自动化测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种自动化测试系统，用于对半导体器件的引脚进行测试，自动化测试系统包括：数字电桥模块和控制模块；数字电桥模块的输入端，与半导体器件的引脚连接，用于检测半导体器件引脚的结电容；数字电桥模块的输出端与控制模块的输入端连接，以将半导体器件引脚的结电容同步给控制模块；控制模块，用于根据获取的半导体器件引脚的结电容，确定半导体器件的引脚是否损伤。该自动化测试系统能够通过数字电桥模块，检测半导体引脚的结电容，实现半导体器件引脚的非功能性的微损伤测试，且提高了测试效率，有利于保证半导体器件的可靠性。靠性。靠性。

【技术实现步骤摘要】
自动化测试系统


[0001]本技术涉及测试
，尤其涉及一种自动化测试系统。

技术介绍

[0002]在实际生产和应用中，半导体器件受到电热应力会造成器件损坏以及功能失效，该损伤可以通过生产功能测试来拦截；然而，半导体器件还存在一些不造成其功能失效的微损伤，但是对寿命和可靠性造成极大的损害，该微损伤无法通过功能测试等手段自动拦截，从而导致半导体器件的可靠性较低。

技术实现思路

[0003]本技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
[0004]为此，本技术的目的在于提出一种自动化测试系统，以通过数字电桥模块检测半导体引脚的结电容，实现半导体器件引脚的非功能性的微损伤测试，且提高测试效率，有利于保证半导体器件的可靠性。
[0005]为实现上述目的，本技术提出了一种自动化测试系统，用于对半导体器件的引脚进行测试，所述自动化测试系统包括：数字电桥模块和控制模块；所述数字电桥模块的输入端，与所述半导体器件的引脚连接，用于检测所述半导体器件引脚的结电容；所述数字电桥模块的输出端与所述控制模块的输入端连接，以将所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动化测试系统，用于对半导体器件的引脚进行测试，其特征在于，所述自动化测试系统包括：数字电桥模块和控制模块；所述数字电桥模块的输入端，与所述半导体器件的引脚连接，用于检测所述半导体器件引脚的结电容；所述数字电桥模块的输出端与所述控制模块的输入端连接，以将所述半导体器件引脚的结电容同步给所述控制模块；所述控制模块，用于根据获取的所述半导体器件引脚的结电容，确定所述半导体器件的引脚是否损伤。2.如权利要求1所述的自动化测试系统，其特征在于，所述半导体器件的端口包括多个功能引脚，所述自动化测试系统，还包括：第一开关元件模块；所述数字电桥模块的输入端，与所述第一开关元件模块的第一连接端连接；所述第一开关元件模块的多个第二连接端，分别与所述多个功能引脚连接。3.如权利要求2所述的自动化测试系统，其特征在于，所述数字电桥模块还包括参考端，所述自动化测试系统，还包括：第二开关元件模块；所述数字电桥模块的参考端与所述第二开关元件模块的第一连接端连接；所述第二开关元件模块的两个第二连接端，分别与所述半导体器件的电源引脚及接地引脚连接。4.如权利要求3所述的自动化测试系统，其特征在于，所述控制模块的第一输出端与所述第一开关元件模块的控制端连接，所述控制模块的第二输出端与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈冬冬，
申请(专利权)人：合肥移瑞通信技术有限公司，
类型：新型
国别省市：