结构（2）、平移结构（3）和吸附固定机构（7），其特征在于：所述基座（1）顶端的一侧固定连接有升降结构（2），且升降结构（2）的一侧固定连接有平移结构（3），所述平移结构（3）的底端固定连接有平移座（4），且平移座（4）的底端固定连接有箱体（5），所述箱体（5）内部底端中心处竖向固定有驱动电机（8），且驱动电机（8）的输出端通过联动轴（6）与吸附固定机构（7）固定连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试机的翻转机构，包括基座（1）、升降结构（2）、平移结构（3）和吸附固定机构（7），其特征在于：所述基座（1）顶端的一侧固定连接有升降结构（2），且升降结构（2）的一侧固定连接有平移结构（3），所述平移结构（3）的底端固定连接有平移座（4），且平移座（4）的底端固定连接有箱体（5），所述箱体（5）内部底端中心处竖向固定有驱动电机（8），且驱动电机（8）的输出端通过联动轴（6）与吸附固定机构（7）固定连接。


2.根据权利要求1所述的一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于：所述升降结构（2）的内部依次设置有第一转盘（206）、第一螺纹杆（203）、第一驱动块（202）、连接板（205）、滑槽（204），支撑杆（201）和柱体（207），柱体（207）内部的底端设置有支撑杆（201），支撑杆（201）的顶端固定连接有第一螺纹杆（203），且第一螺纹杆（203）的顶端固定连接有第一转盘（206），第一螺纹杆（203）的外侧壁上设置有外螺纹，第一螺纹杆（203）的外部活动连接有第一驱动块（202），第一驱动块（202）的内侧壁上设置有与外螺纹相配合的内螺纹，第一驱动块（202）和第一螺纹杆（203）之间为螺纹连接。


3.根据权利要求2所述的一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于：所述第一驱动块（202）的一侧固定连接有连接板（205），柱体（2...

【专利技术属性】
技术研发人员：卞杰锋，
申请(专利权)人：苏州全威电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32