一种超声检测用试块横孔测量尺制造技术

本发明专利技术公开了一种超声检测用试块横孔测量尺，包括超声检测用标准横孔测量尺的主尺、检测用标准横孔测量尺的辅尺等，超声检测用标准横孔测量尺的主尺和检测用标准横孔测量尺的辅尺平行设置，且能够相对沿着轴向移动，辅尺上的扫查面定位尺的一端与检测用标准横孔测量尺的辅尺的一端铰接，辅尺上的扫查面定位尺的另一端为自由端，扫查面定位尺上的测长尺与辅尺上的扫查面定位尺十字交叉布置，且扫查面定位尺上的测长尺与辅尺上的扫查面定位尺均能沿着对方的轴向相对移动，主尺上的定位柱的一端垂直固定在超声检测用标准横孔测量尺的主尺。本发明专利技术可以用于准确测量试块横孔圆心与扫查面高度，探头前沿/入射点与横孔圆心水平距离或外弧长。平距离或外弧长。平距离或外弧长。

【技术实现步骤摘要】
一种超声检测用试块横孔测量尺


[0001]本专利技术涉及一种超声检测用试块横孔测量尺，用于准确测量试块横孔圆心与扫查面高度，探头前沿/入射点与横孔圆心水平距离或外弧长。

技术介绍

[0002]超声波探头与试块的性能指标(探头偏向角、偏移、入射点、声束角等；试块尺寸精度等)直接影响A型脉冲反射超声声束指向性、缺陷定位定量的有效性。标准对探头性能指标有较为严格的控制要求，例如：检测标准《承压设备无损检测第3部分超声检测》NB/T47013.3-2015中规定单晶斜探头中心频率＜2MHz时，实测的声束角与标称值的偏差≤3
°
，中心频率≥2MHz时实测的声束角与标称值的偏差≤2
°
，声束角的测量由校准试块标准反射体(横孔、弧面、平底孔、槽口)的尺寸经仪器计算而得，因此试块标准反射体的尺寸误差对探头的性能指标有较大影响。
[0003]在承压设备焊接接头超声检测过程中，多采用钢板尺/游标卡尺对试块标准横孔反射体的深度、入射点等参数进行测量，当对GS、RB-C、RB-L等非平面试块的横孔深度、水平偏移等参数进行测量时，存在(1)游标卡尺定位爪基本为线型，测量点无法较精确定位；(2)横孔尺寸半径较小、无法直接测量横孔圆心距试块表面距离；(3)对RB-L横孔深度、水平偏移值无法实施测量与验证等问题；另外，NB/T 47013.3-2015对试块形状尺寸误差要求≤
±
0.05mm，当试块经过修磨后，在对试块表面腐蚀与机械损伤核查过程中，若仍采用钢板尺/游标卡尺，测量结果误差较大。因此，针对A型脉冲反射超声检测标准横孔反射体的特点，采用操作性更强的测量工具，可提高试块测量准确度，规范探头性能指标验证、DAC\TCG制作、试块年度核查等操作过程，使测量结果便于标准要求的实施。

技术实现思路

[0004]为解决上述问题，方便现场检测工作，规范超声检测标准横孔测量工作过程，本专利技术提供了一种超声检测用试块横孔测量尺。
[0005]本专利技术采用如下技术方案来实现的：
[0006]一种超声检测用试块横孔测量尺，包括超声检测用标准横孔测量尺的主尺、检测用标准横孔测量尺的辅尺、辅尺上的扫查面定位尺、扫查面定位尺上的测长尺、横孔限位柱和主尺上的定位柱；其中，超声检测用标准横孔测量尺的主尺和检测用标准横孔测量尺的辅尺上均开设有刻度，超声检测用标准横孔测量尺的主尺和检测用标准横孔测量尺的辅尺平行设置，且能够相对沿着轴向移动，辅尺上的扫查面定位尺的一端与检测用标准横孔测量尺的辅尺的一端铰接，辅尺上的扫查面定位尺的另一端为自由端，扫查面定位尺上的测长尺与辅尺上的扫查面定位尺十字交叉布置，且扫查面定位尺上的测长尺与辅尺上的扫查面定位尺均能沿着对方的轴向相对移动，主尺上的定位柱的一端垂直固定在超声检测用标准横孔测量尺的主尺。
[0007]本专利技术进一步的改进在于，横孔限位柱与主尺上的定位柱通过螺栓连接，横孔限
位柱的另一端插入横通孔试块的横孔，达到固定圆心零点的目的。
[0008]本专利技术进一步的改进在于，根据横通孔试块的横孔直径，选用不同外径尺寸的横孔限位柱。
[0009]本专利技术进一步的改进在于，超声检测用标准横孔测量尺的主尺的刻度零点位于主尺上的定位柱的圆心。
[0010]本专利技术进一步的改进在于，检测用标准横孔测量尺的辅尺通过超声检测用标准横孔测量尺的主尺齿面上的滑动凹槽与主尺进行装配。
[0011]本专利技术进一步的改进在于，辅尺上的扫查面定位尺具有设定宽度，在非平面扫查面/圆弧扫查面进行测量时，起到与扫查面相切，固定测量点的目的。
[0012]本专利技术进一步的改进在于，辅尺上的扫查面定位尺与扫查面定位尺上的测长尺之间设有滑道，通过扫查面定位尺与测长尺的限位柱对尺身进行限位和调节。
[0013]本专利技术进一步的改进在于，扫查面定位尺上的测长尺上带有刻度，且刻度零点位于齿面最左端，通过调节扫查面定位尺与测长尺的限位柱，对探头前沿/入射点与横孔圆心距离进行测量。
[0014]本专利技术进一步的改进在于，扫查面定位尺上的测长尺根据需要能够更换为具有柔性的尺子，用于测量圆弧形扫查面的探头前沿/入射点与横孔圆心之间的外弧长。
[0015]本专利技术至少具有如下有益的技术效果：
[0016]本专利技术提供的一种超声检测用试块横孔测量尺，可根据不同孔径的横孔选择横孔限位柱，通过横孔限位柱与主尺上的定位柱螺纹连接，调节扫查面定位尺的高度，通过扫查面定位尺齿面与非平面试块扫查面相切从而确定测量点，配合主尺与辅尺、借鉴游标卡尺读数方法，实现直接、精确读取横孔圆心与扫查面高度的测量。
[0017]具体的，可根据需要选择不同孔径的横孔选择横孔限位柱直径，并根据测量要求对主尺与辅尺的刻度搭配进行合理规划。
[0018]进一步，可通过调节扫查面定位尺与测长尺之间的限位柱，实现探头前沿/入射点与横孔圆心的测量。另外，可通过更换柔性测长尺，测量弧形试块探头前沿/入射点与横孔圆心之间外弧长，与仪器显示数据进行对比验证。
附图说明
[0019]图1为超声检测用标准横孔测量尺主视图；
[0020]图2为超声检测用标准横孔测量尺俯视图；
[0021]图3为超声检测用标准横孔测量尺左视图。
[0022]附图标记说明：
[0023]1为超声检测用标准横孔测量尺的主尺；2为超声检测用标准横孔测量尺的辅尺；3为辅尺上的扫查面定位尺；4为扫查面定位尺上的测长尺；5为扫查面定位尺与测长尺的限位柱；6为横孔限位柱；7为主尺上的定位柱；8为横通孔试块。
具体实施方式
[0024]以下结合附图对本专利技术做出进一步的说明。
[0025]应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术，并不用于
限制本专利技术。
[0026]在本专利技术中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”、“下”、“左”、“右”通常是用图1中的方向为基准进行描述的；
[0027]本专利技术中，并未固定主尺、辅尺与测长尺的尺寸、刻度等信息，使用时可参考工作需要合理规划；
[0028]如图1所示，本专利技术提供的一种超声检测用试块横孔测量尺，包括超声检测用标准横孔测量尺的主尺1、检测用标准横孔测量尺的辅尺2、辅尺上的扫查面定位尺3、扫查面定位尺上的测长尺4、扫查面定位尺与测长尺的限位柱5、横孔限位柱6和主尺上的定位柱7。
[0029]如图1所示，超声检测用标准横孔测量尺的主尺1与检测用标准横孔测量尺的辅尺2零点均位于横孔限位柱6与主尺上的定位7柱的圆心，在读取横通孔试块8的横孔高度时，检测用标准横孔测量尺的辅尺2可位于超声检测用标准横孔测量尺的主尺1齿面凹槽内滑动，超声检测用标准横孔测量尺的主尺1与检测用标准横孔测量尺的辅尺2配合使用，读取方法借鉴游标卡尺，测量精度可根据需要借鉴游标卡尺对尺面刻度进行排布。
[0030]如图2所示，在测量RB-L、RB-C、GS等非平面试块时，根据横通孔试块8横孔的直本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超声检测用试块横孔测量尺，其特征在于，包括超声检测用标准横孔测量尺的主尺(1)、检测用标准横孔测量尺的辅尺(2)、辅尺上的扫查面定位尺(3)、扫查面定位尺上的测长尺(4)、横孔限位柱(6)和主尺上的定位柱(7)；其中，超声检测用标准横孔测量尺的主尺(1)和检测用标准横孔测量尺的辅尺(2)上均开设有刻度，超声检测用标准横孔测量尺的主尺(1)和检测用标准横孔测量尺的辅尺(2)平行设置，且能够相对沿着轴向移动，辅尺上的扫查面定位尺(3)的一端与检测用标准横孔测量尺的辅尺(2)的一端铰接，辅尺上的扫查面定位尺(3)的另一端为自由端，扫查面定位尺上的测长尺(4)与辅尺上的扫查面定位尺(3)十字交叉布置，且扫查面定位尺上的测长尺(4)与辅尺上的扫查面定位尺(3)均能沿着对方的轴向相对移动，主尺上的定位柱(7)的一端垂直固定在超声检测用标准横孔测量尺的主尺(1)。2.根据权利要求1所述的一种超声检测用试块横孔测量尺，其特征在于，横孔限位柱(6)与主尺上的定位柱(7)通过螺栓连接，横孔限位柱(6)的另一端插入横通孔试块(8)的横孔，达到固定圆心零点的目的。3.根据权利要求2所述的一种超声检测用试块横孔测量尺，其特征在于，根据横通孔试块(8)的横孔直径，选用不同外径尺寸的横孔限位柱(6)。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵阳，王飞，贺锡鹏，丰德友，王方方，陈碧强，
申请(专利权)人：华能集团技术创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：