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一种芯片测试机的翻转机构制造技术
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下载一种芯片测试机的翻转机构的技术资料
文档序号:27904106
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本实用新型公开了一种芯片测试机的翻转机构,包括基座、升降结构、平移结构和,所述基座顶端的一侧固定连接有升降结构,且升降结构的一侧固定连接有平移结构,所述平移结构的底端固定连接有平移基座。本实用新型通过在架体外侧壁的四周均分别设置有放置槽,增...
该专利属于苏州全威电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州全威电子科技有限公司授权不得商用。
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