一种用于对接近传感器温度特性进行检测的装置制造方法及图纸

技术编号:27126054 阅读:36 留言:0更新日期:2021-01-25 19:46
本实用新型专利技术提出了一种用于对接近传感器温度特性进行检测的装置,包括工控机、运动控制系统、数据采集系统、仪器仪表系统、打印机、高低温试验箱、运动机构;所述工控机分别与运动控制系统、数据采集系统、仪器仪表系统、打印机连接;所述高低温试验箱内设置接近传感器组件;所述接近传感器组件分别与数据采集系统、仪器仪表系统连接;用于检测接近传感器组件的所述运动机构安装在所述高低温试验箱上,且与运动控制系统、数据采集系统、仪器仪表系统连接。本实用新型专利技术具有可靠性高、稳定性好、性价比优、关键技术先进、控制平台开放和操作简洁等优点。优点。优点。

【技术实现步骤摘要】
一种用于对接近传感器温度特性进行检测的装置


[0001]本技术属于传感器检测领域,具体地说,涉及一种用于对接近传感器温度特性进行检测的装置。

技术介绍

[0002]随着我国的工业技术的发展,电子产品逐步向小型化、轻量化、高性能化发展,这样导致产品功能密集度增高,敏感元器件增多,设计寿命增长,特别是大量新型复合型材料,聚合物材料的使用,微电子线路集成度不断提高,使电子产品对空间环境效应的的影响变得更加敏感,原来没有引起足够重视的空间特殊环境效应测试方法,现影响变得日益突出,成为产品高精度、高稳定性设计的瓶颈。
[0003]接近传感器是一种开关型传感器(即无触点开关),以无需接触检测对象进行位置检测。目前这类位置检测传感器在越来越多的领域中得到应用,空间特殊环境影响要求越来越高,并且精度要求也越来越高,要对产品进行环境温度补偿,就必须得准确摸清产品的高低温环境中的性能参数。
[0004]高低温试验箱具有模拟大气环境中温度变化规律。主要针对电子产品以及其他材料在高温、低温综合环境下运输、使用时的适应性试验。用于产品的设计,改进,鉴定及检验等环节。而接近传感器工作性能的测试不仅需要高低温环境,还需要精密的运动机构和一套精密的测试系统。为了满足位置检测传感器在高低温下的性能情况,需要保持在某个恒定/固定变化率的温度下进行试验,还需要对其与靶标的相对位置进行改变,另外还需要对电子产品的性能数据进行采集、处理、判断生成测试结果数据。

技术实现思路

[0005]本技术为了实现上述复合性的需求,提出了一种用于对接近传感器温度特性进行检测的装置,通过设置运动机构,对高低温试验箱中的接近传感器组件检测靶标位置进行改变,同时通过高低温试验箱改变温度,实现对接近传感器的复合性检测,同时由数据采集系统进行接近传感器数据的采集分析。
[0006]本技术具体实现内容如下:
[0007]本技术提出了一种用于对接近传感器温度特性进行检测的装置,包括工控机、运动控制系统、数据采集系统、仪器仪表系统、打印机、高低温试验箱、运动机构;
[0008]所述工控机分别与运动控制系统、数据采集系统、仪器仪表系统、打印机连接;
[0009]所述高低温试验箱内设置接近传感器组件;所述接近传感器组件分别与数据采集系统、仪器仪表系统连接;
[0010]用于检测接近传感器组件的所述运动机构安装在所述高低温试验箱上,且与运动控制系统、数据采集系统、仪器仪表系统连接。
[0011]为了更好地实现本技术,进一步地,所述运动机构包括内部平面支撑结构、X1轴运动模组、X1轴闭环五相电机、结构安装面组件、外部支撑结构、信号连接器;
[0012]所述内部平面支撑结构为多层固定架体,安装在高低温试验箱内,且底部与高低温试验箱内部固定连接;
[0013]所述接近传感器组件包括固定安装在高低温试验箱内位于内部平面支撑结构上端面上的上层被测接近传感器组件;
[0014]所述结构安装面组件包括分别安装在高低温试验箱一面壁内外侧的两块面板,所述外部支撑结构为矩形箱体,且矩形箱体的一面与结构安装面组件安装在高低温试验箱外侧的面板固定连接;
[0015]所述信号连接器安装在外部支撑结构上,依次与安装在外部支撑结构上端面的X1轴闭环五相电机、X1轴运动模组连接;所述X1轴运动模组的输出端连接X1轴辅助测试件;所述X1轴辅助测试件包括与所述X1轴运动模组连接的X1轴连接杆和用于辅助检测的X1轴辅助靶标组件;所述结构安装面组件的两块面板上设置穿过孔,所述X1轴连接杆通过穿过孔进入高低温试验箱内;所述X1轴辅助靶标组件安装在X1轴连接杆的末端且与上层被测接近传感器组件对应。
[0016]为了更好地实现本技术,进一步地,所述上层被测接近传感器组件包括传感器安装座、上层被测接近传感器、蝶型锁紧螺钉;
[0017]所述传感器安装座安装在内部平面支撑结构的上端面,所述上层被测接近传感器通过蝶型锁紧螺钉安装在传感器安装座上;
[0018]所述X1轴辅助靶标组件包括靶标安装板、靶标安装柱、推拉连杆、蝶型锁紧螺钉;
[0019]所述靶标安装板通过推拉连杆与X1轴连接杆固定连接;所述靶标安装柱通过蝶型锁紧螺钉安装在靶标安装板靠向上层被测接近传感器的一侧,且与上层被测接近传感器的位置在Y轴和Z轴位置上对应一致;所述靶标安装板端面上安装有用于让上层被测接近传感器感应的靶标。
[0020]为了更好地实现本技术,进一步地,还包括零位挡块;所述零位挡块通过螺纹件可调节高度地安装在传感器安装座上面向靶标安装板的一侧,且满足当零位挡块调节到最高高度时,可挡在靶标与上层被测接近传感器的检测头之间。
[0021]为了更好地实现本技术,进一步地,还包括导向对齐装置,所述导向对齐装置包括定位导向轴、导向柱;
[0022]所述定位导向轴安装在靶标安装板上与靶标安装柱同侧面上;
[0023]所述导向柱安装在传感器安装座上朝向靶标安装板的一面,且导向柱内设置定位导向轴可以插入的槽;
[0024]当定位导向轴插入导向柱固定时,所述靶标安装柱上的靶标与上层被测接近传感器的检测头在Y轴和Z轴位置上刚好对应一致。
[0025]为了更好地实现本技术,进一步地,还包括光学安装平台、开放式直线光栅组件;所述光学安装平台安装在所述外部支撑结构的矩形箱体的顶端面,所述X1轴运动模组、X1轴闭环五相电机安装在所述光学安装平台上,所述开放式直线光栅组件安装在光学安装平台上,且通过所述信号连接器与所述数据采集系统、仪器仪表系统连接。
[0026]为了更好地实现本技术,进一步地,所述X1轴运动模组包括联轴器、轴承、滑块、安装板、滚珠丝杆;
[0027]所述安装板固定安装在光学安装平台上,所述轴承安装在安装板上,且一端连接
滚珠丝杆,另一端通过联轴器与X1轴闭环五相电机的输出轴连接;
[0028]所述滚珠丝杠安装在安装板上端,所述安装板上设置一体型直线滚珠导轨,所述滑块通过一体型直线滚珠导轨在安装板上运动;
[0029]所述X1轴连接杆一端安装在滑块上,另一端穿过结构安装面组件进入高低温试验箱中与X1轴辅助靶标组件连接。
[0030]为了更好地实现本技术,进一步地,还包括内置限位开关,所述内置限位开关设置在安装板上位于滚珠丝杠的末端。
[0031]为了更好地实现本技术,进一步地,所述接近传感器组件还包括下层被测接近传感器组件;所述装置还包括X2轴闭环五相电机、X2轴运动模组、X2轴辅助测试件;
[0032]所述下层被测接近传感器组件安装在高低温试验箱中位于内部平面支撑结构下层的位置,与所述上层被测接近传感器组件结构一致;
[0033]所述X2轴闭环五相电机、X2轴运动模组、X2轴辅助测试件安装在外部支撑结构矩形箱体的底端面上;与X1轴运动模组、X1轴闭环五相电机、X1轴辅助测试件结构对应一致;
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于对接近传感器温度特性进行检测的装置,其特征在于,包括工控机、运动控制系统、数据采集系统、仪器仪表系统、打印机、高低温试验箱(29)、运动机构;所述工控机分别与运动控制系统、数据采集系统、仪器仪表系统、打印机连接;所述高低温试验箱(29)内设置接近传感器组件;所述接近传感器组件分别与数据采集系统、仪器仪表系统连接;用于检测接近传感器组件的所述运动机构安装在所述高低温试验箱(29)上,且与运动控制系统、数据采集系统、仪器仪表系统连接。2.如权利要求1所述的一种用于对接近传感器温度特性进行检测的装置,其特征在于,所述运动机构包括内部平面支撑结构(3)、X1轴运动模组(5)、X1轴闭环五相电机(6)、结构安装面组件(7)、外部支撑结构(9)、信号连接器(10);所述内部平面支撑结构(3)为多层固定架体,安装在高低温试验箱(29)内,且底部与高低温试验箱(29)内部固定连接;所述接近传感器组件包括固定安装在高低温试验箱(29)内位于内部平面支撑结构(3)上端面上的上层被测接近传感器组件(2);所述结构安装面组件(7)包括分别安装在高低温试验箱(29)一面壁内外侧的两块面板,所述外部支撑结构(9)为矩形箱体,且矩形箱体的一面与结构安装面组件(7)安装在高低温试验箱(29)外侧的面板固定连接;所述信号连接器(10)安装在外部支撑结构(9)上,依次与安装在外部支撑结构(9)上端面的X1轴闭环五相电机(6)、X1轴运动模组(5)连接;所述X1轴运动模组(5)的输出端连接X1轴辅助测试件;所述X1轴辅助测试件包括与所述X1轴运动模组(5)连接的X1轴连接杆和用于辅助检测的X1轴辅助靶标组件;所述结构安装面组件(7)的两块面板上设置穿过孔,所述X1轴连接杆通过穿过孔进入高低温试验箱(29)内;所述X1轴辅助靶标组件安装在X1轴连接杆的末端且与上层被测接近传感器组件(2)对应。3.如权利要求2所述的一种用于对接近传感器温度特性进行检测的装置,其特征在于,所述上层被测接近传感器组件(2)包括传感器安装座(11)、上层被测接近传感器(12)、蝶型锁紧螺钉(13);所述传感器安装座(11)安装在内部平面支撑结构(3)的上端面,所述上层被测接近传感器(12)通过蝶型锁紧螺钉(13)安装在传感器安装座(11)上;所述X1轴辅助靶标组件包括靶标安装板(17)、靶标安装柱(18)、推拉连杆(19)、蝶型锁紧螺钉(13);所述靶标安装板(17)通过推拉连杆(19)与X1轴连接杆固定连接;所述靶标安装柱(18)通过蝶型锁紧螺钉(13)安装在靶标安装板(17)靠向上层被测接近传感器(12)的一侧,且与上层被测接近传感器(12)的位置在Y轴和Z轴位置上对应一致;所述靶标安装板(17)端面上安装有用于让上层被测接近传感器(12)感应的靶标。4.如权利要求3所述的一种用于对接近传感器温度特性进行检测的装置,其特征在于,还包括零位挡块(14);所述零位挡块(14)通过螺纹件可调节高度地安装在传感器安装座(11)上面向靶标安装板(17)的一侧,且满足当零位挡块(14)调节到最高高度时,可挡在靶标与上层被测接近传感器(12)的检测头之间。5.如权利要求3所述的一种用于对接近传感器温度特性进行检测的装置,其特征在于,
还包括导向对齐装置,所述导向对齐装置包括定位导向轴(...

【专利技术属性】
技术研发人员:李俊周清刘杰任静
申请(专利权)人:成都凯天电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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