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本实用新型公开了一种自动化测试系统，用于对半导体器件的引脚进行测试，自动化测试系统包括：数字电桥模块和控制模块；数字电桥模块的输入端，与半导体器件的引脚连接，用于检测半导体器件引脚的结电容；数字电桥模块的输出端与控制模块的输入端连接，以将半...
该专利属于合肥移瑞通信技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥移瑞通信技术有限公司授权不得商用。

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