光通信器件用高精度测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开一种光通信器件用高精度测试系统，包括机架、测试座、驱动机构和测试探头，所述驱动机构进一步包括X轴组件、Y轴组件和Z轴组件，所述X轴组件安装于基板上表面，所述Y轴组件安装于X轴组件上，Z轴组件的支撑板安装于Y轴组件上，所述支撑板上设置有一Z轴丝杆，此Z轴丝杆一端连接有一用于驱动Z轴丝杆旋转的Z轴电机，Z轴丝杆上套装有一螺母，所述测试座进一步包括测试基板、加热片和底板，所述底板位于测试基板正下方，所述加热片设置于测试基板与底板之间，所述加热片的中央开设有一通孔。本实用新型专利技术既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流

【技术实现步骤摘要】
光通信器件用高精度测试系统


[0001]本技术涉及一种光通信器件用高精度测试系统，属于光通讯测试


技术介绍

[0002]激光器芯片测试老化的夹具设计一直是难点，特别是温度敏感的芯片测试更是难中之难，目前业内只用常温TO测试系统，但是随着光通讯行业发展，25G、50G的TO产品越来越多需要高温测试，业内欠缺高温测试系统。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提供一种光通信器件用高精度测试系统，该光通信器件用高精度测试系统既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流-功率曲线扫描，且能够保证测试数据的一致性与稳定性，提高了测试的效率。
[0004]为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种光通信器件用高精度测试系统，包括机架、安装于机架的基板上的测试座、驱动机构和测试探头，所述驱动机构安装于基板上，所述测试探头可移动地安装于驱动机构上，并位于测试座上方；
[0005]所述驱动机构进一步包括X轴组件、Y轴组件和Z轴组件，所述X轴组件安装于基板上表面，所述Y轴组件可移动地安装于X轴组件上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件的支撑板可移动地安装于Y轴组件上，使得Z轴组件可沿Y轴方向往复运动；
[0006]所述支撑板上设置有一Z轴丝杆，此Z轴丝杆一端连接有一用于驱动Z轴丝杆旋转的Z轴电机，所述Z轴丝杆上套装有一螺母，两个所述测试探头中的一个通过转接板与螺母连接，此测试探头可随螺母在Z轴方向移动，两个所述测试探头中的另一个通过一调节组件安装于支撑板上；
[0007]所述测试座进一步包括测试基板、加热片和底板，所述底板位于测试基板正下方，所述加热片设置于测试基板与底板之间，所述加热片的中央开设有一通孔。
[0008]上述技术方案中进一步改进的方案如下：
[0009]1. 上述方案中，两个所述测试探头中与螺母连接的测试探头为光谱扫描探头。
[0010]2. 上述方案中，所述转接板上设置有若干个调节孔。
[0011]3. 上述方案中，所述通孔为矩形通孔或圆形通孔。
[0012]4. 上述方案中，所述测试基板为铝合金基板，所述底板为塑料底板。
[0013]5. 上述方案中，所述加热片为PA加热膜。
[0014]6. 上述方案中，所述测试基板、加热片和底板通过若干个螺栓连接。
[0015]由于上述技术方案的运用，本技术与现有技术相比具有下列优点：
[0016]1、本技术光通信器件用高精度测试系统，其通过在驱动机构上安装两个测试探头，既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流-功率曲线扫描，提高了测试的效率，而两个探头一个通过电机上下调节、一个可手动调节竖直方向的位置，则可以对两个探头之间的相对位置进行调节，进一步保证了不同探头的测试精度。
[0017]2、本技术光通信器件用高精度测试系统，其通过在加热片的中央开设有一通孔，使得测试座对放置于其上的多个待测试器件的加热保持均衡稳定，避免因中央温度高四周温度低导致对中央器件的测试数据与四周器件测试数据出现较大偏差，保证测试数据的一致性与稳定性。
附图说明
[0018]附图1为本技术光通信器件用高精度测试系统结构示意图；
[0019]附图2为本技术光通信器件用高精度测试系统结构局部结构示意图；
[0020]附图3为本技术测试座结构示意图；
[0021]附图4为本技术Z轴组件局部结构示意图；
[0022]附图5为图2中A处局部结构放大图。
[0023]以上附图中：1、机架；101、基板；2、测试座；21、测试基板；22、加热片；23、底板；24、通孔；3、驱动机构；31、X轴组件；32、Y轴组件；33、Z轴组件；331、支撑板；332、Z轴丝杆；333、Z轴电机；334、螺母；4、测试探头；5、调节组件。
具体实施方式
[0024]在本专利的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利的具体含义。
[0025]实施例1：一种光通信器件用高精度测试系统，包括机架1、安装于机架1的基板101上的测试座2、驱动机构3和测试探头4，所述驱动机构3安装于基板101上，所述测试探头4可移动地安装于驱动机构3上，并位于测试座2上方；
[0026]所述驱动机构3进一步包括X轴组件31、Y轴组件32和Z轴组件33，所述X轴组件31安装于基板101上表面，所述Y轴组件32可移动地安装于X轴组件31上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件33的支撑板331可移动地安装于Y轴组件32上，使得Z轴组件33可沿Y轴方向往复运动；
[0027]所述支撑板331上设置有一Z轴丝杆332，此Z轴丝杆332一端连接有一用于驱动Z轴丝杆332旋转的Z轴电机333，所述Z轴丝杆332上套装有一螺母334，两个所述测试探头4中的一个通过转接板与螺母334连接，此测试探头4可随螺母334在Z轴方向移动，两个所述测试探头4中的另一个通过一调节组件5安装于支撑板331上，通过手动调节的方式实现测试探头4在竖直方向上的位置调节；
[0028]所述测试座2进一步包括测试基板21、加热片22和底板23，所述底板23位于测试基板21正下方，所述加热片22设置于测试基板21与底板23之间，所述加热片22的中央开设有
一通孔24。
[0029]两个上述测试探头4中与螺母334连接的测试探头4为光谱扫描探头；上述转接板上设置有若干个调节孔，用于模具调试时匹配高度；上述通孔24为矩形通孔。
[0030]实施例2：一种光通信器件用高精度测试系统，包括机架1、安装于机架1的基板101上的测试座2、驱动机构3和测试探头4，所述驱动机构3安装于基板101上，所述测试探头4可移动地安装于驱动机构3上，并位于测试座2上方；
[0031]所述驱动机构3进一步包括X轴组件31、Y轴组件32和Z轴组件33，所述X轴组件31安装于基板101上表面，所述Y轴组件32可移动地安装于X轴组件31上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件33的支撑板331可移动地安装于Y轴组件32上，使得Z轴组件33可沿Y轴方向往复运动；
[0032]所述支撑板331上设置有一Z轴丝杆33本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光通信器件用高精度测试系统，其特征在于：包括机架（1）、安装于机架（1）的基板（101）上的测试座（2）、驱动机构（3）和测试探头（4），所述驱动机构（3）安装于基板（101）上，所述测试探头（4）可移动地安装于驱动机构（3）上，并位于测试座（2）上方；所述驱动机构（3）进一步包括X轴组件（31）、Y轴组件（32）和Z轴组件（33），所述X轴组件（31）安装于基板（101）上表面，所述Y轴组件（32）可移动地安装于X轴组件（31）上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件（33）的支撑板（331）可移动地安装于Y轴组件（32）上，使得Z轴组件（33）可沿Y轴方向往复运动；所述支撑板（331）上设置有一Z轴丝杆（332），此Z轴丝杆（332）一端连接有一用于驱动Z轴丝杆（332）旋转的Z轴电机（333），所述Z轴丝杆（332）上套装有一螺母（334），两个所述测试探头（4）中的一个通过转接板与螺母（334）连接，此测试探头（4）可随螺母（334）在Z轴方向移动，两个所述测试探头（4）中的另一个通过一调节组件（5）安装于支撑板（...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐鹏嵩，郭孝明，朱晶，王凯旋，
申请(专利权)人：苏州联讯仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：