一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备制造技术

本发明专利技术涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备。该设备包括：第一工控机控制第一机械手臂抓取全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机中的器件测试盘，放置在传送轨道上，由传送轨道传送至全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机；第二工控器控制第二机械手臂抓取传送轨道上的器件测试盘，放置在全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机的自动测试柜中测试器件测试盘的待测试器件；测试完毕后，第二工控机和第二机械手机取出自动测试柜的几千测试盘，放置在常熟轨道上，由传送轨道传送至全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，由第三控制器和第三机械手将器件测试盘内的测试器件取出分类。本发明专利技术能够提高测试效率，减免人工成本。

【技术实现步骤摘要】
一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备
本专利技术涉及芯片老化测试及PCB屏蔽测试领域，特别是涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备。
技术介绍
芯片老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法。老化过程基本上模拟运行了芯片整个寿命，因为老化过程中应用的电激励反映了芯片工作的最坏情况。根据不同的老化时间，所得资料的可靠性可能涉及到的器件的早期寿命或磨损程度。老化测试可以用来作为器件可靠性的检测或作为生产窗口来发现器件的早期故障。芯片复杂度越来越高，为了保证出厂的芯片没有问题，需要在出厂前进行测试以确保功能完整性等。而芯片作为一个大规模生产的东西，大规模自动化测试是唯一的解决办法。磁干扰/EMI是整个电子领域必须面临和克服的一个问题，一般在无线通讯产品比如:手机、无线网卡、无线路由器、无线耳机、蓝牙耳机、wi-fi、wimax、数据卡、对讲机、RFID等等无线通讯类设备和无线通讯类模块等在进行板测、终测过程中，都是通过使用射频测试屏蔽箱来改善测试环境的。屏蔽箱又名屏蔽盒、隔离箱。是利用导电或者导磁材料制成的各种形状的屏蔽体，将电磁能力限制在一定空间范围内，用于抑制辐射干扰的金属体。并对传导和辐射进行处理，以实现给被测无线通讯设备提供无干扰的测试环境的设备。主要服务于各种从事无线电子产品、无线通讯产品生产及研发的企业，以及各类电子、电器消费类产品生产企业等。随着行业的发展，人工进行屏蔽测试的行为终将被自动化设备所替代。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备，以解决靠人工测试效率低，且人力成本高的问题。为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备，包括：全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机；工控器分别与所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机相连接；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机通过传送轨道依次连接；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机具有第一机械手臂以及第一工控机；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机具有第二机械手臂以及第二工控机；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机具有第三机械手臂以及第三工控机；所述第一工控机、所述第二工控机以及所述第三工控机相连接；所述第一工控机控制所述第一机械手臂抓取所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机中的器件测试盘，放置在所述传送轨道上，由所述传送轨道传送至所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机；所述第二工控器控制所述第二机械手臂抓取所述传送轨道上的所述器件测试盘，放置在所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机的自动测试柜中测试所述器件测试盘的待测试器件；测试完毕后，所述第三工控器控制所述第三机械手臂抓取所述自动测试柜中的所述器件测试盘，放置在所述传送轨道上，由所述传送轨道传送至所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机。可选的，所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机，具体包括：器件自动上料机、器件测试盘上料机、第一扫码器以及所述第一机械手臂；所述器件自动上料机包括第一进盘仓、第一出盘仓以及器件取料区；所述第一进盘仓设于所述第一出盘仓以及所述器件取料区之间；所述第一进盘仓用于放置待测试的盘装器件；所述第一出盘仓用于存储抓取完待测试器件的空料盘；所述器件取料区为供所述第一机械手臂抓取所述待测试器件的区域；所述器件自动上料机用于将所述第一进盘仓的满载所述待测试器件的料盘运送至所述器件取料区，由所述第一机械手臂将所述待测试器件放置于所述器件测试盘上料机中的所述器件测试盘内，并将空料盘运送至所述第一出盘仓内；所述第一扫码器设于所述第一机械手臂上；所述第一扫码器用于扫描所述器件测试盘上的二维码；所述二维码内置有器件测试信息；所述器件测试盘上料机用于通过丝杆传动，将所述器件测试盘搬运至所述传送轨道。可选的，所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，具体包括：机器钣金、自动测试柜、第二机械手臂、传送轨道以及第二扫码器；所述自动测试柜设于所述机器钣金内部；所述自动测试柜上设有多个测试单元格；所述测试单元格用于测试所述器件测试盘内的待测试器件；所述器件为芯片或PCB模块等；所述机器钣金上设有高台，所述第二机械手臂的X轴水平移动机构固定于所述高台上；所述第二机械手臂用于抓取所述器件测试盘，并将所述器件测试盘置于所述测试单元格，以及取出所述测试单元格内的所述器件测试盘；所述传送轨道设于所述机器钣金上，所述传送轨道与所述高台在同一垂直方向上平行相对设置；所述传送轨道用于传输所述器件测试盘；所述第二扫码器设于所述机器钣金上且设于所述传送轨道的进料端的上方；所述第二扫码器用于扫描所述器件测试盘上的二维码，并将所述二维码上的所述芯片测试信息上传至所述第二工控器；所述第二工控器还分别与每个所述测试单元格、所述第二机械手臂以及所述传送轨道相连接；所述第二工控器用于根据所述器件测试信息，控制所述第二机械手臂将所述器件测试盘从所述传送轨道搬运至所述测试单元格。可选的，所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，具体包括：器件自动下料机、器件测试盘出料机、第三扫码器以及所述第三机械手臂；所述器件测试盘出料机用于通过丝杆传动，将所述器件测试盘从所述传送轨道搬运至所述器件自动下料机；所述器件自动下料机包括第二进盘仓、第二出盘仓以及器件放料区；所述第二进盘仓设于所述第二出盘仓以及所述器件放料区之间；所述器件放料区包括良品盘、第一不良品盘、第二不良品盘以及第三不良品盘；所述第二进盘仓用于存储测试完成的器件的空料盘；所述第二出盘仓用于存储满载测试完成的器件的料盘；器件放料区为供所述第三机械手臂抓取所述器件测试盘内测试完成的器件的区域；所述器件自动下料机用于将所述第二进盘仓的空料盘运送到器件放料区，由所述第三机械手臂将所述测试完成的器件放置于所述器件放料区中的所述空料盘内，并将满载所述测试完成的器件的料盘运送到所述第二出盘仓；所述第三扫码器设于所述第三机械手臂上；所述第三扫码器用于扫描所述器件测试盘上的二维码，并将所述二维码内置的所述器件测试信息发送至所述第三工控器；所述第三工控器根据所述器件测试信息确定所述器件测试盘内待测试器件的测试结果，并根据所述器件的测试结果控制所述第三机械手臂对所述测试完成的器件分类别放置于所述器件放料区中的空料盘内。可选的，所述器件测试盘上设有多个测试座；一个所述测试座内嵌一个所述待测试器件；每个所述测试座的内部设有器件测试对接点；所述器件测试盘的外部设有接头；所述器件测试对接点与所述接头相连通；所述器件测试对接点用于连接所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备，其特征在于，包括：全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机；/n工控器分别与所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机相连接；/n所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机通过传送轨道依次连接；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机具有第一机械手臂以及第一工控机；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机具有第二机械手臂以及第二工控机；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机具有第三机械手臂以及第三工控机；所述第一工控机、所述第二工控机以及所述第三工控机相连接；/n所述第一工控机控制所述第一机械手臂抓取所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机中的器件测试盘，放置在所述传送轨道上，由所述传送轨道传送至所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机；所述第二工控器控制所述第二机械手臂抓取所述传送轨道上的所述器件测试盘，放置在所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机的自动测试柜中测试所述器件测试盘的待测试器件；测试完毕后，所述第三工控器控制所述第三机械手臂抓取所述自动测试柜中的所述器件测试盘，放置在所述传送轨道上，由所述传送轨道传送至所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机。/n...

【技术特征摘要】
1.一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备，其特征在于，包括：全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机；
工控器分别与所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机相连接；
所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机通过传送轨道依次连接；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机具有第一机械手臂以及第一工控机；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机具有第二机械手臂以及第二工控机；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机具有第三机械手臂以及第三工控机；所述第一工控机、所述第二工控机以及所述第三工控机相连接；
所述第一工控机控制所述第一机械手臂抓取所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机中的器件测试盘，放置在所述传送轨道上，由所述传送轨道传送至所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机；所述第二工控器控制所述第二机械手臂抓取所述传送轨道上的所述器件测试盘，放置在所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机的自动测试柜中测试所述器件测试盘的待测试器件；测试完毕后，所述第三工控器控制所述第三机械手臂抓取所述自动测试柜中的所述器件测试盘，放置在所述传送轨道上，由所述传送轨道传送至所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机。


2.根据权利要求1所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备，其特征在于，所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机，具体包括：器件自动上料机、器件测试盘上料机、第一扫码器以及所述第一机械手臂；
所述器件自动上料机包括第一进盘仓、第一出盘仓以及器件取料区；所述第一进盘仓设于所述第一出盘仓以及所述器件取料区之间；所述第一进盘仓用于放置待测试的盘装器件；所述第一出盘仓用于存储抓取完待测试器件的空料盘；所述器件取料区为供所述第一机械手臂抓取所述待测试器件的区域；所述器件自动上料机用于将所述第一进盘仓的满载所述待测试器件的料盘运送至所述器件取料区，由所述第一机械手臂将所述待测试器件放置于所述器件测试盘上料机中的所述器件测试盘内，并将空料盘运送至所述第一出盘仓内；
所述第一扫码器设于所述第一机械手臂上；所述第一扫码器用于扫描所述器件测试盘上的二维码；所述二维码内置有器件测试信息；
所述器件测试盘上料机用于通过丝杆传动，将所述器件测试盘搬运至所述传送轨道。


3.根据权利要求2所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备，其特征在于，所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，具体包括：机器钣金、自动测试柜、第二机械手臂、传送轨道以及第二扫码器；
所述自动测试柜设于所述机器钣金内部；所述自动测试柜上设有多个测试单元格；所述测试单元格用于测试所述器件测试盘内的待测试器件；
所述机器钣金上设有高台，所述第二机械手臂的X轴水平移动机构固定于所述高台上；所述第二机械手臂用于抓取所述器件测试盘，并将所述器件测试盘置于所述测试单元格，以及取出所述测试单元格内的所述器件测试盘；
所述传送轨道设于所述机器钣金上，所述传送轨道与所述高台在同一垂直方向上平行相对设置；所述传送轨道用于传输所述器件测试盘；
所述第二扫码器设于所述机器钣金上且设于所述传送轨道的进料端的上方；所述第二扫码器用于扫描所述器件测试盘上的二维码，并将所述二维码上的所述器件测试信息上传至所述第二工控器；
所述第二工控器还分别与每个所述测试单元格、所述第二机械手臂以及所述传送轨道相连接；所述第二工控器用于根据所述器件测试信息，控制所述第二机械手臂将所述器件测试盘从所述传送轨道搬运至所述测试单元格。


4.根据权利要求3所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备，其特征在于，所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，具体包括：器件自动下料机、器件测试盘出料机、第三扫码器以及所述第三机械手臂；
所述器件测试盘出料机用于通过丝...

【专利技术属性】
技术研发人员：周光杰，余振涛，
申请(专利权)人：群沃电子科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32