取料方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种取料方法及装置，该取料方法包括：获取承载机构的承载工件信息以及取料机构的取料信息；其中，承载工件信息包括承载工件的位置信息和数量信息，取料信息包括取料机构的启用信息；根据承载工件信息和取料信息对工件和取料机构进行匹配，获取匹配信息；根据匹配信息进行取料。可以有效避免承载机构上的工位未放置工件、承载机构上的工位损坏、取料结构中的取料单元损坏以及取料机构中的取料单元未被启用等因素引起的测试设备宕机，从而减少了因取料机构和承载工件造成的设备宕机问题，提高了测试设备的可靠性和作业效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
取料方法及装置


[0001]本专利技术实施例涉及测试的
，尤其涉及一种取料方法及装置。

技术介绍

[0002]在芯片封装的测试过程中，需要将放置在tray盘中的芯片拾取并放置到测试机的测试型腔中，实现取料过程，才能将芯片的引脚连接到测试机的电路系统中并开始测试。
[0003]随着芯片封装测试领域自动化程序的不断提高，需要保证取料的效率。目前绝大多数的自动取料机构为多个吸嘴按相等行列间距以矩阵的形式排列，取料方法为从tray盘的起点按固定的次序，每次一组依次吸取，之后直接或间接的方式把产品放到和吸嘴一一对应的测试型腔中，因吸嘴和测试型腔结构上为多个一组的形式，从而可以提高取料的效率。而实际生产中，大多数时候会出现吸嘴和测试型腔结构组合中的某一个结构异常，为了不影响生产，常常需要定期维护设备，或者在设备的程序中增加产量计数，当计数值超过设定值后报警提示人工更换。但是无论哪种措施都无法规避生产过程中因吸嘴和测试型腔问题造成的测试设备宕机问题，并且吸嘴和型腔的组合数量越多，测试设备宕机的概率就越高，导致测试设备的可靠性低，同时降低了测试设备的作业效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种取料方法及装置，可以提高测试设备的可靠性和作业效率。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种取料方法，包括：
[0006]获取承载机构的承载工件信息以及取料机构的取料信息；其中，承载工件信息包括承载工件的位置信息和数量信息，取料信息包括取料机构的启用信息；
[0007]根据承载工件信息和取料信息对工件和取料机构进行匹配，获取匹配信息；
[0008]根据匹配信息进行取料。
[0009]可选地，获取承载机构的承载工件信息以及取料机构的取料信息，包括：
[0010]获取承载机构上每一工位的坐标信息和工件信息；其中，承载机构包括阵列排布的多个工位，工件信息包括工位上是否放置有工件的信息；
[0011]获取取料机构上每个取料单元的编号和启用状况；其中，取料机构的取料单元呈阵列排布。
[0012]可选地，根据承载工件信息和取料信息对工件和取料机构进行匹配，获取匹配信息，包括：
[0013]根据每一工位的坐标信息和工件信息以及取料单元的编号和启用状况采用穷举算法对工件和取料机构进行最优匹配，获取匹配信息。
[0014]可选地，根据每一工位的坐标信息和工件信息以及取料单元的编号和启用状况采用穷举算法对工件和取料机构进行最优匹配，获取匹配信息，包括：
[0015]a)、初始化取料单元和工位匹配的单次个数；
[0016]b)、根据预设顺序移动取料单元，使取料单元依次与工位相对设置；初始化取料单
元和工位匹配的最优个数为零；
[0017]c)、若取料单元启用，且与其对应的工位的工件信息为有效信息时，则取料单元和与其对应的工位匹配成功，取料单元和工位匹配的单次个数加1；同时记录取料单元的编号和与其对应的工位的坐标信息；其中，工件信息的有效信息表征工位放置有工件；
[0018]d)、若取料单元和工位匹配的单次个数大于取料单元和工位匹配的最优个数，则更新最优个数为单次个数；
[0019]e)、获取取料单元和工位匹配最优个数时匹配的取料单元编号和对应的工位坐标信息。
[0020]可选地，根据匹配信息进行取料，包括：
[0021]根据取料单元和工位匹配最优个数时匹配的取料单元编号和对应的工位坐标信息进行取料。
[0022]可选地，在更新最优个数为单次个数之后，还包括：
[0023]若取料单元和工位匹配的单次个数与取料单元的启用个数相等，则更新最优个数为当前单次个数。
[0024]可选地，在初始化取料单元和工位匹配的单次个数和最优个数为零之前，还包括：
[0025]设置取料单元的最大行间距、最小行间距、最大列间距和最小列间距；
[0026]则根据预设顺序移动取料单元，使取料单元依次与工位相对设置，包括：
[0027]根据取料单元的最小行间距和最小列间距按预设顺序移动取料单元，使取料单元依次与工位相对设置。
[0028]可选地，在根据取料单元和工位匹配最优个数时匹配的取料单元编号和对应的工位坐标信息进行取料之后，还包括：
[0029]根据取料单元和工位匹配最优个数时匹配的取料单元编号和对应的工位坐标信息判断承载机构上的所有工位是否被检索匹配；
[0030]若承载机构上的所有工位未被检索匹配，则重复步骤b)-e)；若承载机构上的所有工位被检索匹配，则增加取料单元的行间距，重复步骤a)-e)；
[0031]若取料单元的行间距等于最大行间距时，则增加取料单元的列间距，重复步骤a)-e)，直至取料单元的列间距等于最大列间距。
[0032]可选地，在获取承载机构上每一工位的坐标信息和工件信息之后，还包括：
[0033]若取料单元启用，且工件信息为有效信息，取料单元和与其对应的工位匹配失败时，则进行报警。
[0034]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种取料装置，包括：
[0035]信息获取模块，用于获取承载机构的承载工件信息以及取料机构的取料信息；其中，承载工件信息包括承载工件的位置信息和数量信息，取料信息包括取料机构的启用信息；
[0036]匹配模块，用于根据承载工件信息和取料信息对工件和取料机构进行匹配，获取匹配信息；
[0037]取料模块，用于根据匹配信息进行取料。
[0038]本实施例的技术方案，通过获取承载机构的承载工件信息以及取料机构的取料信息，并根据承载工件信息和取料信息对工件和取料机构进行匹配，匹配成功后，依据成功匹
配的信息确定取料机构中匹配成功的取料单元吸取与其匹配成功的工位上工件，实现取料机构的取料。可以在测试设备中出现承载机构上的工位未放置工件、承载机构上的工位损坏、取料结构中的取料单元损坏以及取料机构中的取料单元未被启用等情况下取料机构根据匹配信息继续进行取料，减少了承载机构上的工位未放置工件、承载机构上的工位损坏、取料结构中的取料单元损坏以及取料机构中的取料单元未被启用等因素引起的测试设备宕机，提高了测试设备的可靠性和作业效率。
附图说明
[0039]图1为本专利技术实施例提供的一种取料方法的流程图；
[0040]图2为本专利技术实施例提供的一种承载机构结构示意图；
[0041]图3为本专利技术实施例提供的一种取料机构取料示意图；
[0042]图4为本专利技术实施例提供的另一种取料方法的流程示意图；
[0043]图5为本专利技术实施例提供的另一种取料方法的流程示意图；
[0044]图6为本专利技术实施例提供的一种取料装置的结构示意图。
具体实施方式
[0045]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种取料方法，其特征在于，包括：获取承载机构的承载工件信息以及取料机构的取料信息；其中，所述承载工件信息包括承载工件的位置信息和数量信息，所述取料信息包括所述取料机构的启用信息；根据所述承载工件信息和所述取料信息对所述工件和所述取料机构进行匹配，获取匹配信息；根据所述匹配信息进行取料。2.根据权利要求1所述的取料方法，其特征在于，获取承载机构的承载工件信息以及取料机构的取料信息，包括：获取承载机构上每一工位的坐标信息和工件信息；其中，所述承载机构包括阵列排布的多个工位，所述工件信息包括所述工位上是否放置有工件的信息；获取取料机构上每个取料单元的编号和启用状况；其中，所述取料机构的取料单元呈阵列排布。3.根据权利要求2所述的取料方法，其特征在于，根据所述承载工件信息和所述取料信息对所述工件和所述取料机构进行匹配，获取匹配信息，包括：根据每一所述工位的坐标信息和工件信息以及所述取料单元的编号和启用状况采用穷举算法对所述工件和所述取料机构进行最优匹配，获取匹配信息。4.根据权利要求3所述的取料方法，其特征在于，根据每一所述工位的坐标信息和工件信息以及所述取料单元的编号和启用状况采用穷举算法对所述工件和所述取料机构进行最优匹配，获取匹配信息，包括：a)、初始化所述取料单元和所述工位匹配的单次个数；b)、根据预设顺序移动所述取料单元，使所述取料单元依次与所述工位相对设置；初始化所述取料单元和所述工位匹配的最优个数为零；c)、若所述取料单元启用，且与其对应的所述工位的工件信息为有效信息时，则所述取料单元和与其对应的所述工位匹配成功，所述取料单元和所述工位匹配的单次个数加1；同时记录所述取料单元的编号和与其对应的所述工位的坐标信息；其中，所述工件信息的有效信息表征所述工位放置有工件；d)、若所述取料单元和所述工位匹配的单次个数大于所述取料单元和所述工位匹配的最优个数，则更新所述最优个数为所述单次个数；e)、获取所述取料单元和所述工位匹配最优个数时匹配的取料单元编号和对应的工位坐标信息。5.根据权利要求4所述的取料方法，其特征在于，根据所述匹配信息进行取料，包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏冲，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：