寻孔方法及寻孔装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种能够提升寻孔的准确率和效率性，并能够适用于面向密集孔端的寻孔配线任务的寻孔方法及寻孔装置。该寻孔方法是针对轴端向多个孔端中的目标孔寻孔的寻孔方法，具备如下步骤：粗寻孔步骤，控制轴端以使轴端位于包围目标孔的力控范围内；接触状态判定步骤，使轴端绕在轴端上且穿过轴端的中心点的至少一个旋转轴转动，测定作用于轴端的轴向力的变化，并根据轴向力的变化判定轴端和目标孔的接触状态；纠偏调整步骤，根据接触状态，针对轴端进行特定轨迹的纠偏调整。端进行特定轨迹的纠偏调整。端进行特定轨迹的纠偏调整。

【技术实现步骤摘要】
International Conference on Robotics and Automation,1993Proceedings.695-700vol.692.

技术实现思路

[0011]在非专利文献1等上述现有技术中，由于未考虑在配线任务中，在轴线与孔的接触情况复杂的情况下，不同接触情况下静态力信息区别不大等随机不确定性因素和干扰因素，因此存在寻孔的准确率较低、稳定性和适应性不够的技术问题，难以适用于面向密集孔端的寻孔配线任务中。
[0012]对此，本专利技术针对现有技术中上述技术问题中的至少一个，其目的在于，提供一种能够提升寻孔的准确率、效率性的寻孔方法及寻孔装置，从而能够适用于面向密集孔端的寻孔配线任务。
[0013]为此，本专利技术的实施方式提供一种寻孔方法，是针对轴端向多个孔端中的目标孔寻孔的寻孔方法，其特征在于，具备如下步骤：粗寻孔步骤，控制轴端以使轴端位于包围目标孔的力控范围内；接触状态判定步骤，使轴端绕在轴端上且穿过轴端的中心点的至少一个旋转轴转动，测定作用于轴端的轴向力的变化，并根据轴向力的变化判定轴端和目标孔的接触状态；纠偏调整本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种寻孔方法，是针对轴端向多个孔端中的目标孔寻孔的寻孔方法，其特征在于，具备如下步骤：粗寻孔步骤，控制所述轴端以使所述轴端位于包围所述目标孔的力控范围内；接触状态判定步骤，使所述轴端绕在所述轴端上且穿过所述轴端的中心点的至少一个旋转轴转动，测定作用于所述轴端的轴向力的变化，并根据所述轴向力的变化判定所述轴端和所述目标孔的接触状态；纠偏调整步骤，根据所述接触状态，针对所述轴端进行特定轨迹的纠偏调整。2.如权利要求1所述的寻孔方法，其中，在所述纠偏调整步骤中，进行所述轴向力的检测，并针对所述轴端进行特定轨迹的纠偏调整直至所述轴向力小于规定的第一阈值。3.如权利要求2所述的寻孔方法，其中，所述至少一个旋转轴包括第一旋转轴和与所述第一旋转轴正交的第二旋转轴，所述接触状态包括所述轴端与所述目标孔在所述第一旋转轴的方向上的偏差、以及在所述第二旋转轴的方向上的偏差，在所述纠偏调整步骤中，针对所述轴端进行与所述偏差的方向对应的纠偏调整。4.如权利要求3所述的寻孔方法，其中，在所述接触状态判定步骤中，在未转动所述轴端时所述轴向力小于所述第一阈值的情况下，判定为无偏差状态；在绕所述第一旋转轴或所述第二旋转轴分别向两方向转动所述轴端时，在向其中一方向转动时所述轴向力减小，且向另一方向转动时所述轴向力增大的情况下，判定接触状态为所述轴端相对于所述目标孔仅存在向该另一方向的一侧的偏差的单方向偏差状态；在绕所述第一旋转轴或所述第二旋转轴分别向两方向转动所述轴端时，在向两方向转动时所述轴向力均不超过比所述第一阈值大的规定的第二阈值的情况下，判定接触状态为所述轴端相对于所述目标孔仅存在向该两方向中的某一方向的一侧的偏差，但偏差方向不确定的单轴偏差状态；在绕所述第一旋转轴和所述第二旋转轴分别向两方向转动所述轴端时，所述轴向力均超过所述第二阈值的情况下，判定接触状态为存在在所述第一旋转轴的方向上的偏差和在所述第二旋转轴的方向上的偏差的双方向偏差状态。5.如权利要求4所述的寻孔方法，其中，在所述接触状态是所述单方向偏差状态的情况下，在所述纠偏调整步骤中，进行向与...

【专利技术属性】
技术研发人员：王清辉，秦富康，苏银蕊，左滨，
申请(专利权)人：株式会社日立制作所，
类型：发明
国别省市：