织物密度测量尺制造技术

为了解决现有织物密度测量仪器存在的测量结果不确定的问题。本发明专利技术提供了一种织物密度测量尺，包括透明的基板；在所述基板上设置有基线；在所述基板上还设置有与所述基线呈预设夹角的若干平行的非透明或弱透明的测量线；在所述基板上设置有表征被测织物的密度值的刻度标记，所述刻度标记由所述测量线与平行于所述基线的所述被测织物的条纹之间形成的莫尔条纹的方向确定。本发明专利技术可以广泛应用于织物密度的测量和织物质量的评价。密度的测量和织物质量的评价。密度的测量和织物质量的评价。

【技术实现步骤摘要】
织物密度测量尺


[0001]本专利技术涉及一种织物密度测量技术，特别是一种用于测量织物密度的量具。

技术介绍

[0002]现在广泛使用的测量织物经纬密度的仪器有织物分析镜和织物经纬仪。
[0003]织物分析镜测量原理是通过仪器上的放大镜观察织物，通过人眼数出1cm中纱线根数得织物的经纬密度。该方法在测量时不数错根数的前提下，精度高，但是费时费力，极易造成视觉疲劳，且当经纬密度大但放大镜放大倍数较小时，很可能数错根数。
[0004]织物经纬仪的测量原理是利用了仪器上的类似“光栅”的图案遮光透光的周期重复结构与织物遮光透光的周期重复结构(有纱线的地方遮光，两纱线之间透光)相叠加形成摩尔条纹来测量。使用时将织物经纬仪覆盖在被测织物上，在经纬仪上图案的周期T1等于织物纱线的周期T2的地方出现莫尔条纹。该方法能快速方便确定织物的经纬密度，但在T1＝nT2(n为整数)的地方同样会产生莫尔条纹，测量时若不知道织物的大致经纬密度，难以判断哪一个莫尔条纹对应的是T2。且该方法要求T1＝T2，当经纬密度很大时，T1很小，普通打印设备精度不够，难以喷涂出该图案，使得仪器制作不方便。

技术实现思路

[0005]为了解决现有织物密度测量仪器存在的测量结果不确定的问题。本专利技术提供了一种织物密度测量尺。
[0006]本专利技术的技术方案如下。
[0007]织物密度测量尺，包括透明的基板；在所述基板上设置有基线；在所述基板上还设置有与所述基线呈预设夹角的若干平行的非透明或弱透明的测量线；在所述基板上设置有表征被测织物的密度值的刻度标记，所述刻度标记由所述测量线与平行于所述基线的所述被测织物的条纹之间形成的莫尔条纹的方向确定。
[0008]确定所述刻度标记的公式如下：
[0009][0010]其中，T1为被测织物的条纹密度，T2为垂直于所述测量线方向的测量线的密度，α为所述测量线与所述被测织物的条纹的夹角，β为莫尔条纹与所述被测织物的条纹的夹角。
[0011]可选地，所述测量线设置在所述基板上一个半圆形区域内；所述半圆的直线边缘为所述基线；所述刻度标记设置在所述半圆形区域的曲线边缘上。
[0012]可选地，所述测量线的粗细相等。
[0013]可选地，所述测量线之间的间距相等。
[0014]可选地，所述预设夹角的大小为20度。
[0015]可选地，在垂直于所述测量线方向，每厘米内设置有40根所述测量线。
[0016]可选地，所述基板的材质包括亚克力材料
[0017]本专利技术的技术效果：
[0018]本专利技术的织物密度测量尺使用时覆盖在被测织物上，由于平行的测量线之间的间距相等，所以仅产生一条莫尔条纹，莫尔条纹角度和织物密度是一一对应的关系，不用提前测量织物的大致经纬密度。因此，使用本专利技术的织物密度测量尺，测量结果准确且唯一，实现了本专利技术的目的。另外，当被测织物上存在瑕疵(例如破损)，在测量时，瑕疵处的莫尔条纹会产生变形，这种情况便于同时测出被测织物的瑕疵，以及进一步测出与织物质量相关的瑕疵的分布。
[0019]在生产本测量尺时，可以通过改变其图案的角度和周期，很方便的设计出不同测量精度和测量范围的仪器，适应于不同场景，既可以满足高精度要求的场合，也可以满足广量程的场合。
[0020]上述可选方式所具有的进一步效果，将在下文中结合具体实施方式加以说明。
附图说明
[0021]图1为本专利技术织物密度测量尺一个实施例的示意图。
[0022]图2为被测织物示意图。
[0023]图3为测量线示意图。
[0024]图4为测量线与被测织物叠加后的示意图。
[0025]图5为确定刻度值的原理图。
[0026]图6为测量线与被测织物叠加后的织物密度测量尺的示意图。
[0027]图中标识说明如下：
[0028]101、刻度标记；102、测量线；103、基线；
[0029]201、被测织物条纹。
具体实施方式
[0030]以下结合附图，对本专利技术的技术方案进行详细说明。
[0031]图1显示了本专利技术织物密度测量尺的一个实施例。织物密度测量尺包括透明的基板。在本实施例中，所述基板采用透明的亚克力材质制成，该材质透明度好，成本低，在其上更容易刻画出高精度的线条。在所述基板上设置有基线103，以及以基线103为直径的半圆曲线，在所述半圆曲线边缘上设置有刻度标记101。在所述半圆曲线与基线103所围合的半圆面上设置有测量线102。测量线102为与基线103呈预设夹角的若干平行的线(参考图3)。为了测量的效果更明晰，测量线103采用非透明或弱透明颜色刻画。由于测量线012的密度较大，因此，在图1中不能清晰显示出测量线102之间的间隙，整个测量线103所在的区域呈灰色状态。
[0032]刻度标记101所代表的刻度值表征了被测织物的密度值。刻度标记，或者说刻度值由测量线102与平行于基线103的被测织物的条纹之间形成的莫尔条纹的方向确定。图2至图5辅助说明了确定刻度标记的原理。
[0033]图2显示了被测织物条纹201，图中所示的T1代表被测织物的条纹密度，这里以周期作为条纹密度的度量。所述周期是指被测织物条纹201相邻两线之间的垂直距离，单位为长度单位。
[0034]图3显示了织物密度测量尺上测量线102的具体结构。测量线102为若干平行线，测量线102与基线103之间的夹角为α。测量线102的密度以T2表示。T2同样是以周期作为测量线密度的度量，该周期是指测量线102相邻两线之间的垂直距离，单位为长度单位。测量线102的粗细相等，同时，相邻测量线102之间的间距(即测量线102之间的垂直距离)相等，即T2相等。
[0035]图4显示了织物密度测量尺上的测量线(图4中的若干平行的倾斜线)与被测织物的条纹(图4中若干平行的水平线)叠加后呈现的效果。图4中最下方的水平线是织物密度测量尺的基线103，若干平行的虚线是所述测量线与所述被测织物的条纹叠加后产生的莫尔条纹。由于一对测量线与一对被测织物的条纹所构成的平行四边形中，虚线所在的对角线方向透光面最宽，根据遮光原理，因此虚线方向形成了最为显著的亮纹(即莫尔条纹)。所述莫尔条纹与基线103之间的夹角为β。
[0036]确定刻度标记101的公式如下：
[0037][0038]如图5所示的原理图，被测织物条纹201和测量线102构成了一个平行四边形，该平行四边形已知三个边角条件，可以使用面积法求解T1，具体推导过程如下：
[0039]AB＝T1(cotα+cotβ)
[0040][0041]T1
·
AB＝T2
·
AC
[0042][0043][0044]根据上述确定刻度标记101的公式，利用MATLAB进行模拟，选择适于常见织物密度值范围的织物密度测量尺的测量线102的参数。即测量线102与基线103之间的夹角为20度，在垂直与测量线101的方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.织物密度测量尺，其特征在于：包括透明的基板；在所述基板上设置有基线；在所述基板上还设置有与所述基线呈预设夹角的若干平行的非透明或弱透明的测量线；在所述基板上设置有表征被测织物的密度值的刻度标记，所述刻度标记由所述测量线与平行于所述基线的所述被测织物的条纹之间形成的莫尔条纹的方向确定。2.根据权利要求1所述织物密度测量尺，其特征在于：确定所述刻度标记的公式如下：其中，T1为被测织物的条纹密度，T2为所述测量线的密度，α为所述测量线与所述被测织物的条纹的夹角，β为莫尔条纹与所述被测织物的条纹的夹角。3.根据权利要求1所述织物密度测量尺，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：祝怡然，叶政君，黄泽江，
申请(专利权)人：祝怡然，
类型：发明
国别省市：