一种超声检测用缺陷测量尺制造技术

本发明专利技术公开了一种超声检测用缺陷测量尺，包括探头卡箍(1)、缺陷测长尺(2)和缺陷定位尺(3)；其中，缺陷测长尺(2)和缺陷定位尺(3)上均开设有刻度，缺陷定位尺(3)的一端与探头卡箍(1)开口侧相对的一侧活动连接，另一端为自由端，缺陷测长尺(2)与缺陷定位尺(3)十字交叉布置，且缺陷测长尺(2)和缺陷定位尺(3)均能沿着对方的轴向相对移动。本发明专利技术可以用于准确测量缺陷距探头前沿或探头中心点，缺陷长度等的距离。离。离。

【技术实现步骤摘要】
一种超声检测用缺陷测量尺


[0001]本专利技术涉及一种测量尺，具体涉及一种超声检测用缺陷测量尺，用于准确测量缺陷距探头前沿或探头中心点，缺陷长度等的距离。

技术介绍

[0002]A型脉冲反射斜探头超声检测过程中，需要根据仪器显示信息(水平距离、深度、声程)判断缺陷是否在受检区域；缺陷评级需要根据缺陷当量所在区域，采用“6dB”或“端点6dB”法测量缺陷的长度；结合缺陷位置、缺陷当量和缺陷长度等信息综合判断受检区域缺陷的大小，因此对缺陷位置与缺陷长度的测量对超声检测结果尤为重要。
[0003]在超声缺陷实际测量过程中，通常采用石笔或油漆笔划线的方法、使用钢板尺根据仪器显示水平距离进行测量，仪器显示水平位置实为探头前沿距缺陷水平距离或探头中心点距缺陷水平距离，存在问题是：(1)钢板尺零点并非位于探头前沿，且钢板尺通常与探头前沿留有间隙，采用钢板尺所测量的结果往往大于缺陷实际位置；(2)采用石笔或油漆笔划线较粗且为非直线，若检测表面存在耦合剂，则石笔或油漆笔划线方法也较难实施；(3)位置与长度测量需检测人员双手操作，在兼顾仪器操作的同时，操作极为不便；通常传统测量方法使得超声缺陷测量过程较为粗糙、时间效率低下、操作极为不便、测量精度较差。因此，针对A型脉冲反射超声检测缺陷测量的特点，采用操作性更强的测量工具，可规范缺陷尺寸测量、缺陷质量评级等操作，提高缺陷测量准确度与质量评级可信度。

技术实现思路

[0004]为解决上述问题，方便现场检测工作，规范超声检测缺陷测量工作过程，本专利技术提供了一种超声检测用缺陷测量尺。
[0005]本专利技术采用如下技术方案来实现的：
[0006]一种超声检测用缺陷测量尺，包括探头卡箍、缺陷测长尺和缺陷定位尺；其中，缺陷测长尺和缺陷定位尺上均开设有刻度，缺陷定位尺的一端与探头卡箍开口侧相对的一侧活动连接，另一端为自由端，缺陷测长尺与缺陷定位尺十字交叉布置，且缺陷测长尺和缺陷定位尺均能沿着对方的轴向相对移动。
[0007]本专利技术进一步的改进在于，工作时，探头卡箍能够与探头进行装配或拆卸。
[0008]本专利技术进一步的改进在于，探头卡箍在面向探头前沿侧的外表面留有凹槽。
[0009]本专利技术进一步的改进在于，缺陷定位尺的一端通过旋转定位柱与探头卡箍开口侧相对的一侧活动连接。
[0010]本专利技术进一步的改进在于，旋转定位柱包括缺陷定位尺与探头卡箍右侧旋转定位柱和缺陷定位尺与探头卡箍左侧旋转定位柱。
[0011]本专利技术进一步的改进在于，缺陷定位尺的零点刻度位于探头卡箍与探头接触面。
[0012]本专利技术进一步的改进在于，缺陷定位尺中心点留有刻度，用于对缺陷端点位置进行直接测量。
[0013]本专利技术进一步的改进在于，缺陷测长尺和缺陷定位尺通过缺陷测长尺与缺陷定位尺的限位块装配在一起。
[0014]本专利技术至少具有如下有益的技术效果：
[0015]本专利技术提供的一种超声检测用缺陷测量尺，，针对超声缺陷位置测量的特点，通过固定定位尺并移动测长尺至仪器显示读数位置，即可观察缺陷所处位置，方便缺陷记录与评判；
[0016]针对超声缺陷测长的特点，在缺陷左(右)端点时固定测长尺，并移动定位尺至缺陷右(左)端点，通过测量缺陷左右端点在测长尺上的读数，即可实现缺陷测长的目的，提高准确性与可操作性。
附图说明
[0017]图1为超声检测用缺陷测量尺主视图；
[0018]图2为超声检测用缺陷测量尺俯视图；
[0019]图3为超声检测用标准横孔测量尺左视图。
[0020]图4为超声检测用标准横孔测量尺透视图。
[0021]附图标记说明：
[0022]1为探头卡箍；2为缺陷测长尺；3为缺陷定位尺；4为缺陷测长尺与缺陷定位尺的限位块；5为缺陷定位尺与探头卡箍右侧旋转定位柱；6为缺陷定位尺与探头卡箍左侧旋转定位柱。
具体实施方式
[0023]以下结合附图对本专利技术做出进一步的说明。
[0024]应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本专利技术。
[0025]在本专利技术中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”、“下”、“左”、“右”通常是用图1中的方向为基准进行描述的；
[0026]本专利技术中，并未固定测长尺与定位尺的尺寸信息，使用时可参考工作需要合理规划；
[0027]如图1和图2所示，本专利技术提供的超声检测用缺陷测量尺，包括探头卡箍1、缺陷测长尺2、缺陷定位尺3、缺陷测长尺与缺陷定位尺的限位块4、缺陷定位尺与探头卡箍右侧旋转定位柱5以及缺陷定位尺与探头卡箍左侧旋转定位柱6。
[0028]缺陷测长尺2、缺陷定位尺3、缺陷测长尺与缺陷定位尺的限位块4与探头卡箍1通过缺陷定位尺与探头卡箍右侧旋转定位柱5以及缺陷定位尺与探头卡箍左侧旋转定位柱6进行装配，且可随缺陷定位尺与探头卡箍右侧旋转定位柱5以及缺陷定位尺与探头卡箍左侧旋转定位柱6进行旋转，当需要测量时旋转至水平，当无需测量且不拆卸时旋转至垂直。
[0029]探头卡箍1(面向探头前沿侧)外表面留有凹槽，其是为了安装左右两侧的陷定位尺与探头卡箍右侧旋转定位柱5以及缺陷定位尺与探头卡箍左侧旋转定位柱6，装配探头卡箍与定位尺，并在旋转垂直时安放定位尺至探头卡箍内部。
[0030]缺陷定位尺3的零点刻度位于卡箍与探头接触面，减小零点位置对测量的误差。缺
陷定位尺3中心点留有刻度，可对缺陷端点位置进行直接测量。
[0031]如图1所示，当需要对超声检测缺陷尺寸进行测量时，将探头卡箍1固定于探头底部，缺陷测量尺将与探头一起移动。
[0032]如图3和图4所示，缺陷测长尺2、缺陷定位尺3与缺陷测长尺与缺陷定位尺的限位块4作为整体可随缺陷定位尺与探头卡箍右侧旋转定位柱5和缺陷定位尺与探头卡箍左侧旋转定位柱6可做顺时针90
°
旋转，当需要对超声检测缺陷尺寸进行测量时，顺时针旋转缺陷测长尺2、缺陷定位尺3与缺陷测长尺与缺陷定位尺的限位块4至水平，即可开展缺陷测量工作。
[0033]如图1所示，当对缺陷位置进行测量时，移动缺陷测长尺2与缺陷测长尺与缺陷定位尺的限位块4至仪器显示读数，通过读取缺陷测长尺2下边沿在缺陷定位尺3上的指示读数测得缺陷位置。
[0034]如图1所示，当对缺陷长度进行测量时，找到缺陷左(右)端点，固定缺陷测长尺2，移动缺陷定位尺3继续找到缺陷右(左)端点，读取缺陷定位尺3左边沿或右边沿或中点刻度线在缺陷测长尺2上的指示读数，通过左右端点两读数的差值测得缺陷长度信息。
[0035]如图1所示，当对缺陷长度端点进行测量时，固定缺陷测长尺2，移动缺陷定位尺3继续找到缺陷右和左端点，通过读取缺陷定位尺3中点刻度线在缺陷测长尺2上的指示读数测得端点刻度信息。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超声检测用缺陷测量尺，其特征在于，包括探头卡箍(1)、缺陷测长尺(2)和缺陷定位尺(3)；其中，缺陷测长尺(2)和缺陷定位尺(3)上均开设有刻度，缺陷定位尺(3)的一端与探头卡箍(1)开口侧相对的一侧活动连接，另一端为自由端，缺陷测长尺(2)与缺陷定位尺(3)十字交叉布置，且缺陷测长尺(2)和缺陷定位尺(3)均能沿着对方的轴向相对移动。2.根据权利要求1所述的一种超声检测用缺陷测量尺，其特征在于，工作时，探头卡箍(1)能够与探头进行装配或拆卸。3.根据权利要求1所述的一种超声检测用缺陷测量尺，其特征在于，探头卡箍(1)在面向探头前沿侧的外表面留有凹槽。4.根据权利要求1所述的一种超声检测用缺陷测量尺，其特征在于，缺陷定位...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵阳，王飞，王理博，张喜，魏亚兵，刘璐，
申请(专利权)人：华能集团技术创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：