共形天线全周期测试方法技术

本发明专利技术涉及天线测试技术领域，公开了一种共形天线全周期测试方法，包括：建立微带共形天线模型；建立初始载体平台模型，将微带共形天线模型设置在初始载体平台模型上得到第一组合模型；针对第一组合模型进行数值计算，根据数值计算结果提取简化的载体平台模型，将微带共形天线模型设置在简化的载体平台模型上得到第二组合模型；针对第二组合模型进行数值计算，获取简化的载体平台在不同塑性形变时微带共形天线模型的电磁特性，得到电磁特性随塑性形变的演变规律；建立共形天线在微波暗箱条件下的近场辐射特性计算模型；对计算模型进行数值计算，获取待评估的共形天线的近场辐射特性，进而得到待评估的共形天线与标准天线之间的传输系数变化。

【技术实现步骤摘要】
共形天线全周期测试方法
本专利技术涉及天线测试
，尤其涉及一种共形天线全周期测试方法。
技术介绍
共形天线是指一种结构上能与载体平台外形紧密贴合的天线形式，对载体平台在运行过程中因气动、结构、温度等引起的振动和外形变化等具有良好的适应性。天线作为一种导行波与自由空间波之间的转换器件，天线测试即通过一定手段提取出可以表征天线电磁特性的物理参数值，诸如工作带宽、驻波比、增益和辐射方向图等。近年来，在共形天线测试领域，相关的理论研究及工程应用仍存在一些问题，主要体现在以下几个方面：无法高效模拟电大载体平台特征；无法评估几何构型形变条件下的共形天线电磁特性变化；以及无法解决共形天线装配到载体平台后的测试问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术不足，提供了一种共形天线全周期测试方法，能够解决上述现有技术中的问题。本专利技术的技术解决方案：一种共形天线全周期测试方法，其中，该方法包括：建立微带共形天线模型；建立初始载体平台模型，并将所述微带共形天线模型设置在所述初始载体平台模型上得到第一组合模本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种共形天线全周期测试方法，其特征在于，该方法包括：/n建立微带共形天线模型；/n建立初始载体平台模型，并将所述微带共形天线模型设置在所述初始载体平台模型上得到第一组合模型；/n针对所述第一组合模型进行数值计算，根据数值计算结果提取简化的载体平台模型，并将所述微带共形天线模型设置在所述简化的载体平台模型上得到第二组合模型；/n针对第二组合模型进行数值计算，获取所述简化的载体平台在不同塑性形变时所述微带共形天线模型的电磁特性，进而得到电磁特性随塑性形变的演变规律；/n建立共形天线在微波暗箱条件下的近场辐射特性计算模型，所述计算模型包括最终简化的载体平台、待评估的共形天线、标准天线和微波暗箱；...

【技术特征摘要】
1.一种共形天线全周期测试方法，其特征在于，该方法包括：
建立微带共形天线模型；
建立初始载体平台模型，并将所述微带共形天线模型设置在所述初始载体平台模型上得到第一组合模型；
针对所述第一组合模型进行数值计算，根据数值计算结果提取简化的载体平台模型，并将所述微带共形天线模型设置在所述简化的载体平台模型上得到第二组合模型；
针对第二组合模型进行数值计算，获取所述简化的载体平台在不同塑性形变时所述微带共形天线模型的电磁特性，进而得到电磁特性随塑性形变的演变规律；
建立共形天线在微波暗箱条件下的近场辐射特性计算模型，所述计算模型包括最终简化的载体平台、待评估的共形天线、标准天线和微波暗箱；
对所述计算模型进行数值计算，获取待评估的共形天线的近场辐射特性，进而得到待评估的共形天线与标准天线之间的传输系数变化。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，针对所述第一组合模型进行数值计算，根据数值计算结果提取简化的载体平台模型包括：
针对所述第一组合...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺小琦，吴春博，梁平野，汪俊，汪昊，李若凡，王少君，吴松，
申请(专利权)人：北京机电工程研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11