一种瓷片检验机制造技术

本实用新型专利技术公开一种瓷片检验机，包括：支架、瓷片传送带、自动跟踪相机、第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、第三激光位移传感器第四激光位移传感器和电脑；本实用新型专利技术通过自动跟踪相机拍摄获取瓷片的清晰图像，通过设于支架上部四角区域的四个激光位移传感器检测获取瓷片的尺寸信息，检测效率高，检测结果精确，同时自动化。同时自动化。同时自动化。

【技术实现步骤摘要】
一种瓷片检验机


[0001]本技术涉及瓷片检测
，尤其涉及一种瓷片检验机。

技术介绍

[0002]陶瓷是以天然粘土以及各种天然矿物为主要原料经过粉碎混炼、成型和煅烧制得的材料的各种制品，按材料分，可分为粗陶，细陶，炻器，半瓷器，以至瓷器，原料是从粗到精，坯体是从粗松多孔，逐步到达致密，烧结，烧成温度也是逐渐从低趋高，在瓷器的生产加工中，通常需要利用检测机对陶瓷尺寸、颜色、图案进行检测，挑出不合格的次品。
[0003]传统瓷片的质量检测通常都是通过普通相机对到达拍摄区域的瓷片进行拍摄，只能获取瓷片的图像数据，无法得到瓷片的其他参数，比如说尺寸或者颜色等等。使得在后期处理中，不能很好的判断出瓷片的质量问题。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。
[0005]本技术的目的采用如下技术方案实现：一种瓷片检验机，包括：支架、瓷片传送带、自动跟踪相机、第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、第三激光位移传感器、第四激光位移传感器和电脑；
[0006]所述瓷片传送带设于所述支架的下部并穿过所述支架；所述自动跟踪相机设于所述支架上部；所述第一激光位移传感器、所述第二激光位移传感器、所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器分别设于所述支架上部的四个角上且均朝向所述瓷片传送带的中间区域；所述电脑分别与所述自动跟踪相机、所述第一激光位移传感器、所述第二激光位移传感器、所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器连接。
[0007]作为上述技术方案的进一步改进，还包括瓷片烘箱，所述瓷片烘箱与所述瓷片传送带的末端连接。实现瓷片的下一步干燥处理。
[0008]作为上述技术方案的进一步改进，还包括LED灯，所述LED灯设于所述支架上部。使得获取的瓷片的图像更加清晰。
[0009]作为上述技术方案的进一步改进，所述第一激光位移传感器和所述第二激光位移传感器位于所述瓷片传送带的起点上方；所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器位于所述瓷片传送带的终点上方。实现对瓷片尺寸的获取。
[0010]作为上述技术方案的进一步改进，所述第一激光位移传感器和所述第二激光位移传感器与所述瓷片传送带的传送方向的夹角为钝角；所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器与所述瓷片传送带的传送方向的夹角为锐角。实现对瓷片尺寸的精确获取。
[0011]作为上述技术方案的进一步改进，所述第一激光位移传感器和所述第二激光位移传感器与所述瓷片传送带的传送方向的夹角为135度；所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器与所述瓷片传送带的传送方向的夹角为45度。实现对瓷片尺寸的精确获
取。
[0012]本技术的有益效果是：本技术通过自动跟踪相机拍摄获取瓷片的清晰图像，通过设于支架上部四角区域的四个激光位移传感器检测获取瓷片的尺寸信息，检测效率高，检测结果精确，同时自动化。
[0013]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0014]本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0015]图1是本技术提供的一种瓷片检验机的结构示意图。
具体实施方式
[0016]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0017]在本技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0018]在本技术的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0019]本技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本技术中的具体含义。
[0020]参照图1，一种瓷片检验机，包括：支架100、瓷片传送带101、自动跟踪相机102、第一激光位移传感器103、第二激光位移传感器104、第三激光位移传感器105、第四激光位移传感器106、电脑200、瓷片烘箱300和LED灯。
[0021]所述瓷片传送带101设于所述支架100的下部并穿过所述支架100；所述自动跟踪相机102设于所述支架100上部；所述第一激光位移传感器103、所述第二激光位移传感器104、所述第三激光位移传感器105和所述第四激光位移传感器106分别设于所述支架100上部的四个角上且均朝向所述瓷片传送带101的中间区域；所述电脑200分别与所述自动跟踪相机102、所述第一激光位移传感器103、所述第二激光位移传感器104、所述第三激光位移传感器105和所述第四激光位移传感器106连接；所述瓷片烘箱300与所述瓷片传送带101的末端连接；所述LED灯设于所述支架100上部。
[0022]工作时，通过自动跟踪相机102对瓷片传送带101上的瓷片进行跟踪拍摄，获得清
晰的图像并发送到电脑200进行图像分析处理。LED灯增强光线，利于自动跟踪相机102获取到更加准确的图像。
[0023]工作时，呈正方形状或者长方形状的瓷片以其中两边平行于瓷片输送方向的姿态经过两组激光位移传感器，两组激光位移传感器分别获得瓷片四个角的相对位置关系或者两竖边、两横边间的垂直间距，这样，依据这些位置关系及间距，就能获得瓷片上边尺寸、下边尺寸、前边尺寸、后边尺寸、中的一个以上的尺寸,将瓷片的尺寸参数发送到电脑200进行分析处理，同时可计算得出瓷片的其他尺寸参数。
[0024]瓷片经过图像获取和检测后，通过瓷片传送带101传送带到瓷片烘箱300进行下一步的处理。
[0025]作为一种优选的实施方式，所述第一激光位移传感器103和所述第二激光位移传感器104位于所述瓷片传送带101的起点上方；所述第三激光位移传感器105和所述第四激光位移传感器106位于所述瓷片传送带101终点的上方。
[0026]作为一种优选的实施方式，所述第一激光位移传感器103和所述第二激光位移传感器104与所述瓷片传送带101的传送方向的夹角为钝角；所述第三激光位移传感器105和所述第四激光位移传感器106与所述瓷片传送带101的传送方向的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种瓷片检验机，其特征在于：包括：支架、瓷片传送带、自动跟踪相机、第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、第三激光位移传感器、第四激光位移传感器和电脑；所述瓷片传送带设于所述支架的下部；所述自动跟踪相机设于所述支架的上部；所述第一激光位移传感器、所述第二激光位移传感器、所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器分别设于所述支架的上部的四个角上且均朝向所述瓷片传送带的中间区域；所述电脑分别与所述自动跟踪相机、所述第一激光位移传感器、所述第二激光位移传感器、所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器连接。2.根据权利要求1所述的一种瓷片检验机，其特征在于：还包括瓷片烘箱，所述瓷片烘箱与所述瓷片传送带的末端连接。3.根据权利要求1所述的一种瓷片检验机，其特征在于：还包括LED灯，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾红武，
申请(专利权)人：广东职业技术学院，
类型：新型
国别省市：