X射线双线阵三维成像方法技术

技术编号:2739554 阅读:188 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
X射线双线阵三维成像方法,采用两组X射线源,即第一X射线源2穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由第一线阵3接受转变为电信号输入计算机,第二X射线源2’穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由第二线阵3’接受转变为电信号输入同一计算机,然后两组X射线源相对初始位置转动几个角度,或者被检工件1相对初始位置转动几个角度,分别由第一X射线源2穿过被检工件1中的检测点P被第一线阵(3)接受转变为电信号输入计算机,由第二X射线源2’穿过被检工件1中的检测点P被第二线阵3’接受转变为电信号输入同一计算机,输入计算机的图像数据被加载到内存,或进行数据压缩,分别处理合成一幅立体图像。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及无损探伤检测方法,具体是双线阵三维成像检测方法。
技术介绍
目前无损检测方法主要有胶片照相法、图像增强器实时成像法、单线阵 成像法、工业CT成像法等。除工业CT处,目前其它方法只能用于二维成像。 为了获得对被检对象更加详细信息和三维图像,人们开发了工业CT,即计算 机断层成像技术(ComputedTomography),其成像原理是当一束射线穿过物 质与物质相互作用后,射线强度将受到射经路径上物质的吸收或散射而衰减, 因为物质的衰减系数与物质的质量密度直接相关,故衰减系统的二维也可以体 现为密度的二维分布,由此转换成的断面图像能够表示其结构关系和物质组成。 最后所有的断面图像重建成一幅图像,从获得被检对象全方位的信息。工业CT .成像技术虽然取得了很大的成功,但存在如下缺点①回转直径由于CT机 的安装空间非常有限,其检测空间受限。②扫描检测和图像重建时间很长。③ 对比灵敏度它是指CT系统能区分被测体断层上最小物理特征(如衰减系数、 密度等)差别的能力,是确定需要检测到的相对于统一背景和给定尺寸区的相 同特征的最小相对量。④需要一专门的测试卡检验。 分层厚度也称断层厚 度,它是CT扫描检测时,射线束作用的有效厚度。分层厚度反映了断面垂直 方向上的灵敏度,层厚增加可提高信噪比或提高扫描检测速度,但却降低了直 方向变化的特征信息的灵敏度。 另外CT的价格成本非常高。因此,上述检 测方法制约了三维检测技术的进一步发展。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种。 本专利技术是,用X射线源产生的X射线穿过被检 工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由线阵接受转变为电信号输入计算.机进行数据处理,釆用两组X射线源,即第一X射线源2穿过被检工件1中的 检测点P,穿过检测点P的射线由第一线阵3接受转变为电信号通过线路4输 入计算机,第二X射线源2'穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射 线由第二线阵3'接受转变为电信号通过线路4'输入同一计算机,然后两组X射线源相对初始位置转动一角度e"或者被检工件1相对初始位置转动一角度e"在由第一 X射线源2穿过被检工件(1)中的检测点P,穿过检测点P的射线由 第一线阵3接受转变为电信号输入计算机,第二X射线源2'穿过被检工件1中 的检测点P,穿过检测点P的射线由第二线阵3'接受转变为电信号输入同一计 算机,再然后两组X射线源相对初始位置转动一角度02,或者被检工件1相对 初始位置转动一角度62,在由第一X射线源2穿过被检工件1中的检测点P, 穿过检测点P的射线由第一线阵3接受转变为电信号输入计算机,第二 X射线 源2'穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由第二线阵3'接受转 变为电信号输入同一计算机,输入计算机的图像数据加载到内存,或进行数据 压縮,根据两线阵采集到的数据,进行硬件合成,直接显示到显示器,或分别 取出两线阵的图像的数据,把两线阵相对与初始位置同一旋转角度的数据相加 取平均值,合成一幅立体图像。本专利技术的有益之处在于采用双线阵技术,不单解决三维成像功能,而且 相对于其它三维成像来说明,结构简单,图像质量好,不需要其它任何辅助设 备,价格低。能检测一个工件的三维信息,从而获得全面的图像信息,最终达 到取代工业CT的目的。附图说明图1是实现本专利技术方法的结构示意图,图2是釆用本专利技术方法检测时偏转 几个位置时的几何示意图。 具体实施例方式如图1所示,本专利技术的,用X射线源产生的X 射线穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由线阵接受转变为电 .信号输入计算机进行数据处理,釆用两组X射线源,即第一X射线源2穿过被 检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由第一线阵3接受转变为电信号 通过线路4输入计算机,第二X射线源2'穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由第二线阵3'接受转变为电信号通过线路4'输入同一计算机。 如图2所示,两组X射线源相对图1所示的初始位置转动一角度^,或者被检 工件1相对初始位置转动一角度e"在由第一X射线源2穿过被检工件1中的 检测点P,穿过检测点P的射线由第一线阵3接受转变为电信号输入计算机, 第二X射线源2'穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由第二线 阵3'接受转变为电信号输入同一计算机;再然后两组X射线源相对初始位置转 动一角度62,或者被检工件1相对初始位置转动一角度62,在由第一X射线源 2穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由第一线阵3接受转变 为电信号输入计算机,第二 X射线源2'穿过被检工件1中的检测点P,穿过检 测点P的射线由第二线阵3'接受转变为电信号输入同一计算机;两组X射线源 相对初始位置继续转动n个角度6n,或者被检工件1相对初始位置转动角度6n, 在由第一X射线源2穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由第 一线阵3接受转变为电信号输入计算机,第二X射线源2'穿过被检工件1中的 检测点P,穿过检测点P的射线由第二线阵3'接受转变为电信号输入同一计算 机,n=1~16;输入计算机的图像数据被加载到内存,或进行数据压缩,根据两 线阵采集到的数据,进行硬件合成,直接显示到显示器,或分别取出两线阵的 图像的数据,把两线阵相对与初始位置同一旋转角度的数据相加取平均值,合 成一幅立体图像。以上在初始位置和偏转n个角度后釆集到的信号输入计算机的图像数据被 加载到内存,首先计算机系统参数初始化,输入线阵与射线源的参数,建立线 阵工艺文件,或直接导入工艺文件,其处理步骤为(1) 检测启动后,n=1,由第一X射线源2穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由 第一线阵3接受转变为图象L的电信号输入计算机,第二 X射线源2'穿过被检 工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由第二线阵3'接受转变为图象A的电信号输入计算机;(2) 判断图象、、图象2!是否为空,若为空,则停止进一步检测过程,.返回重新启动;若不为空,则进行图象的合成,合成图象的象素=(图象L相应位置象素+图象2!相应位置象素)/2(3) 处理合成图象;(4) 在专用显示器上显示图象;(5) 保存图象为专用格式,或通用格式。两组X射线源相对图1所示的初始位置转动一角度A,或者被检工件1相对初始位置转动一角度e^(1 ) n=2,由第一X射线源2穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由 第一线阵3接受转变为图象12的电信号输入计算机,第二 X射线源2'穿过被检 工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由第二线阵3'接受转变为图象22的 电信号输入计算机;(2) 判断图象12、图象22是否为空,若为空,则停止进一步检测过程, 返回重新启动;若不为空,则进行图象的合成,合成图象的象素- (图象12相应位置象素+图象22相应位置象素)/2(3) 处理合成图象;(4) 在专用显示器上显示图象;(5) 保存图象为专用格式,或通用格式。两组X射线源相对图1所示的初始位置转动一角度62,或者被检工件1相 对初始位置转动一角度62, (1 ) n=3,由第一X射线源2穿过被检工件1中的检测点P,穿过检测点P的射线由 第一线阵3接受转变为图象13的电信号输入计算机,第二 X射线源2'穿过被检 工件1中的检测点P,穿本文档来自技高网...

【技术保护点】
X射线双线阵三维成像方法,用X射线源产生的X射线穿过被检工件(1)中的检测点(P),穿过检测点(P)的射线由线阵接受转变为电信号输入计算机进行数据处理,其特征在于采用两组X射线源,即第一X射线源(2)穿过被检工件(1)中的检测点(P),穿过检测点(P)的射线由第一线阵(3)接受转变为电信号通过线路(4)输入计算机,第二X射线源(2’)穿过被检工件(1)中的检测点(P),穿过检测点(P)的射线由第二线阵(3’)接受转变为电信号通过线路(4’)输入同一计算机,然后两组X射线源相对初始位置转动一角度(θ↓[1]),或者被检工件(1)相对初始位置转动一角度(θ↓[1]),在由第一X射线源(2)穿过被检工件(1)中的检测点(P),穿过检测点(P)的射线由第一线阵(3)接受转变为电信号输入计算机,第二X射线源(2’)穿过被检工件(1)中的检测点(P),穿过检测点(P)的射线由第二线阵(3’)接受转变为电信号输入同一计算机,再然后两组X射线源相对初始位置转动一角度(θ↓[2]),或者被检工件(1)相对初始位置转动一角度(θ↓[2]),在由第一X射线源(2)穿过被检工件(1)中的检测点(P),穿过检测点(P)的射线由第一线阵(3)接受转变为电信号输入计算机,第二X射线源(2’)穿过被检工件(1)中的检测点(P),穿过检测点(P)的射线由第二线阵(3’)接受转变为电信号输入同一计算机,输入计算机的图像数据被加载到内存,或进行数据压缩,根据两线阵采集到的数据,进行硬件合成,直接显示到显示器,或分别取出两线阵的图像的数据,把两线阵相对与初始位置同一旋转角度的数据相加取平均值,合成一幅立体图像。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈明王向东赵肖东刘中彦张天佑
申请(专利权)人:兰州三磊电子有限公司
类型:发明
国别省市:62[中国|甘肃]

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