测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质；其中，方法，包括：对待测试的内存进行标识，生成测试数据；对待测试的内存进行读操作，获取读数据；将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存。本发明专利技术支持在运行真实应用场景的时候，同时测试相关的SRAM，用于支持检测一些极端环境引发的问题，能够迅速排查是否是SRAM失效引起的，也可以用于工艺角在实际应用场景中可能带来的问题，能够使mbist测试更健壮，实际使用灵活，能够更好地满足需求。求。求。

【技术实现步骤摘要】
测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及SRAM测试
，更具体地说是指测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]固态硬盘的SOC芯片，里面用到了大量的SRAM(静态随机存取存储器),因为SRAM的结构特殊性(单元多，单元规整)，一般会通过mbis t(存储器测试)技术，用来筛选芯片生产制造过程中的偏差引起的正常功能的偏差。
[0003]目前mbis t测试技术，就是利用能够产生伪随机测试向量的电路去测试SRAM，不涉及SRAM的逻辑都不会运转，缺点是不具备真实的应用场景的环境，无法检测bist PASS，真实场景下内存出现错误的问题，因此，无法满足需求。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质。
[0005]为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0006]测试SRAM的方法，包括以下步骤：
[0007]对待测试的内存进行标识，生成测试数据；
[0008]对待测试的内存进行读操作，获取读数据；
[0009]将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存。
[0010]其进一步技术方案为：所述步骤对待测试的内存进行标识，生成测试数据中，通过bist控制器对待测试的内存进行标识，并根据待测试的内存的类型生成相对应的测试数据。
[0011]其进一步技术方案为：所述步骤将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存中，通过bist控制器将测试数据与读数据进行比较测试，若测试数据与读数据比较测试一致，则比较测试结果为成功；若测试数据与读数据比较测试不一致，则比较测试结果为失败。
[0012]其进一步技术方案为：所述步骤将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存之后，还包括：对待测试的内存的比较测试结果进行保存和解析。
[0013]测试SRAM的装置，包括：标识生成单元，读获取单元，及测试获取输出单元；
[0014]所述标识生成单元，用于对待测试的内存进行标识，生成测试数据；
[0015]所述读获取单元，用于对待测试的内存进行读操作，获取读数据；
[0016]所述测试获取输出单元，用于将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存。
[0017]其进一步技术方案为：所述标识生成单元中，通过bist控制器对待测试的内存进行标识，并根据待测试的内存的类型生成相对应的测试数据。
[0018]其进一步技术方案为：所述测试获取输出单元中，通过bist控制器将测试数据与读数据进行比较测试，若测试数据与读数据比较测试一致，则比较测试结果为成功；若测试数据与读数据比较测试不一致，则比较测试结果为失败。
[0019]其进一步技术方案为：还包括：保存解析单元，用于对待测试的内存的比较测试结果进行保存和解析。
[0020]一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的测试SRAM的方法。
[0021]一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的测试SRAM的方法。
[0022]本专利技术与现有技术相比的有益效果是：支持在运行真实应用场景的时候，同时测试相关的SRAM，用于支持检测一些极端环境引发的问题，能够迅速排查是否是SRAM失效引起的，也可以用于工艺角在实际应用场景中可能带来的问题，能够使mbist测试更健壮，实际使用灵活，能够更好地满足需求。
[0023]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步描述。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本专利技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1为本专利技术实施例提供的测试SRAM的方法的流程示意图；
[0026]图2为本专利技术实施例提供的测试SRAM的方法的应用示意图；
[0027]图3为本专利技术实施例提供的测试SRAM的装置的示意性框图；
[0028]图4为本专利技术实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
[0029]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0030]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0031]还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0032]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0033]请参阅图1到图4所示的具体实施例，其中，请参阅图1至图2所示，本专利技术公开了一种测试SRAM的方法，包括以下步骤：
[0034]S1，对待测试的内存进行标识，生成测试数据；
[0035]其中，在本实施例中，通过bist控制器对待测试的内存进行标识，访问控制寄存器即可，并根据待测试的内存的类型生成相对应的测试数据。
[0036]S2，对待测试的内存进行读操作，获取读数据；
[0037]其中，在本实施例中，通过bist控制器对待测试的内存进行读操作或写操作。
[0038]S3，将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存。
[0039]其中，在本实施例中，通过bist控制器将测试数据与读数据进行比较测试，若测试数据与读数据比较测试一致，则比较测试结果为成功；若测试数据与读数据比较测试不一致，则比较测试结果为失败。
[0040]其中，在步骤S3之后，还包括：对待测试的内存的比较测试结果进行保存和解析。其中，若比较测试结果为成功，但是在正常功能下测试失败，说明正常功能下的测试更苛刻，也更真实，所以在芯片删选的时候，需要提高内存的测试调试，比如降压，升温，用来逼近真实的使用环境本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.测试SRAM的方法，其特征在于，包括以下步骤：对待测试的内存进行标识，生成测试数据；对待测试的内存进行读操作，获取读数据；将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存。2.根据权利要求1所述的测试SRAM的方法，其特征在于，所述步骤对待测试的内存进行标识，生成测试数据中，通过bist控制器对待测试的内存进行标识，并根据待测试的内存的类型生成相对应的测试数据。3.根据权利要求1所述的测试SRAM的方法，其特征在于，所述步骤将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存中，通过bist控制器将测试数据与读数据进行比较测试，若测试数据与读数据比较测试一致，则比较测试结果为成功；若测试数据与读数据比较测试不一致，则比较测试结果为失败。4.根据权利要求3所述的测试SRAM的方法，其特征在于，所述步骤将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存之后，还包括：对待测试的内存的比较测试结果进行保存和解析。5.测试SRAM的装置，其特征在于，包括：标识生成单元，读获取单元，及测试获取输出单元；所述标识生成单元，用于对待测试的内存进行标识，生成测试数据；...

【专利技术属性】
技术研发人员：李湘锦，张鹏，郭芳芳，
申请(专利权)人：深圳忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：