广角摄像模组的测试方法及其测试系统技术方案

本发明专利技术提供一种广角摄像模组的测试方法及其测试系统，所述测试方法包括，获取测试标板的标板图像，测试标板上包括一光心测试标识点和一畸变标定标识点，其中在采集所述标板图像时，该中心点对应于所述广角摄像模组的感光芯片的中心，其中所述反畸变标识点的图案样式为规则形状基于预设视场角下的畸变值进行畸变获得；识别出所述标板图像中的至少一组所述反畸变标识点；获得至少一组所述光心测试识点的中心坐标；基于至少一组所述光心测试标识点的中心坐标，确定所述广角摄像模组的光心坐标；获得至少一组所述畸变标定标识点的变形值；以及基于至少一组所述畸变标定标识点的变形值，获得对应的所述广角摄像模组的畸变系数。数。数。

【技术实现步骤摘要】
广角摄像模组的测试方法及其测试系统


[0001]本专利技术涉及摄像模组领域，更进一步地涉及一种广角摄像模组的测试方法及其测试系统。

技术介绍

[0002]近年来，随着科技的发展，光电子器件快速发展，相机技术有了极大的发展，并且得到了广泛的应用。随着对于拍照需求的演变，人们已经不再仅仅满足于普通的拍照功能，很多消费者更倾向于拍摄具有较大场景的照片，比如高大的建筑和风景等。这样题材的照片使用景深较深、视场角较大的广角摄像模组能够满足。然而，虽然广角摄像模组的拍摄的视角较大、得到的图像的信息量较多，但是存在所拍摄的图像的畸变较大的缺点。并且，由于畸变较大的缺点导致摄像模组的光心测试的误差较大，影响摄像模组光心测试的精度。
[0003]需要指出的是，在传统广角摄像模组的光心(光心也即摄像模组的光学中心)测试过程中通常采用mark法、全曝光法以及拟合圆法，采用全曝光法和拟合圆法两种测试方法对广角摄像模组进行测试的缺陷是成本较高，综合效益较低。而采用传统的mark法，虽然成本较低，但是由于广角摄像模组所获取的图像的畸变而导致光心测试精度较低，不适用于高精度摄像模组的测试。
[0004]还需要指出的是，在传统广角摄像模组的生产测试过程中，广角摄像模组的光心测试和畸变标定是在不同的装置和工位完成的，在进行光心测试时需要平面光源或积分球或全曝光光源，而进行畸变标定是又需要另外的装置和操作人员进行，测试过程不仅繁琐，而且会消耗大量的人力物力，测试成本较高，而且测试效率较低。
[0005]综上所述，需要对广角摄像模组的光心测试和畸变标定的方法进行改进。

技术实现思路

[0006]本专利技术的一个目的在于提供一摄像模组的测试方法及其测试系统，其能够同时对摄像模组进行光心测试和畸变标定，测试成本较低。
[0007]本专利技术的另一个目的在于提供一摄像模组的测试方法及其测试系统，其能够同时对摄像模组进行光心测试和畸变标定，测试效率较高。
[0008]本专利技术的另一个目的在于提供一摄像模组的测试方法及其测试系统，其对测试标板上的反畸变图案进行反畸变处理，以供提高标板图像中反畸变图案的规则程度，光心测试精度较高。
[0009]本专利技术的另一个目的在于提供一摄像模组的测试方法及其测试系统，其能够基于标板图像上的反畸变图案的变形值测得摄像模组的畸变系数，对摄像模组进行畸变标定。
[0010]本专利技术的另一个目的在于提供一摄像模组的测试方法及其测试系统，其中所述摄像模组的测试方法简单，便于实施。
[0011]相应的，为了实现以上至少一个专利技术目的，本专利技术提供一种广角摄像模组的测试方法，其用于对一广角摄像模组进行光心测试和畸变标定，所述广角摄像模组的视场角的
范围是120
°
至180
°
，所述测试方法包括：
[0012]获取测试标板的标板图像，其中所述测试标板上包括至少一组反畸变标识点，其中所述至少一组所述反畸变标识点在所述测试标板上围绕一中心点对称布置，其中所述反畸变标识点进一步包括一光心测试标识点和一畸变标定标识点，其中在采集所述标板图像时，该中心点对应于所述广角摄像模组的感光芯片的中心，其中所述反畸变标识点的图案样式为规则形状基于预设视场角下的畸变值进行畸变获得；
[0013]识别出所述标板图像中的至少一组所述反畸变标识点；
[0014]获得至少一组所述光心测试识点的中心坐标；
[0015]基于至少一组所述光心测试标识点的中心坐标，确定所述广角摄像模组的光心坐标；
[0016]获得至少一组所述畸变标定标识点的变形值；以及
[0017]基于至少一组所述畸变标定标识点的变形值，获得对应的所述广角摄像模组的畸变系数。
[0018]在本专利技术的一些优选实施例中，其中每一所述反畸变标识点位于同一视场角上。
[0019]在本专利技术的一些优选实施例中，其中所述光心测试标识点进一步包括一第一组光心测试标识点和一第二组光心测试标识点，其中所述第一光心测试标识点和所述第二光心测试标识点位于不同的视场角上，其中，基于至少一组所述反畸变标识点的中心坐标，确定所述广角摄像模组的光心坐标，包括：
[0020]基于所述第一组光心测试标识点的中心坐标，确定所述广角摄像模组的一第一光心坐标；
[0021]基于所述第二组光心测试标识点的中心坐标，确定所述广角摄像模组的一第二光心坐标；以及
[0022]基于所述第一光心坐标和所述第二光心坐标，确定所述广角摄像模组的光心坐标。
[0023]在本专利技术的一些优选实施例中，基于所述第一光心坐标和所述第二光心坐标，确定所述广角摄像模组的光心坐标，包括：
[0024]获得所述第一光心坐标和所述第二光心坐标的平均值，确定为所述广角摄像模组的光心坐标。
[0025]在本专利技术的一些优选实施例中，基于所述第一光心坐标和所述第二光心坐标，确定所述广角摄像模组的光心坐标，包括：
[0026]获得所述第一光心坐标和所述广角摄像模组的预设光心坐标之间的第一误差；
[0027]获得所述第二光心坐标和所述广角摄像模组的预设光心坐标之间的第二误差；以及
[0028]获得所述第一误差和所述第二误差中较小者对应的光心坐标，确定为所述广角摄像模组的光心坐标。
[0029]在本专利技术的一些优选实施例中，所述光心测试标识点的尺寸小于所述畸变标定标识点的尺寸。
[0030]在本专利技术的一些优选实施例中，所述测试标板的所述光心测试标识点由圆形进行变形获得，所述畸变标定标识点由多边形进行变形获得。
[0031]在本专利技术的一些优选实施例中，在获得至少一组所述畸变标定标识点的变形值中，所述变形值是所述畸变标定标识点在所述标板图像中的圆度值。
[0032]根据本专利技术的另一方面，本专利技术进一步提供一种测试系统，用于广角摄像模组的光心测试和畸变标定，其特征在于，包括：
[0033]测试标板，其中所述测试标板包括至少一组反畸变标识点，其中所述至少一组反畸变标识点在所述测试标板上围绕一中心点对称布置，其中所述反畸变标识点包括一光心测试标识点和一畸变标定标识点，其中在采集所述标板图像时，该中心点对应于所述广角摄像模组的感光芯片的中心，其中所述反畸变标识点的图案样式为规则形状基于预设视场角下的畸变值进行变形获得；
[0034]固持装置，其中所述固持装置用于安装该广角摄像模组，其中所述广角摄像模组的视场角的范围为120
°
～180
°
；以及
[0035]测试装置，其中所述测试装置包括：
[0036]标板图像获取单元，用于获取测试标板的标板图像；
[0037]识别单元，用于识别出所述标板图像中的至少一组所述反畸变标识点；
[0038]中心坐标获取单元，用于获得至少一组所述光心测试标识点的中心坐标；
[0039]光心坐标获取单元，用于基于至少一组所述光心测试标识点的中心坐标，确定所述广角摄像模组本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种广角摄像模组的测试方法，其用于对一广角摄像模组进行光心测试和畸变标定，所述广角摄像模组的视场角的范围是120
°
至180
°
，其特征在于，所述测试方法包括：获取测试标板的标板图像，其中所述测试标板上包括至少一组反畸变标识点，其中所述至少一组所述反畸变标识点在所述测试标板上围绕一中心点对称布置，其中所述反畸变标识点进一步包括一光心测试标识点和一畸变标定标识点，其中在采集所述标板图像时，该中心点对应于所述广角摄像模组的感光芯片的中心，其中所述反畸变标识点的图案样式为规则形状基于预设视场角下的畸变值进行畸变获得；识别出所述标板图像中的至少一组所述反畸变标识点；获得至少一组所述光心测试识点的中心坐标；基于至少一组所述光心测试标识点的中心坐标，确定所述广角摄像模组的光心坐标；获得至少一组所述畸变标定标识点的变形值；以及基于至少一组所述畸变标定标识点的变形值，获得对应的所述广角摄像模组的畸变系数。2.根据权利要求1所述的广角摄像模组的测试方法，其中每一所述反畸变标识点位于同一视场角上。3.根据权利要求2所述的广角摄像模组的测试方法，其中所述光心测试标识点进一步包括一第一组光心测试标识点和一第二组光心测试标识点，其中所述第一光心测试标识点和所述第二光心测试标识点位于不同的视场角上，其中，基于至少一组所述反畸变标识点的中心坐标，确定所述广角摄像模组的光心坐标，包括：基于所述第一组光心测试标识点的中心坐标，确定所述广角摄像模组的一第一光心坐标；基于所述第二组光心测试标识点的中心坐标，确定所述广角摄像模组的一第二光心坐标；以及基于所述第一光心坐标和所述第二光心坐标，确定所述广角摄像模组的光心坐标。4.根据权利要求3所述的广角摄像模组的测试方法，其中，基于所述第一光心坐标和所述第二光心坐标，确定所述广角摄像模组的光心坐标，包括：获得所述第一光心坐标和所述第二光心坐标的平均值，确定为所述广角摄像模组的光心坐标。5.根据权利要求3所述的广角摄像模组的测试方法，其中，基于所述第一光心坐标和所述第二光心坐标，确定所述广角摄像模组的光心坐标，包括：获得所述第一光心坐标和所述广角摄像模组的预设光心坐标之间的第一误差；获得所述第二光心坐标和所述广角摄像模组的预设光心坐标之间的第二误差；以及获得所述第一误差和所述第二误差中较小者对应的光心坐标，确定为所述广角摄像模组的光心坐标。6.根据权利要求2所述的广角摄像模组的测试方法，其中所述光心测试标识点的尺寸小于所述畸变标定标识点的尺寸。7.根据权利要求2所述的广角摄像模组的测试方法，其中所述测试标板的所述光心测试标识点由圆形进行变形获得，所述畸变标定标识点由多边形进行变形获得。8.根据权利要求1所述的广角摄像模组的测试方法，其中在获得至少一组所述畸变标
定标识点的变形值中，所述变形值是所述畸变标定标识点在所述标板图像中的圆度值。9.一种测试系统，用于广角摄像模组的光心测试和畸变标定，其特征在于，包括：测试标板，其中所述测试标板包括至少一组反畸变标识点，其中所述至少一组反畸变标识点在所述测试标板上围绕一中心点对称布置，其中所述反畸变标识点包括一光心测试标识点和一畸变标定标识点，其中在采集所述标板图像时，该中心点对应于所述广角摄像模组的感光芯片的中心，其中所述反畸变标识点的图案样式为规则形状基于预设视场角下的畸变...

【专利技术属性】
技术研发人员：张鑫瀚，陈成权，郑迪锋，刘福，吉超文，高银亮，
申请(专利权)人：余姚舜宇智能光学技术有限公司，
类型：发明
国别省市：