存储设备的可靠性测试方法及其存储设备技术

公开了存储设备的可靠性测试方法及其存储设备。所公开的存储设备的可靠性测试方法，包括：使用第一读命令从存储设备的物理块读取第一数据；响应于第一数据的错误比特数大于第一阈值，使用第二读命令从存储设备的所述物理块读取第二数据；若第二数据的错误比特数大于第二阈值，将所述物理块识别为坏块；其中所述第二读命令是具有指定参数的读重做命令。第二读命令是具有指定参数的读重做命令。第二读命令是具有指定参数的读重做命令。

【技术实现步骤摘要】
存储设备的可靠性测试方法及其存储设备


[0001]本申请涉及存储
，尤其涉及在存储设备中实施可靠性测试(Reliability Demonstration Test，RDT)方法及其存储设备。

技术介绍

[0002]图1展示了固态存储设备的框图。固态存储设备102同主机相耦合，用于为主机提供存储能力。主机同固态存储设备102之间可通过多种方式相耦合，耦合方式包括但不限于通过例如SATA(Serial Advanced Technology Attachment，串行高级技术附件)、SCSI(Small Computer System Interface，小型计算机系统接口)、SAS(Serial Attached SCSI，串行连接SCSI)、IDE(Integrated Drive Electronics，集成驱动器电子)、USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)、PCIE(Peripheral Component Interconnect Express,PCIe，高速外围组件互联)、NVMe(NVM Expr本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储设备的可靠性测试方法，包括：使用第一读命令从存储设备的物理块读取第一数据；响应于第一数据的错误比特数大于第一阈值，使用第二读命令从存储设备的所述物理块读取第二数据；若第二数据的错误比特数大于第二阈值，将所述物理块识别为坏块；其中所述第二读命令是具有指定参数的读重做命令。2.根据权利要求1所述的方法，其中响应于第一数据的错误比特数大于第一阈值，使用多个第二读命令从存储设备的所述物理块读取多个第二数据；若任何第二数据的错误比特数不大于第二阈值，将所述物理块识别为通过好块。3.根据权利要求1或2所述的方法，还包括：响应于所述存储设备未通过第一可靠性测试，执行所述使用第一读命令从存储设备的物理块读取第一数据的步骤及其后续步骤。4.根据权利要求3所述的方法，其中所述第一可靠性测试包括：使用第一读命令从存储设备的多个或所有物理块的多个物理页读取第三数据；响应于第三数据的错误比特数大于第三阈值，将从中读取第三数据的物理块识别为坏块；将存储设备的被识别为坏块的物理块数量作为所述存储设备是否通过第一可靠性测试的依据。5.根据权利要求3或4所述的方法，其中响应于所述存储设备未通过第一可靠性测试，执行对所述存储设备的第二可靠性测试；所述第二可靠性测试包括：使用第一读命令从存储设备的多个或所有物理块的多个物理页读取第三数据；响应于从相同的物理页读取的第三数据的错误比特数大于第三阈值的次数超出阈值，将所述相同的物理页所在的物理块识别为坏块；将存储设备的被识别为坏块的物理块数量作为所述存储设备是否通过第一可靠性测试的依据。6.根据权利要求1-5之一所述的方法，还包括：响应于存储设备上电，加载并运行可靠性测试固件；从存储设备的LUN的指定物理块的指定物理页...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨帆，谢海龙，
申请(专利权)人：上海忆芯实业有限公司，
类型：发明
国别省市：