【技术实现步骤摘要】
临界尺寸扫描电子显微镜的控制系统与控制方法
[0001]本专利技术涉及一种控制系统与控制方法,且特别涉及一种临界尺寸扫描电子显微镜(critical dimension scanning electron microscope,CD-SEM)的控制系统与控制方法。
技术介绍
[0002]随着半导体技术的发展,各式精密电路芯片不断推陈出新。在半导体制造过程中,每一道工艺的质量都必须严格控管,以避免影响产品良率。
[0003]半导体工艺可以采用临界尺寸扫描电子显微镜(critical dimension scanning electron microscope,CD-SEM)来监测电路图形是否符合预定标准。然而,由于芯片的电路图形相当复杂,人员在操作临界尺寸扫描电子显微镜必须不断搜寻目标图案、或是进行焦距调整的动作。这些动作不仅容易出错,而且相当耗费人力与时间。因此,如何让临界尺寸扫描电子显微镜的操作更加便利,已成为半导体业界相当重视的一项研发方向。
技术实现思路
[0004]本专利技术涉及一种临界尺寸扫 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种临界尺寸扫描电子显微镜的控制系统,其特征在于该控制系统包括:智能图像识别单元,用以提取屏幕画面,并自动辨识警告事件的类型;处理单元,用以在该屏幕画面的显示区域自动搜寻目标图案;以及远程操作单元,若在该屏幕画面的该显示区域自动搜寻到该目标图案,则该远程操作单元自动移动该目标图案至该显示区域的中心。2.如权利要求1所述的控制系统,其中当该目标图案已移至该显示区域的中心,则该远程操作单元自动点击确认按钮。3.如权利要求1所述的控制系统,其中若在该屏幕画面的该显示区域无法自动搜寻到该目标图案,则该远程操作单元更自动执行对焦调整程序,以使该显示区域重新对焦。4.如权利要求3所述的控制系统,其中在该对焦调整程序中,该远程操作单元根据预设坐标位置点击对焦调节按钮。5.如权利要求3所述的控制系统,其中在该对焦调整程序中,该远程操作单元根据预设坐标位置点击焦距放大按钮,以放大焦距。6.如权利要求3所述的控制系统,其中在该对焦调整程序中,该远程操作单元根据预设坐标位置点击焦距缩小按钮,以缩小焦距。7.如权利要求1所述的控制系统,还包括:若在该屏幕画面的该显示区域无法自动搜寻到该目标图案,则执行观测范围移动程序。8.如权利要求7所述的控制系统,其中在该观测范围移动程序中,该远程操作单元根据预设坐标位置点击倍率放大按钮,以放大倍率。9.如权利要求7所述的控制系统,其中在该观测范围移动程序中,该远程操作单元根据预设坐标位置点击倍率缩小按钮,以缩小倍率。10.如权利要求7所述的控制系统,其中在该观测范围移动程序中,该远程操作单元自动连续点击该屏幕画面的该显示区域的多个角落。11.如权利要求7所述的控制系统,其中在该观测范围移动程序中,该远程操作单元自动连续点击该屏幕画面的该显示区域的多个边缘。12.如权利要求1所述的控制系统,其中该智能图像识别单元将该...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈辉腾,尹又生,金艳慧,刘涛,吴晓宁,许弈佳,郭晓娜,王哲忠,陈有证,谈文毅,
申请(专利权)人:联芯集成电路制造厦门有限公司,
类型:发明
国别省市:
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