一种光学石英片翘曲度检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光学石英片翘曲度检测设备，包括测试台，测试台的两相对侧壁均固定安装有长度测量机构，两个长度测量机构均包括固定板和测量板，两个固定板分别固定安装于测试台的两相对侧壁；本实用新型专利技术的有益效果是：本实用新型专利技术一种光学石英片翘曲度检测设备，通过两个测量板可以固定住待检测光学石英片以及计算出该石英片的投影长度，通过测量针可以测量出石英片的翘曲量，当翘曲量太小不易看出示数时，通过激光笔和刻度尺的高度以及激光笔、测量针和刻度尺之间的距离可以更高精度的计算出翘曲量，翘曲量除以投影高度即为该石英玻璃片的翘曲度，本实用新型专利技术具有制造成本低和检测精密度较高的优点。和检测精密度较高的优点。和检测精密度较高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种光学石英片翘曲度检测设备


[0001]本技术涉及一种翘曲度检测设备，特别涉及一种光学石英片翘曲度检测设备，属于翘曲度检测设备


技术介绍

[0002]翘曲度，用于表述平面在空间中的弯曲程度，在数值上被定义为翘曲平面在高度方向上距离最远的两点间的距离，绝对平面的翘曲度为0，翘曲变形是评定产品质量的重要指标之一，在现有评价体系中,对于翘曲变形评价都是用翘曲量来进行的,一般用最大翘曲变形量或特定部分的翘曲变形量来评价，常见的光学石英片翘曲度检测设备通常仅靠标尺来测量，当检测尺寸比较小的石英片时较难直接读出数据，检测精密度较低。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种光学石英片翘曲度检测设备，以解决上述
技术介绍
中提出的常见的光学石英片翘曲度检测设备检测尺寸比较小的石英片时检测精密度较低的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种光学石英片翘曲度检测设备，包括测试台，所述测试台的两相对侧壁均固定安装有长度测量机构，两个所述长度测量机构均包括固定板和测量板，两个所述固定板分别固定安装于测试台的两相对侧壁，两个所述测量板分别滑动安装于测试台顶端的两侧，两个所述固定板均贯穿两相对侧壁螺纹安装有螺杆，两个所述螺杆一端分别与两个测量板转动连接，两个所述螺杆另一端均固定安装有旋钮，所述测试台正面壁开设有滑槽，所述滑槽的内端滑动安装有三个滑块，其中两个所述滑块的顶端均固定安装有刻度杆，两个所述刻度杆的外壁分别滑动安装有第一测量机构和第二测量机构，另一个所述滑块的顶端固定安装有刻度尺，所述第一测量机构包括第一固定环，所述第一固定环滑动安装于刻度杆的外壁，所述第一固定环贯穿环壁螺纹安装有第一旋钮螺栓，所述第一固定环外壁转动安装有连接柱，所述连接柱一端固定安装有激光笔，所述第二测量机构包括第二固定环，所述第二固定环滑动安装于刻度杆的外壁，所述第二固定环贯穿环壁螺纹安装有第二旋钮螺栓，所述第二固定环两相对外壁分别固定安装有测量针和安装环，所述安装环的内端固定安装有薄膜片。
[0005]作为本技术的一种优选技术方案，所述薄膜片的中部开设有通孔。
[0006]作为本技术的一种优选技术方案，所述测量针一端延伸至测试台上端面中部的上方。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，所述第二测量机构位于第一测量机构与刻度尺之间。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述测试台的上端面靠近滑块一侧设置有刻度线。
[0009]与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术一种光学石英片翘曲度
检测设备，通过两个测量板可以固定住待检测光学石英片以及计算出该石英片的投影长度，通过测量针可以测量出石英片的翘曲量，当翘曲量太小不易看出示数时，通过激光笔和刻度尺的高度以及激光笔、测量针和刻度尺之间的距离可以更高精度的计算出翘曲量，翘曲量除以投影高度即为该石英玻璃片的翘曲度，本技术具有制造成本低和检测精密度较高的优点。
附图说明
[0010]图1为本技术的结构示意图；
[0011]图2为本技术第一测量机构的结构示意图；
[0012]图3为本技术第二测量机构的结构示意图。
[0013]图中：1、测试台；2、长度测量机构；3、滑块；4、刻度杆；5、刻度尺；6、第一测量机构；7、第二测量机构；11、滑槽；12、刻度线；21、固定板；22、螺杆；23、旋钮；24、测量板；61、第一固定环；62、第一旋钮螺栓；63、连接柱；64、激光笔；71、第二固定环；72、第二旋钮螺栓；73、测量针；74、安装环；75、薄膜片；751、通孔。
具体实施方式
[0014]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0015]请参阅图1-3，一种光学石英片翘曲度检测设备，包括测试台1，测试台1的两相对侧壁均固定安装有用于测量石英片长度的长度测量机构2，两个长度测量机构2均包括固定板21和测量板24，两个固定板21分别固定安装于测试台1的两相对侧壁，两个测量板24分别滑动安装于测试台1顶端的两侧，两个固定板21均贯穿两相对侧壁螺纹安装有螺杆22，两个螺杆22一端分别与两个测量板24转动连接，两个螺杆22另一端均固定安装有旋钮23，通过转动旋钮23可以使测量板24移动，并通过两个测量板24可以固定住待检测石英片，测试台1正面壁开设有滑槽11，滑槽11的内端滑动安装有三个滑块3，其中两个滑块3的顶端均固定安装有外壁标有刻度的刻度杆4，两个刻度杆4的外壁分别滑动安装有第一测量机构6和第二测量机构7，另一个滑块3的顶端固定安装有用于接收激光笔64所投光线的刻度尺5，第一测量机构6包括第一固定环61，第一固定环61滑动安装于刻度杆4的外壁，第一固定环61贯穿环壁螺纹安装有第一旋钮螺栓62，第一旋钮螺栓62用于固定第一固定环61，第一固定环61外壁转动安装有连接柱63，连接柱63一端固定安装有激光笔64，激光笔64用于投射光线以提高测量精度，第二测量机构7包括第二固定环71，第二固定环71滑动安装于刻度杆4的外壁，第二固定环71贯穿环壁螺纹安装有第二旋钮螺栓72，第二旋钮螺栓72用于固定第二固定环71，第二固定环71两相对外壁分别固定安装有测量针73和安装环74，安装环74的内端固定安装有便于光线通过的薄膜片75。
[0016]优选的，薄膜片75的中部开设有通孔751，通孔751用于激光笔64的光线通过并投射在刻度尺5表面，测量针73一端延伸至测试台1上端面中部的上方，检测时将测量针73插入待检测石英片下方可以测量出该石英片的翘曲量，第二测量机构7位于第一测量机构6与
刻度尺5之间，测试台1的上端面靠近滑块3一侧设置有刻度线12，根据刻度线12可以计算出两个测量板24之间的距离，还可以计算出三个滑块3之间的距离。
[0017]具体使用时，本技术一种光学石英片翘曲度检测设备，首先将待检测光学石英片凹面朝下放置在测试台1上，通过转动旋钮23可以使测量板24移动，并通过两个测量板24可以固定住待检测石英片，根据测试台1顶端一侧的刻度线12可以计算出待检测石英片的投影长度，然后将测量针73插入待检测石英片下方，移动第二固定环71使测量针73位于凹面的最高点，此点的高度即为该石英片的翘曲量，根据刻度杆4上的示数即可读出改点的高度，如果翘曲量太小不易看出示数，可以移动激光笔64和刻度尺5使光线传过薄膜片75内端的通孔751照射在刻度尺5上，根据激光笔64和刻度尺5的高度以及激光笔64、测量针73和刻度尺5之间的距离即可计算出翘曲量，翘曲量除以投影高度即为该石英玻璃片的翘曲度。
[0018]在本技术的描述中，需要理解的是，指示的方位或位置关系为基于附本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学石英片翘曲度检测设备，包括测试台（1），其特征在于，所述测试台（1）的两相对侧壁均固定安装有长度测量机构（2），两个所述长度测量机构（2）均包括固定板（21）和测量板（24），两个所述固定板（21）分别固定安装于测试台（1）的两相对侧壁，两个所述测量板（24）分别滑动安装于测试台（1）顶端的两侧，两个所述固定板（21）均贯穿两相对侧壁螺纹安装有螺杆（22），两个所述螺杆（22）一端分别与两个测量板（24）转动连接，两个所述螺杆（22）另一端均固定安装有旋钮（23），所述测试台（1）正面壁开设有滑槽（11），所述滑槽（11）的内端滑动安装有三个滑块（3），其中两个所述滑块（3）的顶端均固定安装有刻度杆（4），两个所述刻度杆（4）的外壁分别滑动安装有第一测量机构（6）和第二测量机构（7），另一个所述滑块（3）的顶端固定安装有刻度尺（5），所述第一测量机构（6）包括第一固定环（61），所述第一固定环（61）滑动安装于刻度杆（4）的外壁，所述第一固定环（61）贯穿环壁螺纹安装有第一旋钮螺栓...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙兴勇，乔庆功，王萌，陈廷友，李海兵，
申请(专利权)人：连云港汇德石英玻璃有限公司，
类型：新型
国别省市：