一种发光元件的检测方法，包括：提供设置有待检测的多个发光元件与多条导电走线的基板，每一发光元件包括分别与一条导电走线电性连接的正极与负极，基板对应每一个发光元件开设有一对通孔，每一对通孔分别对准与一个发光元件的正极与负极连接的导电走线；提供线圈结构，线圈结构包括第一线圈与第一线圈结构电性连接的两个导电插头；提供金属棒与缠绕金属棒且与交流电源电性连接的第二线圈；将两个导电插头分别插入一个发光元件对应的一对通孔内使第一线圈与该发光元件电性连接，启动交流电源并使金属棒朝向线圈结构移动，第一线圈产生感应电流驱动发光元件发光以检测该发光元件是否失效。本发明专利技术还提供一种检测多个发光元件的检测装置以及基板。的检测装置以及基板。的检测装置以及基板。
【技术实现步骤摘要】
发光元件的检测方法、检测装置及基板
[0001]本专利技术涉及一种发光元件的检测方法、检测发光元件的检测装置以及基板。
技术介绍
[0002]微型发光元件的尺寸比较小，制作在一基板上的微型发光元件的数量通常有上万颗。现有技术通常采用探针直接接触微型发光元件的电极方式来测量判断微型发光元件是否能够正常发光。由于基板上的微型发光元件数量众多，微型发光元件的尺寸小且相邻微型发光元件的间距也很小，在检测单颗微型发光元件过程中，要准确地接触微型发光元件的电极非常花费时间，且直接接触微型发光元件测量方法也会存在破坏微型发光元件的风险。
技术实现思路
[0003]鉴于此，有必要提供一种发光元件的检测方法，以解决检测发光元件过程中直接接触发光元件的电极时产生的耗时与易损坏发光元件的问题。
[0004]本专利技术提供一种发光元件的检测方法，包括：
[0005]提供设置有待检测的多个发光元件与多条导电走线的基板，每一发光元件包括正极与负极，所述正极与所述负极分别连接一条导电走线，所述基板对应每一个发光元件开设有一对通孔，每一对通孔分别对准与一个发光元件的所述正极和所述负极连接的导电走线；
[0006]提供线圈结构，所述线圈结构包括第一线圈与两个导电插头，所述两个导电插头分别与所述第一线圈的两端电性连接；
[0007]提供金属棒与缠绕所述金属棒的第二线圈，所述第二线圈与交流电源电性连接；以及，
[0008]当检测所述基板上的发光元件时，将所述线圈结构的两个导电插头分别插入一个发光元件对应的一对通孔内，使所述第一线圈与该发光元件电性连接，启动所述交流电源，并使所述金属棒朝向所述线圈结构移动，从而使所述第一线圈形成感应电流用于驱动发光元件发光，以检测该发光元件是否失效。
[0009]本专利技术还提供一种检测多个发光元件的检测装置，用于检测一基板上的所述多个发光元件是否有效，包括：
[0010]线圈结构，包括第一线圈与两个导电插头，所述两个导电插头分别与所述第一线圈的两端电性连接；
[0011]金属棒；以及，
[0012]缠绕所述金属棒的第二线圈，所述第二线圈与交流电源电性连接。
[0013]本专利技术还提供一种基板，所述基板上设置有多个发光元件与多条导电走线，每一发光元件包括正极与负极，所述正极与所述负极分别连接一条所述导电走线，所述基板对应每一个发光元件开设有一对通孔，每一对所述通孔分别对准与一个发光元件的所述正极
与所述负极连接的导电走线。
[0014]相对于现有技术，在该检测方法中，将所述线圈结构的两个导电插头插入需检测的发光元件对应的一对通孔内，使该发光元件与所述第一线圈电性连接，启动与第二线圈结构电性连接的交流电源，可通过所述线圈结构、金属棒与所述第二线圈以及电磁感应方法检测该发光元件是否失效。相对接触发光元件电极进行检测方法，利用电磁感应方法可快速检测每一发光元件，同时解决了检测过程中因直接接触发光元件造成的损坏发光元件的问题。
附图说明
[0015]图1为本专利技术实施例的发光元件的检测方法的流程图。
[0016]图2为本专利技术实施例的基板、线圈结构、金属棒与第二线圈的示意图。
[0017]图3为本专利技术实施例的第一线圈与第二线圈之间的电磁感应示意图。
[0018]图4为本专利技术实施例的基板的多个子单元的示意图。
[0019]图5为本专利技术实施例的插板对应一个子单元的示意图。
[0020]图6为本专利技术实施例的插板包括多个区的示意图。
[0021]主要元件符号说明
[0022]基板
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
100
[0023]发光元件
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
10
[0024]正极
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
11
[0025]负极
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
12
[0026]导电走线
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
13
[0027]通孔
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
14
[0028]子单元
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
15
[0029]线圈结构
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
200
[0030]第一线圈
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
20
[0031]导电插头
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
21
[0032]金属棒
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
30
[0033]第二线圈
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
31
[0034]插板
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
400
[0035]区
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
40
[0036]交流电源
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
500
[0037]检测装置
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
600
[0038]第一方向
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
D1[0039]第二方向
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
D2[0040]步骤
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
S1～S4
[0041]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。
具体实施方式
[0042]附图中示出了本专利技术的实施例，本专利技术可以通过多种不同形式实现，而并不应解
释为仅局限于这里所阐述的实施例。相反，提供这些实施例是为了使本专利技术更为全面与完整的公开，并使本领域的技术人员更充分地了解本专利技术的范围。为了清晰可见，在图中，层与第一区域的尺寸被放大了。
[0043]除非另外定义，这里所使用的所有术语(包括技术与科学术语)具有与本专利技术所述领域的普通技术人员所通常理解的含义相同的含义。还应当理解，比如在通用的辞典中所定义的那些的术语，应解释为具有与它们在相关领域的环境中的含义相一致的含义，而不应以过度理想化或过度正式的含义来解释，除非在本文中明确地定义。
[0044]参本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种发光元件的检测方法，包括如下步骤：提供设置有待检测的多个发光元件与多条导电走线的基板，每一发光元件包括正极与负极，所述正极与所述负极分别连接一条导电走线，所述基板对应每一个发光元件开设有一对通孔，每一对通孔分别对准与一个发光元件的所述正极和所述负极连接的导电走线；提供线圈结构，所述线圈结构包括第一线圈与两个导电插头，所述两个导电插头分别与所述第一线圈的两端电性连接；提供金属棒与缠绕所述金属棒的第二线圈，所述第二线圈与交流电源电性连接；以及当检测所述基板上的发光元件时，将所述线圈结构的两个导电插头分别插入一个发光元件对应的一对通孔内，使所述第一线圈与该发光元件电性连接，启动所述交流电源，并使所述金属棒朝向所述线圈结构移动，从而使所述第一线圈形成感应电流用于驱动发光元件发光，以检测该发光元件是否失效。2.如权利要求1所述的发光元件的检测方法，其特征在于，提供所述基板的步骤包括：设置所述多个发光元件位于所述基板的同一表面，并使得每一所述通孔贯穿其对准的导电走线；检测发光元件时，所述线圈结构放置于所述基板背离所述多个发光元件的一侧且与需检测的发光元件正对，所述金属棒放置于所述线圈结构远离所述基板的一侧，且所述金属棒正对所述第一线圈。3.如权利要求2所述的发光元件的检测方法，其特征在于，提供所述线圈结构的步骤包括：提供一插板，至少一个所述线圈结构设置于所述插板的一表面上。4.如权利要求3所述的发光元件的检测方法，其特征在于，所述插板上设置有多个线圈结构，且多个所述线圈结构与所述基板上的多个发光元件一一对应设置；且检测发光元件时，多个所述线圈结构与所述基板上的多个发光元件一一对应地电性连接。5.如权利要求3所述的发光元件的检测方法，其特征在于，提供所述基板的步骤还包括：所述基板包括矩阵排布的多个子单元，每一个子单元中设...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴弘智，
申请(专利权)人：业成光电深圳有限公司英特盛科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。