检测支撑座、检测组件及检测分析仪制造技术

技术编号:27555151 阅读:33 留言:0更新日期:2021-03-03 19:51
本实用新型专利技术公开了一种检测支撑座、检测组件及检测分析仪,该检测支撑座包括检测座基体,检测座基体具有检测区,在检测座基体上设有第一定位部,第一定位部与检测区相对应;所述检测区具有至少两个检测孔,并在检测座基体上设有至少两个第二定位部,各第二定位部分别与各自的检测孔相对应。本实用新型专利技术可以适用于单卡测试条,也可以适用于联卡测试条,使用时更方便,通用性强。通用性强。通用性强。

【技术实现步骤摘要】
检测支撑座、检测组件及检测分析仪


[0001]本技术属于医学检测领域,具体涉及检测支撑座、检测组件及检测分析仪。

技术介绍

[0002]检测分析仪在医学检测领域得到广泛的利用,如现在市面上的干式生化分析仪即是一种常用的检测分析仪,其作用主要原理是:
[0003]利用固定了试剂的干片作为载体,把全血、血浆或者血清等检测样本加到干片上,以检测样本中的水分为溶剂,检测样本与试剂发生显色反应,再使检测光源照射到干片上,通过感测元件感测产生显色反应的干片,通过比色原理得到检测样本的各种生化指标。
[0004]在检测过程时,需要将检测样本放置于测试条上并置于检测支撑座上,现有的检测分析仪只能适用于单个规格的测试条,使用时不方便,通用性不强。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种检测支撑座、检测组件及检测分析仪,本技术可以适用于单卡测试条,也可以适用于联卡测试条,使用时更方便,通用性强。
[0006]本技术提供了一种检测支撑座,包括检测座基体,检测座基体具有检测区,在检测座基体上设有第一定位部,第一定位部与检测区相对应;所述检测区具有至少两个检测孔,并在检测座基体上设有至少两个第二定位部,各第二定位部分别与各自的检测孔相对应。
[0007]在其中一个实施例中,第二定位部为定位槽及定位凸点,多个定位槽并行设置,各所述检测孔分别位于定位槽内,定位凸点位于定位槽纵向方向的至少其中一端。
[0008]在其中一个实施例中,还包括有转托件,该转托件上设有与所述第一定位部相对应的第三定位部,在所述转托件上设有至少两个单卡放置位,各单卡放置位处设有透光孔,各透光孔与检测孔相对应,在转托件上设有与各单卡放置位相对应的第四定位部。
[0009]在其中一个实施例中,在所述检测座基体上设置有与所述单卡放置位相对应的第五定位部。
[0010]在其中一个实施例中,所述第三定位部为设于所述转托件底部的凹槽,所述第一定位部为位于所述检测区周边的定位凸柱,定位凸柱卡于凹槽内并与其配合;所述第四定位部为限位槽,各限位槽并行设置,各所述透光孔位于该限位槽的中部。
[0011]在其中一个实施例中,所述第四定位部还包括设于所述转托件上且位于所述限位槽一端的第一侧边,所述第五定位部为设于所述测座基体上的第二侧边,第一侧边与第二侧边相对。
[0012]在其中一个实施例中,所述第一定位部为位于所述检测区周边的四个定位角和/或定位边。
[0013]在其中一个实施例中,在相邻的两个所述定位凸点之间设有导引凸起。
[0014]在其中一个实施例中,在所述检测座基体上间隔、平行的设有多个挡栏,相邻的两
个挡栏之间形成所述定位槽,在所述挡栏的侧部设有第一导引斜面,在所述定位凸点的端部设有第二导引斜面。
[0015]在其中一个实施例中,在所述检测支撑座上设有第一让位缺,该第一让位缺位于所述检测区的周边靠近边缘部分,且位于多个检测孔连线方向的至少其中一端。
[0016]本技术还提供了一种检测组件,包括校准件固定座、支撑底座及前述的检测支撑座,在支撑底座上设有检测光源及感测元件,在检测支撑座上设有检测区,在校准件固定座上设有校准区;检测支撑座与支撑底座固定连接并在两者之间形成滑动空间,校准件固定座活动的设置于该滑动空间内,在支撑底座与校准件固定座之间设有第一驱动装置;在准件固定座的校准区设有至少两个校准孔,在支撑底座设有至少两个检测光源及感测元件,检测光源、感测元件、校准孔及检测孔的数量相对应。
[0017]在其中一个实施例中,还包括有盒体,所述校准件固定座和/或支撑底座与盒体固接,所述校准件固定座的校准区、检测支撑座、支撑底座的检测光源至少部分区域位于盒体内,在盒体上设有操作窗,所述检测支撑座上的检测区相对于操作窗外露。
[0018]在其中一个实施例中,在所述盒体上设有第二让位缺,该第二让位缺靠近所述检测区的边缘部分,且位于多个检测孔连线方向的至少其中一端。
[0019]本技术还提供了一种检测分析仪,其特征在于,包括:外壳体及前述的检测组件,外壳体的内部形成壳体内空间,在外壳体上设有移出窗,在外壳体内设有基架,在基架上设有第一导轨,所述检测组件通过第一导轨安装于基架上,并在检测组件与基架之间设有第二驱动装置,在第二驱动装置的作用下,检测组件的检测区通过移出窗移入壳体内空间或移出壳体内空间。
[0020]本技术所提供的技术方案具有以下的优点及效果:
[0021]本技术的检测支撑座具有第一定位部及第二定位部,当适用于单卡测试条时,各个单卡测试条分别通过设置于检测座基体上的各第二定位部进行定位,当用于联卡测试条时,该联卡测试条通过设置于检测座基体上的第一定位部进行定位,使得该检测支撑座可以适用于单卡测试条,也可以适用于联卡测试条,通用性更强。
附图说明
[0022]此处的附图,示出了本专利技术所述技术方案的具体实例,并与具体实施方式构成说明书的一部分,用于解释本专利技术的技术方案、原理及效果。
[0023]除非特别说明或另有定义,不同附图中,相同的附图标记代表相同或相似的技术特征,对于相同或相似的技术特征,也可能会采用不同的附图标记进行表示。
[0024]图1是本专利技术实施例的检测分析仪的外形图;
[0025]图2是本专利技术实施例的检测分析仪在活动盖打开时的结构图;
[0026]图3是本专利技术实施例的检测分析仪的拆解图;
[0027]图4是本专利技术实施例的检测分析仪去除外壳体后的结构图;
[0028]图5是本专利技术实施例的检测组件与基架及第一驱动装置的连接结构图;
[0029]图6是本专利技术实施例的扫码组件与基架及第四驱动装置的连接结构图;
[0030]图7是本专利技术实施例的加热组件、第三驱动装置的拆解结构图;
[0031]图8是驱动块的结构图;
[0032]图9是本专利技术实施例所述检测分析仪中的检测组件的拆解图;
[0033]图10是校准件固定座、支撑底座及第一驱动装置的正面拆解图;
[0034]图11是校准件固定座、支撑底座及第一驱动装置的背面拆解图;
[0035]图12是支撑底座的底部视图;
[0036]图13是检测组件在校准状态时的剖视图;
[0037]图14是检测组件在检测状态时的剖视图;
[0038]图15是多个测试条单卡放置于检测组件时的状态图;
[0039]图16是测试条联卡放置于检测组件时的状态图;
[0040]图17是校准件固定座局部的侧向视图;
[0041]图18是测试条联卡的正面结构图;
[0042]图19是测试条联卡的背面结构图;
[0043]图20是测试条联卡的拆解图;
[0044]图21是多个测试条单卡通过转托件放置于检测组件时的状态图;
[0045]图22是图21的分解图;
[0046]图23是转托件的正面图本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.检测支撑座,其特征在于,包括检测座基体,检测座基体具有检测区,在检测座基体上设有第一定位部,第一定位部与检测区相对应;所述检测区具有至少两个检测孔,并在检测座基体上设有至少两个第二定位部,各第二定位部分别与各自的检测孔相对应。2.如权利要求1所述检测支撑座,其特征在于,第二定位部为定位槽及定位凸点,多个定位槽并行设置,各所述检测孔分别位于定位槽内,定位凸点位于定位槽纵向方向的至少其中一端。3.如权利要求2所述检测支撑座,其特征在于,所述第一定位部为位于所述检测区周边的定位凸柱。4.如权利要求2所述检测支撑座,其特征在于,在相邻的两个所述定位凸点之间设有导引凸起。5.如权利要求2所述检测支撑座,其特征在于,在所述检测座基体上间隔、平行的设有多个挡栏,相邻的两个挡栏之间形成所述定位槽,在所述挡栏的侧部设有第一导引斜面,在所述定位凸点的端部设有第二导引斜面。6.如权利要求1至5中任一项所述检测支撑座,其特征在于,在所述检测支撑座上设有第一让位缺,该第一让位缺位于所述检测区的周边靠近边缘部分,且位于多个检测孔连线方向的至少其中一端。7.如权利要求2至5中任一项所述检测支撑座,其特征在于,在所述定位凸点与所述定位槽之间设有凹陷区,该凹陷区至少部分区域低于所述定位凸点及所述定位槽。8.如权利要求1至5中任一项所述检测支撑座,其特征在于,还包括有转托件,该转托件上设有与所述第一定位部相对应的第三定位部,在所述转托件上设有至少两个单卡放置位,各单卡放置位处设有透光孔,各透光孔与检测孔相对应,在转托件上设有与各单卡放置位相对应的第四定位部。9.如权利要求8所述检测支撑座,其特征在于,在所述检测座基体上设置有与所述单卡放置位相对应的第五定位部。10.如权利要求9所述检测支撑座,其特征在于,所述第三定位部为设于所述转托件底部的凹...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱海科赖远强吴岸峰景振辉
申请(专利权)人:广州万孚生物技术股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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