一种简易式天线增益及频率的测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开一种简易式天线增益及频率的测试系统，包括第一放置平台、第二放置平台，以及布置于第一放置平台与第二放置平台之间的第一通道；所述第一放置平台与第二放置平台、第一通道一体成型，且其整体横截面呈U型构造；所述第一放置平台与第二放置平台内部中空，且均与第一通道贯通，还包括主控MCU、与主控MCU电性连接的测试天线模块、第一升降机构、被测天线模块，以及用于为整个系统供电的电源模块。本实用新型专利技术采用测试天线模块替代了常规的滑轮配合金属片的测试手段，只需第一升降机构驱动测试天线模块完成一次升降运动，即可精确测得被测天线模块的增益及频率，提高测试效率，且便于布置、成本低、通用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种简易式天线增益及频率的测试系统
本技术涉及天线增益及频率测试
，尤其涉及一种简易式天线增益及频率的测试系统。
技术介绍
目前，常规的对天线增益及频率进行测试的方法，主要是通过在微波暗室内搭设一个滑轨，在滑轨上放置一个金属片，在金属片的前后移动过程中，天线的信号处理板捕捉金属片移动时产生的多普勒频率，从而测试出天线的接收增益或者模块增益。但用此测试方法存在以下不足之处：1)由于金属片移动受电机精度的影响，导致金属片在移动过程中难免会发生抖动的现象，而抖动所造成的后果就是在金属片移动过程中RCS(雷达散射截面)并不是一个固定不变的值，进而影响测试结果，导致测得的结果的可信度不高；2)测试方法需要在微波暗室内进行，受场地、测试时间等限制，通用性不高。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种简易式天线增益及频率的测试系统，该系统采用测试天线模块替代了常规的滑轮配合金属片的测试手段，只需第一升降机构驱动测试天线模块完成一次升降运动，即可精确测得被测天线模块的增益及频率，提高测试效率，且对测试的环境不做限制，便于布置、成本低、通用性强。为实现上述目的，采用以下技术方案：一种简易式天线增益及频率的测试系统，包括第一放置平台、第二放置平台，以及布置于第一放置平台与第二放置平台之间的第一通道；所述第一放置平台与第二放置平台、第一通道一体成型，且其整体横截面呈U型构造；所述第一放置平台与第二放置平台内部中空，且均与第一通道贯通，还包括主控MCU、与主控MCU电性连接的测试天线模块、第一升降机构、被测天线模块，以及用于为整个系统供电的电源模块；所述被测天线模块固定布置于第一放置平台顶部，第一升降机构固定安装于第二放置平台的顶部；所述第一升降机构还驱动连接一夹紧固定机构，测试天线模块布置于夹紧固定机构上；所述主控MCU用于经第一升降机构控制测试天线模块升降，进而经测试天线模块测试被测天线模块的增益及频率。进一步地，所述测试天线模块包括与主控MCU电性连接的射频模块，以及连接于主控MCU与射频模块之间的切换模块、混频器和分频器。进一步地，所述射频模块包括射频芯片，以及与射频芯片连接的发射天线和接收天线。进一步地，所述第一放置平台和第二放置平台内部还均设有一反射金属板。进一步地，所述简易式天线增益及频率的测试系统还包括与主控MCU电性连接的显示模块。进一步地，所述被测天线模块包括天线本体，以及与天线本体连接的信号处理板。进一步地，所述主控MCU的芯片型号为GD32F350。采用上述方案，本技术的有益效果是：该系统采用测试天线模块替代了常规的滑轮配合金属片的测试手段，只需第一升降机构驱动测试天线模块完成一次升降运动，即可精确测得被测天线模块的增益及频率，提高测试效率，且对测试的环境不做限制，便于布置、成本低、通用性强。附图说明图1为本技术的原理性框图；图2为本技术的第一放置平台、第二放置平台、第一通道的结构示意图；图3为本技术的混频器的电路图；其中，附图标识说明：1—第一放置平台；2—第二放置平台；3—第一通道；4—主控MCU；5—测试天线模块；6—第一升降机构；7—被测天线模块；8—电源模块；9—反射金属板；10—显示模块；51—射频模块；52—切换模块；53—混频器；54—分频器；511—射频芯片；512—发射天线；513—接收天线。具体实施方式以下结合附图和具体实施例，对本技术进行详细说明。参照图1至3所示，本技术提供一种简易式天线增益及频率的测试系统，包括第一放置平台1、第二放置平台2，以及布置于第一放置平台1与第二放置平台2之间的第一通道3；所述第一放置平台1与第二放置平台2、第一通道3一体成型，且其整体横截面呈U型构造；所述第一放置平台1与第二放置平台2内部中空，且均与第一通道3贯通，还包括主控MCU4、与主控MCU4电性连接的测试天线模块5、第一升降机构6、被测天线模块7，以及用于为整个系统供电的电源模块8；所述被测天线模块7固定布置于第一放置平台1顶部，第一升降机构6固定安装于第二放置平台2的顶部；所述第一升降机构6还驱动连接一夹紧固定机构，测试天线模块5布置于夹紧固定机构上；所述主控MCU4用于经第一升降机构6控制测试天线模块5升降，进而经测试天线模块5测试被测天线模块7的增益及频率。其中，所述测试天线模块5包括与主控MCU4电性连接的射频模块51，以及连接于主控MCU4与射频模块51之间的切换模块52、混频器53和分频器54；所述射频模块51包括射频芯片511，以及与射频芯片511连接的发射天线512和接收天线513；所述第一放置平台1和第二放置平台2内部还均设有一反射金属板9；所述简易式天线增益及频率的测试系统还包括与主控MCU4电性连接的显示模块10；所述被测天线模块7包括天线本体，以及与天线本体连接的信号处理板；所述主控MCU4的芯片型号为GD32F350。本技术工作原理：本实施例中，第一升降机构6可为直线电机模组、升降气缸模组或其他可实现驱动测试天线模块5升降的升降机构，对此不做限制；夹紧固定机构与第一升降机构6驱动连接，夹紧固定机构可包括与第一升降机构6驱动连接的安装架(采用非导电材料制成)、布置于安装架上的夹具，测试天线模块5布置于夹具内，可将测试天线模块5夹紧固定，避免其随意晃动；本实施例中，测试天线模块5的升降高度为12mm，且第一升降平台和第二升降平台内部均设有一反射金属板9，两反射金属板9倾斜布置，可保证被测天线模块7和测试天线模块5能够最大程度的接收到对方发射的电磁波，进而提高测试精度；测试天线模块5可以测试被测天线模块7的频率，频率范围为23.7GHz-25.0GHz，同时，测试天线模块5还可以测试被测天线模块7接收灵敏度或增益，其可产生0MHz-12.5MHz的低频正弦波信号，再通过与24GHz的混频器53得到一个固定频率的多普勒信号，进而实现增益的测试；显示模块10可为LCD液晶显示屏，可以显示测试的结果(频率或增益数值)，便于查看；切换模块52可以切换测试天线模块5的工作模式，即接收被测天线模块7发射的信号(测频率)或者向被测天线模块7发射多普勒信号(测增益)；被测天线模块7可以是一个带有天线本体和具有信号处理功能的整体模块，也可以仅仅是不同的天线本体配上同一个信号处理板，进而间接的测试天线本体的增益。具体的工作过程如下：1)将被测天线模块7固定布置于第一放置平台1的顶部，将测试天线模块5固定安装于夹紧固定机构上并固定；2)主控MCU4检测到被测天线模块7已经固定后，经电源模块8给被测天线模块7供电；3)主控MCU4通过串口向被测天线模块7发送进入调试的命令，被测天线模块7通过串口回应确认测试，测试开始；4)首先测试被测天线模块7所发射的信号频率是否在合格本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种简易式天线增益及频率的测试系统，包括第一放置平台、第二放置平台，以及布置于第一放置平台与第二放置平台之间的第一通道；所述第一放置平台与第二放置平台、第一通道一体成型，且其整体横截面呈U型构造；所述第一放置平台与第二放置平台内部中空，且均与第一通道贯通，其特征在于，还包括主控MCU、与主控MCU电性连接的测试天线模块、第一升降机构、被测天线模块，以及用于为整个系统供电的电源模块；所述被测天线模块固定布置于第一放置平台顶部，第一升降机构固定安装于第二放置平台的顶部；所述第一升降机构还驱动连接一夹紧固定机构，测试天线模块布置于夹紧固定机构上；所述主控MCU用于经第一升降机构控制测试天线模块升降，进而经测试天线模块测试被测天线模块的增益及频率。/n

【技术特征摘要】
1.一种简易式天线增益及频率的测试系统，包括第一放置平台、第二放置平台，以及布置于第一放置平台与第二放置平台之间的第一通道；所述第一放置平台与第二放置平台、第一通道一体成型，且其整体横截面呈U型构造；所述第一放置平台与第二放置平台内部中空，且均与第一通道贯通，其特征在于，还包括主控MCU、与主控MCU电性连接的测试天线模块、第一升降机构、被测天线模块，以及用于为整个系统供电的电源模块；所述被测天线模块固定布置于第一放置平台顶部，第一升降机构固定安装于第二放置平台的顶部；所述第一升降机构还驱动连接一夹紧固定机构，测试天线模块布置于夹紧固定机构上；所述主控MCU用于经第一升降机构控制测试天线模块升降，进而经测试天线模块测试被测天线模块的增益及频率。


2.根据权利要求1所述的简易式天线增益及频率的测试系统，其特征在于，所述测试天线模块包括与主控MCU电性连接的射频模块，以及连接于主...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪盛国，符策勇，黄武文，
申请(专利权)人：深圳市佺盛科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44