【技术实现步骤摘要】
一种NORFlash坏点补偿的方法
本专利技术涉及计算机存储
，尤其涉及一种NORFlash坏点补偿的方法。
技术介绍
NORFlash是一种非易失闪存技术，NORFlash中的N是NOT，含义是FloatingGate中有电荷时，读出‘0’，无电荷时读出‘1’，是一种‘非’的逻辑；OR的含义是同一个BitLine下的各个基本存储单元是并联的，是一种‘或’的逻辑，这就是NOR的由来。NORFlash在产品一般用于存储数据和固件程序。使用过程中，由于NORFlash芯片的工艺缺陷，不能百分百保证所有bit位都是完好的，可能出现电压漂移导致“位翻转(bit错误)”现象，俗称“坏点”，以至于bit不能表达正确表达‘0’或‘1’，存在数据安全性无法保障的缺陷。这种现象将损坏存储于NORFlash的数据，在产品中将导致设备固件运行失败，因此设备的稳定性和寿命将受到很大影响。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的缺陷，提供一种NORFlash坏点补偿的方法。本专利技术解决其技术问...
【技术保护点】
1.一种NOR Flash坏点补偿的方法，其特征在于，包括固件存储步骤、固件加载步骤以及固件纠错步骤；/n其中，所述固件存储步骤包括：/n将NOR Flash空间划分为固件区域、纠错码表区域、映射集合区域和具有多个备份单元的备份区域；/n将所述固件区域划分为多个纠错单元，对多个所述纠错单元下的固件数据进行纠错码计算，获得一组与多个所述纠错单元对应的纠错码表；/n生成有关所述纠错单元与所述备份单元之间的映射关系的空映射集合，并将所述映射集合存储于所述映射集合区域；/n将固件存储于所述固件区域中，将所述纠错码表存储于所述纠错码表区域中；/n所述固件纠错步骤包括：/n完成固件加载...
【技术特征摘要】
1.一种NORFlash坏点补偿的方法，其特征在于，包括固件存储步骤、固件加载步骤以及固件纠错步骤；
其中，所述固件存储步骤包括：
将NORFlash空间划分为固件区域、纠错码表区域、映射集合区域和具有多个备份单元的备份区域；
将所述固件区域划分为多个纠错单元，对多个所述纠错单元下的固件数据进行纠错码计算，获得一组与多个所述纠错单元对应的纠错码表；
生成有关所述纠错单元与所述备份单元之间的映射关系的空映射集合，并将所述映射集合存储于所述映射集合区域；
将固件存储于所述固件区域中，将所述纠错码表存储于所述纠错码表区域中；
所述固件纠错步骤包括：
完成固件加载后，固件纠错开始，加载所述纠错码表；
通过所述纠错码表对固件数据的完整性进行检测，若检测到固件被破坏，则根据所述纠错码表逐个对所述纠错单元的固件数据进行纠正，并对所述纠错单元进行纠正，建立所述纠错单元与所述备份单元的映射关系，填充至所述映射集合中；
将纠正后的固件数据保存于与所述纠错单元具有映射关系的所述备份单元中，并将新的所述映射集合保存于所述映射集合区域中，固件纠正完成。
2.根据权利要求1所述的NORFlash坏点补偿的方法，其特征在于，所述固件加载步骤包括：
加载固件开始，固件从NORFlash中整体加载；
判断所述映射集合中的映射总数是否为零，若否，则根据所述映射集合中的纠错单元与备份单元之间的映射关系，逐个将所述纠错单元中的固件数据替换为所述备份单元中的纠正后的固件数据，完成固件加载；若是，则进行所述固件纠错步骤。
3.根据权利要求2所述的NORFlash坏点补偿的方法，其特征在于，所述固件存储步骤还包括：
将所述纠错码表区域划分为保持同步的第一纠错码表镜像区域和第二纠错码表镜像区域；
将所述映射集合区域划分为保持同步的第一映射集合镜像区域和第二映射集合镜像区域；
所述步骤将所述纠错码表存储于所述纠错码表区域中，包括：
将所述纠错码表分别存储于所述第一纠错码表镜像区域和所述第二纠错码表镜像区域中，以获得第一纠错码表镜像和第二纠错纠错码表镜像；
所述步骤将所述映射集合存储于所述映射集合区域，...
【专利技术属性】
技术研发人员：林嘉顺，谭睿，许文焕，
申请(专利权)人：深圳市民德电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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