一种集成电路的老化补偿方法、集成电路技术

本发明专利技术实施例公开一种集成电路的老化补偿方法、集成电路，涉及集成电路技术领域，能够在不显著增大集成电路设计面积和功耗的条件下，有效改善集成电路老化后的性能。所述方法包括：检测在预设输入信号下，流经目标电路的最大电流；比较所述最大电流与预先设置的参考电流是否一致；在比较结果不一致的情况下，增加集成电路的目标电压，所述目标电压包括所述集成电路的供电电压和/或所述集成电路的衬底正向偏置电压。本发明专利技术适用于集成电路设计中。本发明专利技术适用于集成电路设计中。本发明专利技术适用于集成电路设计中。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路的老化补偿方法、集成电路


[0001]本专利技术涉及集成电路
，尤其涉及一种集成电路的老化补偿方法、集成电路。

技术介绍

[0002]芯片在长年运行中会受到各种器件老龄化现象的影响，导致器件电流生成能力的减弱。进而影响芯片的正常工作性能。
[0003]为了解决长时间工作后，芯片性能下降的问题，一般采取过度设计的方法来保证芯片在老龄化之后仍然能够保持较高的性能。然而芯片的过度设计会浪费大量的面积并消耗额外的功耗。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种集成电路的老化补偿方法、集成电路，能够在不显著增大集成电路设计面积和功耗的条件下，有效改善集成电路老化后的性能。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种集成电路的老化补偿方法，包括：
[0006]检测在预设输入信号下，流经目标电路的最大电流；
[0007]比较所述最大电流与预先设置的参考电流是否一致；
[0008]在比较结果不一致的情况下，增加集成电路的目标电压，所述目标电压包括所述集成电路的供电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路的老化补偿方法，其特征在于，包括：检测在预设输入信号下，流经目标电路的最大电流；比较所述最大电流与预先设置的参考电流是否一致；在比较结果不一致的情况下，增加集成电路的目标电压，所述目标电压包括所述集成电路的供电电压和/或所述集成电路的衬底正向偏置电压。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标电路包括所述集成电路的上拉节点与供电电源之间的电路或者所述集成电路的下拉节点与地之间的电路。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述比较所述最大电流与预先设置的参考电流是否一致包括：根据所述最大电流的大小，将所述最大电流转化成第一脉宽信号；将所述第一脉宽信号与所述参考电流对应的第二脉宽信号进行逻辑运算；根据所述逻辑运算的运算结果，确定所述最大电流与预先设置的参考电流是否一致。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在比较结果不一致的情况下，增加集成电路的目标电压之后，所述方法还包括：继续检测所述最大电流并比较所述最大电流与所述参考电流的一致性，直至所述最大电流与所述参考电流一致为止，或直到所述目标电压达到预设电压阈值为止。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述比较所述最大电流与预先设置的参考电流是否一致之后，所述在比较结果不一致的情况下，增加集成电路的目标电压之前，所述方法还包括：确定所述目标电压是否小于预设电压阈值；所述在比较结果不一致的情况下，增加集成电路的目标电压包括：若所述目标电压小于所述预设电压阈值，则在所述比较结果不一致的情况下，增加集成电路的目标电压。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测在预设输入信号下，流经目标电路的最大电流之前，所述方法还包括：测量所述集成电路出厂时，所述目标电路在所述预设输入信号下对应的最大电流，得到所述参考电流；根据所述参考电流的大小，将所述参考电流转化成第二脉宽信号；将所述第二脉宽信号保存在所述集成电路中；所述检测在预设输入信号下，流经目标电路的最大电流包括：间隔预设时长，检测一次在所述预设输入信号下，流经所述目标电路的最大电流。7....

【专利技术属性】
技术研发人员：南海卿，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：