闪存设备及闪存控制方法技术

本发明专利技术提供一种闪存设备及闪存控制方法。闪存设备包括：控制器；以及存储单元模块，耦合到控制器，存储单元模块包括多个区块。控制器在闪存设备开卡时选取多个区块的第一区块。控制器使用多个测试数据对第一区块进行坏列判断操作，并建立对应第一区块的坏列参考表，坏列参考表包括第一区块的多个列中的部分坏列的信息。闪存设备在开卡完毕后，当控制器接收对应第一区块的写入命令时，控制器只将对应写入命令的有效数据写入部分坏列以外的多个列。如此可增加闪存存储数据的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
闪存设备及闪存控制方法
本专利技术涉及一种闪存设备及闪存控制方法，尤其涉及一种提高闪存读写稳定性的闪存设备及闪存控制方法。
技术介绍
闪存在生产、运送或者封装过程中有可能产生一些不稳定的列。这些不稳定的列在主控存取数据到闪存时就会增加纠错码(ECC)不可纠错的风险，而降低了闪存读写稳定性。因此，如何提高闪存读写稳定性是本领域技术人员应致力的目标。
技术实现思路
本专利技术提供一种闪存设备及闪存控制方法，提高闪存读写稳定性。本专利技术提出一种闪存设备，包括：控制器；以及存储单元模块，耦合到控制器，存储单元模块包括多个区块。控制器在闪存设备开卡时选取多个区块的第一区块。控制器使用多个测试数据对第一区块进行坏列判断操作，并建立对应第一区块的坏列参考表，坏列参考表包括第一区块的多个列中的部分坏列的信息。闪存设备在开卡完毕后，当控制器接收对应第一区块的写入命令时，控制器只将对应写入命令的有效数据写入部分坏列以外的多个列。本专利技术提出一种闪存控制方法，适用于闪存设备。闪存设备包括控制器及存储单元模块耦合到控制器。存储单本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种闪存设备，其特征在于，包括：/n控制器；以及/n存储单元模块，耦合到所述控制器，所述存储单元模块包括多个区块，其中/n所述控制器在所述闪存设备开卡时选取所述多个区块的第一区块；/n所述控制器使用多个测试数据对所述第一区块进行坏列判断操作，并建立对应所述第一区块的坏列参考表，所述坏列参考表包括所述第一区块的多个列中的部分坏列的信息；以及/n所述闪存设备在开卡完毕后，当所述控制器接收对应所述第一区块的写入命令时，所述控制器只将对应所述写入命令的有效数据写入所述部分坏列以外的所述多个列。/n

【技术特征摘要】
1.一种闪存设备，其特征在于，包括：
控制器；以及
存储单元模块，耦合到所述控制器，所述存储单元模块包括多个区块，其中
所述控制器在所述闪存设备开卡时选取所述多个区块的第一区块；
所述控制器使用多个测试数据对所述第一区块进行坏列判断操作，并建立对应所述第一区块的坏列参考表，所述坏列参考表包括所述第一区块的多个列中的部分坏列的信息；以及
所述闪存设备在开卡完毕后，当所述控制器接收对应所述第一区块的写入命令时，所述控制器只将对应所述写入命令的有效数据写入所述部分坏列以外的所述多个列。


2.根据权利要求1所述的闪存设备，其特征在于，所述坏列判断操作包括：
依序使用所述多个测试数据对所述第一区块进行以下操作：
对所述第一区块进行擦除操作；
无效所述控制器的纠错机制，再用其中一个所述多个测试数据写满所述第一区块；以及
读取所述第一区块以获得读取数据，并累计所述其中一个所述多个测试数据与所述读取数据不同的列的坏列计数；以及
挑选所述第一区块中所述坏列计数大于门坎值的所述部分坏列，来建立所述坏列参考表。


3.根据权利要求1所述的闪存设备，其特征在于，所述多个测试数据各自不同。


4.根据权利要求1所述的闪存设备，其特征在于，所述控制器根据每个所述区块对应的所述坏列参考表建立坏列参考总表。


5.根据权利要求1所述的闪存设备，其特征在于，所述第一区块的多个列的每一个列包括所述第一区块的一或多个页面。


6.一种闪...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭梓杰，
申请(专利权)人：深圳宏芯宇电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44