芯片故障诊断方法、装置、可读存储介质及电子设备制造方法及图纸

本公开提供了一种芯片故障诊断方法，包括：基于中断标志寄存器中标识中断状态的第一数据，确定所述中断标志寄存器的中断标志；基于所述中断标志，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态。采用本公开提供的技术方案，能够及时的诊断出中断的故障，且能够及时对中断进行处理。断进行处理。断进行处理。

【技术实现步骤摘要】
芯片故障诊断方法、装置、可读存储介质及电子设备


[0001]本公开涉及芯片
，尤其涉及一种芯片故障诊断方法、装置、可读存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]SOC芯片中的硬件功能模块发出中断请求来中断CPU中的软件是SOC的基本功能之一。当遇到预先定义好的中断事件时，硬件功能模块发出中断请求给中断控制器，中断控制器会产生中断信号给指定的CPU来中断该CPU的常规程序，从而使得中断事件处理程序能够优先得到执行。
[0003]一般SOC中，中断事件在SOC的硬件功能模块中发生，然后硬件功能模块把中断信号通过SOC片上总线或中断信号线等方式传递给中断控制器。中断控制器收到中断信号后再根据该中断信号的配置将中断信号发送给指定的CPU。CPU收到该中断信号后，尝试中断正在运行的普通程序，然后再调用对应的芯片中断处理程序。
[0004]但是，由于现有技术中通常通过中断信号来启动中断处理过程，收到信号即启动中断处理过程，未收到信号不启动中断处理过程，这种处理方式当硬件功能模块、中断控制器或通信链路出现故障时，会难以收到信号或收到错误的信号，并依照未收到信号或收到错误的信号执行程序，难以发现该故障。

技术实现思路

[0005]为了解决上述技术问题，提出了本公开。本公开的实施例提供了一种芯片故障诊断方法、装置、可读存储介质及电子设备，能够及时的确定芯片的故障状态，有利于及时排除故障。
[0006]根据本公开的一个方面，提供了一种芯片故障诊断方法，包括：
[0007]基于中断标志寄存器中标识中断状态的第一数据，确定所述中断标志寄存器的中断标志；
[0008]基于所述中断标志，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态。
[0009]根据本公开的第二方面，提供了一种芯片故障诊断装置，包括：
[0010]中断标志确定模块，用于基于中断标志寄存器中标识中断状态的第一数据，确定所述中断标志寄存器的中断标志；
[0011]故障状态确定模块，用于基于所述中断标志，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态。
[0012]根据本公开的第三方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序用于执行上述任一所述的芯片故障诊断方法。
[0013]根据本公开的第四方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0014]处理器；
[0015]用于存储所述处理器可执行指令的存储器；
[0016]所述处理器，用于从所述存储器中读取所述可执行指令，并执行所述指令以实现上述任一所述的芯片故障诊断方法。
[0017]在本公开中提供的上述四个技术方案，通过中断标志寄存器中的第一数据，确定中断标志，由于中断标志能够标识中断是否发生，因此，可以依据中断标志确定对应的芯片中断故障的状态；在本公开的技术方案中，由于中断标志寄存器中的中断标志标识了芯片中断的状态类型，因此，无论是否收到中断信号，都可以通过该中断标志所表征的中断状态进行验证，从而能够及时的确定芯片的故障状态，有利于及时排除故障，也有利于及时的对中断进行处理。
附图说明
[0018]通过结合附图对本公开实施例进行更详细的描述，本公开的上述以及其他目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本公开实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本公开实施例一起用于解释本公开，并不构成对本公开的限制。在附图中，相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。
[0019]图1是本公开所适用的中断处理系统的结构图。
[0020]图2是本公开一示例性实施例提供的芯片故障诊断方法的流程示意图。
[0021]图3是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断方法中确定中断故障状态的流程示意图。
[0022]图4是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断方法中确定中断故障状态的流程示意图。
[0023]图5是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断方法中确定中断故障状态的流程示意图。
[0024]图6是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断方法中多核SOC中断程序处理中断的流程示意图。
[0025]图7是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断方法中单核SOC中断程序处理中断的流程示意图。
[0026]图8是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断方法中确定中断故障状态的流程示意图。
[0027]图9是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断方法的中单核SOC非中断程序处理中断的流程示意图。
[0028]图10是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断方法中确定中断故障状态的流程示意图。
[0029]图11是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断方法中多核SOC非中断程序处理中断的流程示意图。
[0030]图12是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断装置的示意图。
[0031]图13是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断装置的故障状态确定模块的示意图。
[0032]图14是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断装置的故障状态确定模块的示意图。
[0033]图15是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断装置的故障状态确定模块的部分示意图。
[0034]图16是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断装置的示意图。
[0035]图17是本公开另一示例性实施例提供的芯片故障诊断装置的示意图。
[0036]图18是本公开一示例性实施例提供的电子设备的结构图。
具体实施方式
[0037]下面，将参考附图详细地描述根据本公开的示例实施例。显然，所描述的实施例仅仅是本公开的一部分实施例，而不是本公开的全部实施例，应理解，本公开不受这里描述的示例实施例的限制。
[0038]申请概述
[0039]在一般SOC中，中断事件会发生在硬件功能模块，其中，硬件功能模块例如网络模块、输入输出模块、存储模块或图像采集模块等，例如网络模块可以为以太网模块，图像采集模块可以为摄像头等，然后硬件功能模块把中断信号通过SOC片上总线或中断信号线等方式传递给中断控制器。中断控制器收到中断信号后再根据该中断信号的配置将中断信号发送给指定的CPU。CPU收到该中断信号后，尝试中断正在运行的普通程序，然后再调用对应的中断处理程序。这种中断处理过程中，仅仅依靠中断信号来判断中断的发生，当硬件功能模块、中断控制器或通信链路出现故障时，会始终难以收到中断信号或收到错误的信号并依照未收到信号或收到的错误信号执行程序，不能及时发现该故障。
[0040]针对上述的问题，本公开提供了一种芯片故障诊断方法，包括：
[0041]基于中断标志寄存器中标识中断状态的第一数据，确定所述中断标志寄存器的中断标志；
[0042]基于所述中断标志，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态。
[0043]在本公开提供的技术方案中，通过中断标志寄存器中的第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片故障诊断方法，包括：基于中断标志寄存器中标识中断状态的第一数据，确定所述中断标志寄存器的中断标志；基于所述中断标志，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于所述中断标志，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态包括：确定所述中断标志的状态类型；基于所述中断标志的状态类型，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态。3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述中断标志的状态类型包括表示中断发生状态的第一状态类型和表示中断使能状态的第二状态类型；所述确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态包括：若所述第一状态类型表示未置起的状态类型，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态为中断已发生故障；若所述第一状态类型表示已置起的状态类型，查询所述芯片第二状态类型；基于所述第二状态类型，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态。4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述基于所述第二状态类型，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态包括：若所述第二状态类型表示已使能的状态类型，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态为中断未发生故障；若所述第二状态类型表示未使能的状态类型，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态为中断已发生故障。5.根据权利要求2所述的方法，其中，所述基于中断标志寄存器中标识中断状态的第一数据，确定所述中断标志寄存器的中断标志之前包括：基于预定的时间间隔，查询所述中断标志寄存器中标识中断状态第一数据；基于所述第一状态类型，确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态包括：若所述第一状态类型表示已置起的状态类型，查询...

【专利技术属性】
技术研发人员：张斌，
申请(专利权)人：地平线上海人工智能技术有限公司，
类型：发明
国别省市：