晶体振荡器自动化测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及电子元器件测试技术领域，尤其是涉及一种晶体振荡器自动化测试系统，其包括计算机，所述计算机上连接程控电源、频率计和万用表，所述程控电源与频率计、万用表之间串接测试板；所述计算机上运行晶体振荡自动化测试系统软件，同时进行数据存储、显示；所述程控电源通过COM1口与计算机相连，接收计算机发来的控制信号，为晶体振荡器提供电源；所述频率计用于对频率，占空比，输出高电平，输出低电平，上升时间，下降时间的测量；所述万用表用于静态电流的精确测量。本实用新型专利技术能有效的减少过程出错率，解决现有测试系统不能自动进行批量测试，测试效率受限的技术问题。测试效率受限的技术问题。测试效率受限的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
晶体振荡器自动化测试系统


[0001]本技术涉及电子元器件测试
，尤其是涉及一种晶体振荡器自动化测试系统。

技术介绍

[0002]晶体振荡器是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片，简称为石英晶体或晶体、晶振，而在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件称为晶体振荡器，其产品一般用金属外壳封装，也有用玻璃壳、陶瓷或塑料封装。通用晶体振荡器，用于各种电路中，产生振荡频率。
[0003]晶体振荡器的输入稳定电流、频率准确度、频率稳定度等指标，需要达到晶体振荡器的稳定时间以后，才能进行测试，通常时间较长，尤其当需要批量测试时，每只晶振顺序进行需要耗费大量的时间。同时，为了完成晶体振荡器的性能测试，大都采用人工手动的方法，将晶体振荡器的输入和输出端连接到相应的仪器设备上，并人工记录数据，测试效率低，且过程出错率较高，不能自动进行批量测试，测试效率受限。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种晶体振荡器自动化测试系统，该测试系统规范测试操作，减少过程出错率，解决现有测试系统不能自动进行批量测试，测试效率受限的技术问题。
[0005]为了达到上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]晶体振荡器自动化测试系统，包括计算机，所述计算机上连接程控电源、频率计和万用表，所述程控电源与频率计、万用表之间串接测试板；
[0007]所述计算机上运行晶体振荡自动化测试系统软件，同时进行数据存储、显示；所述程控电源通过COM1口与计算机相连，接收计算机发来的控制信号，为晶体振荡器提供电源；所述频率计用于对频率，占空比，输出高电平，输出低电平，上升时间，下降时间的测量；所述万用表用于静态电流的精确测量；所述测试板用于测试设备与被测件的电气连接，以及线路的切换。
[0008]进一步地，所述计算机上还连接单片机，所述单片机通过USB口与计算机进行通信，用于测试中开关控制与状态监测。
[0009]进一步地，所述单片机采用Arduino MEGA2560。
[0010]进一步地，所述计算机通过NI USB-GPIB HS卡连接频率计和万用表，使计算机通过USB口与频率计和万用表进行通信。
[0011]进一步地，所述程控电源的型号为GEN-600-1.3。
[0012]进一步地，所述频率计的型号为Agilent 53131A。
[0013]进一步地，所述万用表的型号为Agilent 34401A。
[0014]本技术的晶体振荡器自动化测试系统，设计新的系统硬件结构，该硬件结构
结合现有的系统软件，通过软件程序的运行，进行自动测试，同时能够实时保存历史数据。克服了传统手动测试的方法，使开发人员可以把主要精力集中在测试本身，而非界面表达、数据存储，组织控制等方面，有效减少测试过程出错率，且能够自动进行批量测试，提高测试效率。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1是本技术测试系统的系统硬件结构框图。
具体实施方式
[0017]下面将结合本技术的附图，对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0018]根据图1所示，说明本技术的晶体振荡器自动化测试系统，包括计算机，所述计算机上连接程控电源、频率计和万用表，具体地，所述计算机通过NI USB-GPIB HS卡连接频率计和万用表，使计算机通过USB口与频率计和万用表进行通信。所述程控电源与频率计、万用表之间串接测试板。
[0019]所述计算机上运行晶体振荡自动化测试系统软件，同时进行数据存储、显示；所述程控电源通过COM1口与计算机相连，接收计算机发来的控制信号，为晶体振荡器提供电源；所述频率计用于对频率，占空比，输出高电平，输出低电平，上升时间，下降时间的测量；所述万用表用于静态电流的精确测量；所述测试板用于测试设备与被测件的电气连接，以及线路的切换。
[0020]上述程控电源的型号为GEN-600-1.3；频率计的型号为Agilent 53131A；万用表的型号为Agilent 34401A。
[0021]进一步地，所述计算机上还连接单片机，所述单片机通过USB口与计算机进行通信，用于测试中开关控制与状态监测；所述单片机采用Arduino MEGA2560。
[0022]该系统测试能力为：
[0023]测试频率范围：200MHz；精度：1PPM；
[0024]电流测试范围：0-1.3A；精度：0.05％。
[0025]本技术的的系统硬件电路设计中，控制核心为Arduino MEGA2560开发板,先在计算上安装Arduino驱动程序，再通过Arduino集成开发环境在开发板上写入Fireware服务框架程序，计算机就可以利用LabVIEWArduino模块通过串口控制MEGA2560开发板的IO口了。
[0026]系统的DUT板分为底板和顶板，通过2条32*2座子进行连接，底板只有1块，顶板有若干块。底板主要由Arduino MEGA2560开发板，ULN2803A组成，主要用于电源与万用表通道
的引入和继电器控制信号的产生，AD采样输入引脚的引出。顶板用于不同封装被测件激励信号的施加和测量通道的连接。
[0027]配合该系统硬件电路的系统软件主要由两部分组成，TestStand和LabVIEW两部分程序组成，TestStand主要负责测试项目的管理，LabVIEW负责设备的控制，项目参数的测试。TestStand有统一的测试界面和数据格式，开发人员可以把主要精力集中在测试本身，而非界面表达、数据存储，组织控制等方面。
[0028]根据器件规格的不同，编辑测试项目、更改测试函数，测试函数由LabVIEW编写。具体的，该晶振的典型测试参数的方法如下：
[0029]1、初始化(INIT.vi)
[0030]初始化万用表，设置其GPIB地址，测量功能，位数以及量程；
[0031]初始化频率计；
[0032]初始化电源，设置其端口，电压，电流；
[0033]初始化Arduino,设置端口以及IO口的状态；
[0034]2、功耗测试(PW.vi)
[0035]根据测试条件设置好电源电压和钳位电流，再用万用表电流档测试电流，电压*电流*1000即为功耗(mW)；
[0036]3、静态电流测试(IQ.vi)
[0037]根据测试条件设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.晶体振荡器自动化测试系统，其特征在于：包括计算机，所述计算机上连接程控电源、频率计和万用表，所述程控电源与频率计、万用表之间串接测试板；所述计算机上运行晶体振荡自动化测试系统软件，同时进行数据存储、显示；所述程控电源通过COM1口与计算机相连，接收计算机发来的控制信号，为晶体振荡器提供电源；所述频率计用于对频率、占空比、输出高电平、输出低电平、上升时间、下降时间的测量；所述万用表用于静态电流的精确测量；所述测试板用于测试设备与被测件的电气连接，以及线路的切换。2.根据权利要求1所述的晶体振荡器自动化测试系统，其特征在于：所述计算机上还连接单片机，所述单片机通过USB口与计算机进行通信，用于测试中开关控制与状态监测。3...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨宏斌，王晓光，苏玲玲，董秦博，苗涛涛，虞帆，
申请(专利权)人：西安西谷微电子有限责任公司，
类型：新型
国别省市：