【技术实现步骤摘要】
一种入射点非转动原点PSD角度检测标定方法
[0001]本专利技术涉及检测领域,特别涉及一种入射点非转动原点PSD(Photo Sensing Diode,光敏二极管)角度检测标定方法。
技术介绍
[0002]物体发生震动或受到外力而引起形变,会引起其表面发生角度变化。很多时候,通过检测这些角度变化来确定物体发生震动或受到外力作用的程度大小。目前,主要有采用便携式数字激光测震仪(PDV:Portable Digital Vibrometer)以及索尼堆栈式镜头(RS-CMOS)进行检测。PDV的检测方式是利用多普勒效应,利用接受到的震动物体对发射光速度的调制,通过算法推算出震动物体的速度,转化成相对位移,通过数学公式转换,从而把位移转换成角度的变化。而RS-CMOS的方式是利用相似三角形的原理,利用RS-CMOS位置感应器件,推导出震动物体相对位移,通过数学公式转换,从而把位移转换成角度的变化。但这两种方式均存在以下问题:都是成本太高,计算复杂,不适合量产。
[0003]此外,目前的检测方式检测得到的一般是模拟在理想状态下的测试结果,如设定激光入射点与待测产品发生转动的原点为同一个点。这与现实测量的情况(激光入射点与待测产品发生转动的原点为两个不同的点)存在较大差异,无法实现精确的测量。
技术实现思路
[0004]本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种能适应入射点与转动原点不一致的情况下便捷地对待测产品旋转角度的标定的入射点非转动原点PSD角度检测标定方法。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种入射点非转动原点PSD角度检测标定方法,该方法通过光电传感器角度检测系统实现,所述光电传感器角度检测系统包括激光发射器(1)、产品机台(2)、PSD板卡(3),待测产品定位于所述产品机台(2)上,外力驱使待测产品发生转动动作,所述PSD板卡(3)通过移动马达(4)设置,所述激光发射器(1)对待测产品进行照射,所述PSD板卡(3)位于待测产品反射的激光光路上且初始状态时所述PSD板卡(3)的板面垂直于待测产品反射的激光光路,当外力使待测产品发生角度旋转时,激光在待测产品上的入射角或反射角发生变化,当激光在待测产品表面的入射点与待测产品发生旋转的原点相一致时,设所述激光发射器(1)的入射光路不变,设待测产品表面发生转动角度Δθ,反射光角度转动为Δ2θ,所述PSD板卡(3)把反射光角度的变化转换成电压的过程如下:Δθ=K *Δδ
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(1)Δδ= (VA-VB)/(VA+VB)
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(2)其中,Δδ代表由于待测产品表面角度变化而引起的所述PSD板卡(3)的电流检测电路检测到的电压变化,VA 和VB分别代表激光光斑在PSD板卡上移动前后的输出电压值;由反射理论,当反射平面转动θ时,则反射激光角度变化2θ,反射点到PSD板卡(3)的距离为L, 设从待测产品表面出射的激光在PSD板卡上的光斑发生偏移的距离为 a,则存在下面的对应关系:a = L * tan (2θ)
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(3)为了模拟待测产品的转动产生的PSD板卡电压比值的变化,保持待测产品夹具平台不动,在反射光斑垂直照射在PSD板卡上,再通过移动马达使PSD板卡发生偏移量a,记录PSD板卡VA和VB的数值变化,设Δδ和光斑偏移量a的关系因数为K1,则Δδ和光斑偏移量a的关系为:Δδ = K1 * a
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(4)根据待测产品的角度变化和光斑在PSD板卡的位移关系式(3)并设激光在PSD板卡上的光斑位移量a与待测产品反射平面转动角θ的关系因数为K2,得出:a = K2 *θ
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(5)根据公式(4)和公式(5)推导出:Δδ= K1* K2*θ
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(6)从而得出入射点和转动原点相同时的标定系数:K=K1* K2
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(7)其特征在于,该方法还包括以下步骤:A、当激光在待测产品表面的入射点与待测产品发生旋转的原点不一致且待测产品发生顺时针旋转时,设y为反射光斑中心至旋转轴的距离,L为反射光斑中心至PSD的距离,θ为顺时针旋转角,a为PSD上光斑移动距离,将PSD板卡上光斑发生移动后的光斑中心点与发生旋转后的待测产品上的激光反射点连接,形成连接线,以连接线作为基准,经过待测产品发生旋转前的激光反射点作平行线g且该平行线g穿过所述PSD板卡,以该平行线g穿过所述PSD板卡的点与PSD板卡上的光斑发生移动后的光斑中心点之间的连线为短边b,以平行线g与所述PSD板卡的交点到待测产品发生旋转前的激光反射点之间的连线作为长边作平行四边形,以a和b的长度之和作为构成直角三角形的底边,直角三角形的锐角分别为2θ、90
°-
【专利技术属性】
技术研发人员:杨文解,王灵光,徐爽,孟凡伟,
申请(专利权)人:珠海市运泰利自动化设备有限公司,
类型:发明
国别省市:
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