协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片技术方案

本发明专利技术公开了一种协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片。该协议转换桥接电路包括：相连的协议转换驱动电路和控制信号转换电路；协议转换驱动电路，用于从TAP控制器中接收处于JTAG时钟域的JTAG功能测试信号，并将JTAG功能测试信号转换为处于NOC时钟域的NOC功能测试信号；控制信号转换电路，用于接收NOC功能测试信号，并根据所述NOC功能测试信号，生成至少一项功能测试信息；根据至少一项功能测试信息，生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号。本发明专利技术实施例的技术方案实现了通过JTAG管脚接收的管脚输入信号，对芯片内各IP核进行功能性测试的技术效果。性测试的技术效果。性测试的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片


[0001]本专利技术实施例涉及计算机硬件技术，具体涉及芯片测试技术，尤其涉及一种协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片。

技术介绍

[0002]随着高性能，大规模芯片的功能日益趋向复杂，同一颗芯片内部可能会同时搭载几十、甚至上百个IP（Intellectual Property，知识产权）核。这种复杂的高性能芯片，对测试机台以及板级测试、调试提出了更高的要求。
[0003]传统的芯片内部的JTAG（Joint Test Action Group，联合测试工作组）网络和测试逻辑如图1a所示，在图1a中，芯片通过JTAG管脚接收JTAG管脚输入信号，由测试访问口（Test Access Port，TAP）控制器将该JTAG管脚输入信号转换为对应的JTAG测试信号后，经由JTAG网络发送至芯片中的一个或者多个IP核进行结构性测试。示例性的，对IP核内的制作测试控制逻辑进行测试。测试这部分逻辑的主要目的是在测试机台上发现芯片在生产加工中出现的各种结构性问题。
[0004]专利技术人在实现本专利技术的过程中发现：传统意义上的JTAG传输协议以及芯片内部的JTAG网络已经无法满足复杂的高性能芯片在测台以及板级等各个环境中更加复杂的，多变的调试测试要求。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供了一种协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片，以通过JTAG管脚接收的管脚输入信号，对芯片内各IP核进行功能性测试。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供了一种协议转换桥接电路，包括：相连的协议转换驱动电路和控制信号转换电路；协议转换驱动电路，用于从TAP控制器中接收处于JTAG时钟域的JTAG功能测试信号，并将JTAG功能测试信号转换为处于NOC（Network On Chip，片上网络）时钟域的NOC功能测试信号；控制信号转换电路，用于接收NOC功能测试信号，并根据所述NOC功能测试信号，生成至少一项功能测试信息；根据至少一项功能测试信息，生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号。
[0007]进一步的，所述协议转换驱动电路包括：数据写入模块、数据读取模块以及第一类配置寄存器；数据写入模块，用于按照JTAG时钟域，从TAP控制器中接收JTAG功能测试信号，并按照NOC时钟域，将JTAG功能测试信号写入至第一类配置寄存器中；数据读取模块，用于根据在第一类配置寄存器中预先配置的NOC参数，从第一类配置寄存器中读取得到与所述JTAG功能测试信号匹配的NOC功能测试信号。
[0008]进一步的，所述协议转换驱动电路还包括：分别与数据写入模块和数据读取模块
相连的状态记录模块；所述状态记录模块，用于记录所述数据写入模块以及所述数据读取模块的读写操作状态。
[0009]进一步的，所述控制信号转换电路，包括：相连的功能测试信息生成模块和标准功能测试信号生成模块；功能测试信息生成模块，用于接收所述NOC功能测试信号，并根据所述NOC功能测试信号生成至少一项功能测试信息；标准功能测试信号生成模块，用于根据至少一项功能测试信息，生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号。
[0010]进一步的，所述功能测试信息生成模块为第二类配置寄存器；所述第二类配置寄存器，具体用于：在接收到所述NOC功能测试信号后，根据预先设置的测试信号配置参数和所述NOC功能测试信号，形成并输出至少一项功能测试信息；各所述功能测试信息与NOC标准协议相适配。
[0011]进一步的，所述标准功能测试信号生成模块为状态机。
[0012]进一步的，还包括：与控制信号转换电路相连的通用NOC接口；所述通用NOC接口，用于将控制信号转换电路生成的标准功能测试信号，传输至NOC网络中。
[0013]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种IP核，包括：如本专利技术任一实施例所述的协议转换桥接电路。
[0014]进一步的，所述IP核为中央测试控制IP核。
[0015]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种SoC，包括：TAP控制器、NOC路由器、至少一个IP核和本专利技术任一实施例所述的中央测试控制IP核；各标准IP核和中央测试控制IP核通过TAP控制器，形成片上的JTAG网络，各标准IP核和中央测试控制IP核通过NOC路由器，形成片上的NOC网络；所述中央测试控制IP核，用于从TAP控制器中接收处于JTAG时钟域的JTAG功能测试信号，并将JTAG功能测试信号转换为处于NOC时钟域的NOC功能测试信号；根据所述NOC功能测试信号，生成至少一项功能测试信息，根据至少一项功能测试信息，生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号，并将所述标准功能测试信号发送至所述NOC路由器；所述NOC路由器，用于通过所述NOC网络，将所述标准功能测试信号发送至所述标准功能测试信号所指向的标准IP核；所述标准IP核，用于在接收到标准功能测试信号时，执行匹配的功能性测试。
[0016]本专利技术实施例的技术方案提供的协议转换桥接电路，可以将从TAP控制器中接收处于JTAG时钟域的JTAG功能测试信号，并将JTAG功能测试信号转换为处于NOC时钟域的NOC功能测试信号；根据所述NOC功能测试信号，生成至少一项功能测试信息；根据至少一项功能测试信息，生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号，进而可以通过芯片中的NOC网络，将标准功能测试信号发送至匹配的IP核进行功能性测试。本专利技术实施例的技术方案可以扩展传统JTAG网络对芯片内部的访问空间，实现了通过JTAG管脚接收的管脚输入信号，对芯片内各IP核进行功能性测试的技术效果，大大的增加了现有JTAG网络的测试能力，扩展了JTAG网络的测试场景。
附图说明
[0017]图1a为现有技术中的一种芯片内部JTAG网络的结构图；图1b是本专利技术实施例一中的一种协议转换桥接电路的结构图；图2a是本专利技术实施例二中的一种协议转换桥接电路的结构图；图2b是本专利技术实施例二所适用的一种第二类配置寄存器中所配置的写测试信号配置参数的时序图；图2c是本专利技术实施例二所适用的第二类配置寄存器所配置的读测试信号配置参数的时序图；图3是本专利技术实施例三中的一种IP核的结构示意图；图4是是本专利技术实施例四中的一种SoC的结构示意图。
具体实施方式
[0018]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0019]为了便于理解本专利技术的各实施例，首先将本案的主要专利技术构思进行简述：随着片上系统的日益复杂，片上搭载的功能模块，存储模块也越来越多，片上总线系统被越来越频繁的应用起来。NOC作为片上高速、高性能网络模块被业界广泛认可和使用。NOC是一种针对多核SoC（System-on-a-Chip，系统级芯片）设计的新型片上通信架构，提供了一种新的片上通信结构解决方案。通过在SoC中使用NOC Router（路本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种协议转换桥接电路，其特征在于，包括：相连的协议转换驱动电路和控制信号转换电路；协议转换驱动电路，用于从测试访问口TAP控制器中接收处于联合测试工作组JTAG时钟域的JTAG功能测试信号，并将JTAG功能测试信号转换为处于片上网络NOC时钟域的NOC功能测试信号；控制信号转换电路，用于接收NOC功能测试信号，并根据所述NOC功能测试信号，生成至少一项功能测试信息；根据至少一项功能测试信息，生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号。2.根据权利要求1所述的协议转换桥接电路，其特征在于，所述协议转换驱动电路包括：数据写入模块、数据读取模块以及第一类配置寄存器；数据写入模块，用于按照JTAG时钟域，从TAP控制器中接收JTAG功能测试信号，并按照NOC时钟域，将JTAG功能测试信号写入至第一类配置寄存器中；数据读取模块，用于根据在第一类配置寄存器中预先配置的NOC参数，从第一类配置寄存器中读取得到与所述JTAG功能测试信号匹配的NOC功能测试信号。3.根据权利要求2所述的协议转换桥接电路，其特征在于，所述协议转换驱动电路还包括：分别与数据写入模块和数据读取模块相连的状态记录模块；所述状态记录模块，用于记录所述数据写入模块以及所述数据读取模块的读写操作状态。4.根据权利要求1所述的协议转换桥接电路，其特征在于，所述控制信号转换电路，包括：相连的功能测试信息生成模块和标准功能测试信号生成模块；功能测试信息生成模块，用于接收所述NOC功能测试信号，并根据所述NOC功能测试信号生成至少一项功能测试信息；标准功能测试信号生成模块，用于根据至少一项功能测试信息，生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号。5.根据权利要求4所述的协议转换桥接电路，其特征在于，所述功能测试信息生成模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：马海英，
申请(专利权)人：北京燧原智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：