A control operation model predictive control device and method, the process has the process of input signal and output signal process, which includes the output signal according to the process, determine the process model prediction in the future under the steady state conditions according to the prediction of the output signal and the desired set point signal to determine the difference between the steady-state error signal, and the a future time to provide at least one output process step response to determine a set of input estimates required for steady-state error correction process variable signal according to the current and future to determine a set of future changes in input signal process and any future process input signal changes sum, plus a net change of the input process, the future input changes the signal process is a process for the previous input signal changes as the input signal according to the change process of calculating method. The model is represented as a velocity form. The process adjustment parameter can be used to reduce the net process input variation and the current determined first element corresponding to the process input change calculated according to the steady-state error divided by the steady-state process gain.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种,适于预测被控系统动态模型的将来过程响应,并在考虑这种预测之后计算控制器的输出。特别是使用动态模型的伪逆矩阵(pseudo-inverse)的一合适的列提供一种使最小二乘方法误差最小的过程控制调节器。
技术介绍
本专利技术的控制装置是一种新型的模型预测控制(MPC)控制器。一般而言,MPC技术采用一个过程模型来预测某个被控过程变量的将来状态,然后处理一个或多个过程输入量(控制器输出量)以把预测值与设定点之间的期望误差减至最小。MPC的变化包括模型预测探试控制(MPHC)(Richalet等人,1978年)、模型算法控制(MAC)(Mahra等人,1979年)、动态矩阵控制(DMC)(Cutler与Ramaker),1980年;Prett与Gillete 1979年)和线性动态矩阵控制(LDMC)(Garcia与Morshedi,1986年)。在所有这些方法中,模型是控制算法的本质部分,并用来预测和计算控制器的响应。MPC的基本构思是利用过程的阶跃或脉冲响应矢量来模拟过程。这些模型根据过程输入量预测一个或多个过程输出量,并借助一系列控制输入量的线性最优化算出最佳控制器响应。在现有的方法中,最优化问题是在控制器每一步中实时解决的。这种求最小值的做法通常采用二次规划(QP)和线性二次调节器(LQ)法。现有的MPC技术因有若干问题而限制了它们的应用。MPC大量的公式要求工程师规定许多可调参数来描述所需的闭环响应。精通过程与控制器的专家必须作这类调节,因为即使模型十分符合该过程,若把所需的响应调节得过于准确,有时仍会导致性能不稳定。再者,MPC ...
【技术保护点】
一种用于控制某种设备的电子模型预测控制装置,所述设备具有设备输入信号和依赖于所述设备输入信号的设备输出信号,其特征在于,所述电子模型预测控制装置包括:第一存储器,容纳根据所述设备的脉冲响应矩阵模型之伪逆矩阵导出的数据元素的矢量;第二 存储器,容纳在先前控制循环期间算出的表示将来设备输入信号变化状况的数据;第三存储器,容纳过去设备输入信号变化的矢量;第四存储器,容纳诸数据元素,利用诸数据元素可根据所述过去设备输入信号变化矢量求出因过去设备输入信号变化而造成的将来设 备输出信号的变化;电子处理器,适用于:接收设备输出信号样本;根据在先前控制循环期间算得的表示将来设备输入信号变化的所述数据、所述设备的稳态增益、因过去设备输入信号变化造成的所述将来设备输出信号变化,以及所述设备输出信号样本,计算 期望的将来设备输出信号;根据设定点信号和所述期望的将来设备输出信号计算误差信号;以及根据所述误差信号、由所述伪逆矩阵导出的所述数据元素矢量以及在先前控制循环期间算得的表示将来设备输入信号变化的所述数据,计算设备输入信号变化;其中 ...
【技术特征摘要】
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