图像数据集缺陷热点分布显示方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种图像数据集缺陷热点分布显示方法和装置，所述方法包括以下步骤：获取样本图像；对样本图像进行处理；对处理后的样本图像进行缺陷标注，作为样本图像数据集；将图像数据集中的所有缺陷标注按照预设规则显示在同一张图像上。本发明专利技术的显示方法，能够直观地呈现产品的缺陷分布情况，减少统计缺陷热力分布的时间成本和人力成本，提高生产效率，为相关工作人员提供微观上的历史参考，并且通过图像数据集的缺陷分布，有助于改善产品质量，降低产品缺陷。降低产品缺陷。降低产品缺陷。

【技术实现步骤摘要】
图像数据集缺陷热点分布显示方法和装置


[0001]本专利技术涉及缺陷检测
，具体涉及一种图像数据集缺陷热点分布显示方法、一种图像数据集缺陷热点分布显示装置、一种计算机设备和一种非临时性计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前的产品缺陷检测技术已经得到广泛应用，只是将缺陷检测出来，技术人员无法直观的查看缺陷的分布情况，需要时间成本和人力成本进行人工筛选缺陷。

技术实现思路

[0003]本专利技术为解决上述技术问题，提供了一种图像数据集缺陷热点分布显示方法，能够直观地呈现产品的缺陷分布情况，减少统计缺陷热力分布的时间成本和人力成本，提高生产效率，为相关工作人员提供微观上的历史参考，并且通过图像数据集的缺陷分布，有助于改善产品质量，降低产品缺陷。。
[0004]本专利技术采用的技术方案如下：
[0005]一种图像数据集缺陷热点分布显示方法，包括以下步骤：获取样本图像；对所述样本图像进行处理；对处理后的所述样本图像进行缺陷标注，作为样本图像数据集；将所述图像数据集中的所有缺陷标注按照预设规则显示在同一张图像上。
[0006]根据本专利技术的一个实施例，对处理后的所述样本图像进行缺陷标注，作为样本图像数据集，包括：对处理后的所述样本图像的缺陷类型和缺陷坐标进行标注；当所述样本图像的缺陷类型为预设缺陷类型时，提取出原始缺陷的外接四边形；保存所述原始缺陷的坐标和所述原始缺陷的外接四边形的坐标，作为样本图像数据集。
[0007]根据本专利技术的一个实施例，将所述图像数据集中的所有缺陷标注按照预设规则显示在同一张图像上，包括：获取所述样本图像数据集中的所有光学面，其中，所述光学面包括：正面、侧面、反面、背面中的一种或多种；根据目标光学面的样本图像数据集获取所有缺陷类型；获取目标缺陷类型，并根据所述目标缺陷类型和所述目标光学面的样本图像数据集获取每一张样本图像的缺陷标注；当所述目标缺陷类型为所述预设缺陷类型时，显示所述目标光学面的样本图像数据集中的原始缺陷的外接四边形。
[0008]根据本专利技术的一个实施例，将所述图像数据集中的所有缺陷标注按照预设规则显示在同一张图像上，还包括：当所述目标缺陷类型不为所述预设缺陷类型时，显示所述目标光学面的样本图像数据集中的原始缺陷。
[0009]根据本专利技术的一个实施例，对所述样本图像进行处理，包括：获取基准图像，并根据所述基准图像获取待对齐图像；将所述待对齐图像转换为灰度图；基于OpenCV获取估算矩阵；根据估算矩阵将所述待对齐图像与所述基准图像对齐。
[0010]本专利技术还提出了一种图像数据集缺陷热点分布显示装置，包括：获取模块，用于获取样本图像；处理模块，用于对所述样本图像进行处理；标注模块，用于对处理后的所述样
本图像进行缺陷标注，作为样本图像数据集；显示模块，用于将所述图像数据集中的所有缺陷标注按照预设规则显示在同一张图像上。
[0011]本专利技术还提出了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现上述的图像数据集缺陷热点分布显示方法。
[0012]本专利技术还提出了一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述的图像数据集缺陷热点分布显示方法。
[0013]本专利技术的有益效果：
[0014]本专利技术首先获取样本图像，并对样本图像进行处理，然后对处理后的样本图像进行缺陷标注，作为样本图像数据集，并将图像数据集中的所有缺陷标注按照预设规则显示在同一张图像上，从而你能够直观地呈现产品的缺陷分布情况，减少统计缺陷热力分布的时间成本和人力成本，提高生产效率，为相关工作人员提供微观上的历史参考，并且通过图像数据集的缺陷分布，有助于改善产品质量，降低产品缺陷。
附图说明
[0015]图1为本专利技术实施例的图像数据集缺陷热点分布显示方法的流程图；
[0016]图2为本专利技术一个实施例的对样本图像进行处理的示意图；
[0017]图3为本专利技术一个实施例对处理后的样本图像进行缺陷标注的示意图；
[0018]图4为本专利技术另一个实施例对处理后的样本图像进行缺陷标注的示意图；
[0019]图5为本专利技术一个实施例的图像数据集缺陷热点分布显示的流程图；
[0020]图6为本专利技术实施例的图像数据集缺陷热点分布显示装置的方框示意图。
具体实施方式
[0021]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0022]图1为本专利技术实施例的图像数据集缺陷热点分布显示方法的流程图。
[0023]如图1所示，本专利技术实施例的图像数据集缺陷热点分布显示方法，可包括以下步骤：
[0024]S1，获取样本图像。
[0025]具体而言，以工业物联网下的图像采集为例，作业人员使用高清摄像机在工业现场采集样本图像(例如，手机背板)，并将采集的样本图像存储，便于调用。
[0026]S2，对样本图像进行处理。
[0027]根据本专利技术的一个实施例，对样本图像进行处理，包括：获取基准图像，并根据基准图像获取待对齐图像；将待对齐图像转换为灰度图；基于OpenCV获取估算矩阵；根据估算矩阵将待对齐图像与基准图像对齐。
[0028]具体而言，由于使用相机拍摄图像时的角度、位置等影响，作业人员在在工业现场采集到的图像会有一些偏差，例如，发生了平移、旋转或者其他3D变换等。这样无法保证一
批缺陷图像中的每一张图片都能一一对齐，从而无法将所有图像的缺陷分布显示在一张底图上。为了解决这一问题，可采用基于OpenCV的图像对齐算法来实现图像的对齐。
[0029]具体地，如图2所示，首先获取基准图像，即以该图像为基准，将其余图像与该基准图像对其，然后获取需要对齐的图像，基于OpenCV将待对齐图像转换为灰度图像，根据待对齐图像与基准图像之间的位置关系选择运动模型，例如，当待对齐图像需要经过平移可以与基准图像对齐时，选择能够使待对齐图像平移的运动模型，又如，当待对齐图像需要经过旋转可以与基准图像对齐时，选择能够使待对齐图像旋转的运动模型。然后将该运动模型进行存储，基于OpenCV调用findTransformECC函数估算warp矩阵，将待对齐图像输入到该估算矩阵中，待对齐图像与基准图像对齐。
[0030]S3，对处理后的样本图像进行缺陷标注，作为样本图像数据集。
[0031]根据本专利技术的一个实施例，对处理后的样本图像进行缺陷标注，作为样本图像数据集，包括：对处理后的样本图像的缺陷类型和缺陷坐标进行标注；当样本图像的缺陷类型为预设缺陷类型时，提取出原始缺陷的外接四边形；保存原始缺陷的坐标和原始缺陷的外接四边形的坐标，作为样本图像数据集。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像数据集缺陷热点分布显示方法，其特征在于，包括以下步骤：获取样本图像；对所述样本图像进行处理；对处理后的所述样本图像进行缺陷标注，作为样本图像数据集；将所述图像数据集中的所有缺陷标注按照预设规则显示在同一张图像上。2.根据权利要求1所述的图像数据集缺陷热点分布显示方法，其特征在于，对处理后的所述样本图像进行缺陷标注，作为样本图像数据集，包括：对处理后的所述样本图像的缺陷类型和缺陷坐标进行标注；当所述样本图像的缺陷类型为预设缺陷类型时，提取出原始缺陷的外接四边形；保存所述原始缺陷的坐标和所述原始缺陷的外接四边形的坐标，作为样本图像数据集。3.根据权利要求2所述的图像数据集缺陷热点分布显示方法，其特征在于，将所述图像数据集中的所有缺陷标注按照预设规则显示在同一张图像上，包括：获取所述样本图像数据集中的所有光学面，其中，所述光学面包括：正面、侧面、反面、背面中的一种或多种；根据目标光学面的样本图像数据集获取所有缺陷类型；获取目标缺陷类型，并根据所述目标缺陷类型和所述目标光学面的样本图像数据集获取每一张样本图像的缺陷标注；当所述目标缺陷类型为所述预设缺陷类型时，显示所述目标光学面的样本图像数据集中的原始缺陷的外接四边形。4.根据权利要求3所述的图像数据集缺陷热点分布显...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘小苏，潘正颐，韩锦，
申请(专利权)人：常州微亿智造科技有限公司，
类型：发明
国别省市：