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本发明涉及天线测试技术领域，公开了一种共形天线全周期测试方法，包括：建立微带共形天线模型；建立初始载体平台模型，将微带共形天线模型设置在初始载体平台模型上得到第一组合模型；针对第一组合模型进行数值计算，根据数值计算结果提取简化的载体平台模型...
该专利属于北京机电工程研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京机电工程研究所授权不得商用。

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