驱动电路的驱动端口状态检测电路及方法技术

技术编号:27411861 阅读:42 留言:0更新日期:2021-02-21 14:27
本发明专利技术公开了一种驱动端口状态检测电路及方法,包括驱动电路,延时模块和采样电路;采样电路包括开关管、采样管和采样电容;开关管接入驱动电路驱动端,在开关管与驱动管之间由延时模块引入驱动信号的固定延时,开关管提前固定延时导通形成电容串联分压支路;电容串联结构包括串联结构的采样电容和驱动端寄生电容,在固定延时的时间内,电容串联结构利用小电流对串联结构的采样电容和寄生电容进行充电,并对驱动电路的驱动端口状态进行采样。本发明专利技术对驱动电路的驱动端口状态进行采样,通过判断采样电容上电压结果判断驱动端口的工作状态,由于引入相对独立的采样判断时间并使用电容器件进行采样,采样信号稳定且不易受到干扰,大大提高了检测结果的精确性,确保判断结果准确可靠。果准确可靠。果准确可靠。

【技术实现步骤摘要】
驱动电路的驱动端口状态检测电路及方法


[0001]本专利技术涉及电力电子
,尤其涉及驱动电路的驱动端口状态检测电路及方法。

技术介绍

[0002]对于功率管驱动端口的状态检测判断,通常的检测电路是在功率管驱动支路与功率管之间增加采样电阻,在功率管开启或关闭的瞬间,功率管栅极驱动电流会在采样电阻上产生压降,通过采集该压降作为采样信号进行判断,但是由于该采样信号通常时间较短,易受到干扰,以及由于存在抖动等问题,导致状态检测的结果不准确,使用局限性较大。

技术实现思路

[0003]为了解决上述的技术问题,本专利技术的一个目的是提供一种驱动端口状态检测电路,包括驱动电路、采样电路和延时模块;
[0004]所述驱动电路包括驱动管;
[0005]所述采样电路包括开关管和电容串联结构,所述开关管接入驱动电路的驱动端口,在开关管与驱动管之间设有延时模块,所述延时模块引入驱动信号的固定延时,开关管提前固定延时时间导通后形成电容串联结构;
[0006]所述电容串联结构包括串联结构的采样电容和驱动端口的寄生电容,在固定延本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种驱动端口状态检测电路,其特征在于:包括驱动电路、采样电路和延时模块;所述驱动电路包括驱动管;所述采样电路包括开关管和电容串联结构,所述开关管接入驱动电路的驱动端口,在开关管与驱动管之间设有延时模块,所述延时模块引入驱动信号的固定延时,开关管提前固定延时时间导通后形成电容串联结构;所述电容串联结构包括串联结构的采样电容和驱动端口的寄生电容,在固定延时的时间内,电容串联结构利用小电流对采样电容和寄生电容进行充电,对驱动电路的驱动端状态进行采样。2.如权利要求1所述的驱动端口状态检测电路,其特征在于:所述驱动管包括驱动端上驱动管,所述驱动端上驱动管与驱动电路的输入端口形成信号输入支路udb,在所述信号输入支路udb上引出信号输入支路uda,所述信号输入支路uda连接开关管,且在信号输入支路udb上设有延时模块,所述延时模块引入驱动信号的固定延时。3.如权利要求2所述的驱动端口状态检测电路,其特征在于:所述驱动管包括驱动端下驱动管,所述驱动端下驱动管与驱动电路的驱动端口形成信号输入支路Idb,信号输入支路Idb上设有延时模块,所述延时模块引入驱动信号的固定延时。4.如权利要求1所述的驱动端口状态检测电路,其特征在于:所述寄生电容包括第一寄生电容和第二寄生电容,所述第一寄生电容为驱动电路的驱动端口对地寄生电容,所述第二寄生电容为功率管栅极对地寄生电容,所述第一寄生电容、第二寄生电容满足以下关系:Cs=Csp+Csd;Csp>>Csd;Cd>Csd;Csp>>Cd;且当Csp不存在时,Vcc*Csd/(Csd+Cd)<|Vthmp2|;其中Cs为寄生电容,Csd为第一寄生电容,Csp为第二寄生电容,Cd为采样电容;Vcc为电源;Vthmp2为采样管的阈值开启电压。5.如权利要求1所述的驱动端口状态检测电路,其特征在于:所述采样电路包括采样管,所述开关管的漏极与驱动电路的驱动端口相连,所述开关管的源极、采样管的栅极与采样电容的下极板三者相连,所述采样电容的上极板与采样管的源极连接电源Vcc。6.如权利要求5所述的驱动端口状态检测电路,其特征在于:所述采样电路包括电流源Ibias,在所述采样管的漏极引入电流...

【专利技术属性】
技术研发人员:田瑶刘万乐
申请(专利权)人:苏州美思迪赛半导体技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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