液晶面板检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术揭示一种液晶面板检测方法及装置，用以检测液晶面板。液晶面板包括集成电路与显示单元，检测方法包括下列步骤：移除集成电路；将液晶面板放置于检测平台；以探针接触液晶面板的线缺陷处；通过探针导入测试信号至显示单元；以及根据显示单元所输出的图像信号判定检测结果，以此判断显示单元是否为不良。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测方法及装置，特别涉及一种用于检测液晶面板的检测方法及装置。
技术介绍
随着显示器技术快速的进步与演进，传统的阴极射线管显示器(cathoderay tube，CRT)已逐渐被淘汰，取而代之的是轻、薄、短、小的液晶显示器(liquid crystal display，LCD)。由于液晶显示器具有显示质量高、能源消耗低及无辐射等优点，使得液晶显示器大量地被应用于移动电话、个人数字助理(PDA)、笔记本计算机、数码摄影机、数码相机、计算机屏幕以及液晶电视等通信、信息或消费性电子产品之中。图1为公知液晶显示器A1，其包括液晶显示单元(cell)A11、以卷带式晶粒接合技术(tape automated bonding，TAB)、晶粒玻璃接合技术(chip onglass，COG)或晶粒软模接合技术(chip on film，COF)进行封装的多个封装结构A12，以及多个电路板A13。每一封装结构A12均具有一驱动集成电路芯片(liquid crystal driver IC chip)A121，用以驱动液晶显示单元A11的液晶层。当液晶显示器A1无法正常显示图像时，可能是液晶显示单元A11受损而无法正常显示图像，也可能驱动集成电路芯片A121受损或有缺陷，因而无法依照信号正确地驱动液晶显示单元A11，导致液晶显示单元A11无法正常显示图像。根据公知技术，为了判断究竟是液晶显示单元A11或是驱动集成电路芯片A121的缺陷而发生线缺陷，必须先移除电路板A13上的驱动集成电路芯片A121，再重新安装另一个新的驱动集成电路芯片A121。若液晶显示器A1可正常显示图像，则判定被移除的驱动集成电路芯片A121缺陷或是封装制程缺陷而造成液晶显示器A1无法正常显示图像。反之，若液晶显示器A1依然无法正常显示图像，则判定液晶显示单元A11为缺陷品。前述的移除或安装驱动集成电路芯片，其实施方式是通过整体移除或安装封装结构而完成，以下所述相同。此检测方式虽能判断液晶显示器A1无法正常显示图像的原因，但必须耗费人力于机台重新安装另一个驱动集成电路芯片A121，如此不仅造成人力、机台以及驱动集成电路芯片A121的浪费，并使整个测试流程耗费相当多的时间，进而使得液晶显示器A1的测试成本居高不下。因此，如何改善液晶显示器A1的测试方法，以减少重新安装另一个驱动集成电路芯片A121所造成的浪费，进而解决液晶显示器A的测试成本过高的缺点，是一个刻不容缓的待解决问题。
技术实现思路
因此，本专利技术提出一种液晶面板检测方法，用以检测液晶面板。液晶面板包括集成电路与显示单元(cell)，检测方法包括下列步骤移除集成电路；将液晶面板放置于检测平台；以探针接触液晶面板的线缺陷处；通过探针导入测试信号至显示单元；以及根据显示单元所输出的图像信号判定检测结果。如此，即可了解显示单元是否为不良。本专利技术也揭示了一种液晶面板检测装置，用以检测液晶面板，液晶面板包括集成电路、显示单元(cell)以及至少一对位标记，液晶面板于检测前预先移除集成电路，检测装置包括检测平台，用以承载液晶面板；对位模块，用以抓取对位标记；以及探针，其与对位模块连接，通过对位模块抓取对位标记而对准液晶面板的线缺陷处，用以导入测试信号至显示单元，并根据显示单元所输出的图像信号判定检测结果。附图说明图1为公知液晶显示器的示意图。图2为本专利技术的立体示意图。图3为图2在A部分的局部放大图。图4为本专利技术待检测的液晶面板的结构示意图。图5为图4另一视角的示意图。图6为本专利技术的液晶面板检测方法流程图。图7为本专利技术的液晶面板检测示意图。具体实施例方式关于本专利技术的具体技术方案及其功效，以优选实施例并结合附图说明如下。图2为本专利技术的液晶面板检测装置2的示意图。图3为液晶面板检测装置2的局部放大图。图4为本专利技术的待检测液晶面板10的示意图。液晶面板10具有显示单元(cell)11，并于显示单元11侧边设有印刷电路板12。显示单元11与印刷电路板12之间连接有多个集成电路13，用以将印刷电路板12所接受的外部信号转换为显示单元11所能接受的信号。集成电路13可通过卷带式晶粒接合技术(TAB)、晶粒玻璃接合技术(COG)或晶粒软模接合技术(COF)进行封装。此外，液晶面板10设有至少一对位标记14，如图5所示。如图2所示，本专利技术的检测装置包括检测平台20，用以承载液晶面板10，其中检测平台20可呈一倾斜角度，以方便检测人员观察液晶面板10的检测结果而判断缺陷原因；对位模块21，用以抓取液晶面板10的对位标记14，且对位模块包括电荷耦合元件(Charge Couple Device，CCD)；以及探针22，其与对位模块21连接，通过对位模块21抓取对位标记14而对准液晶面板10的线缺陷处，用以导入测试信号至显示单元11，并根据显示单元11所输出的图像信号判定检测结果。探针22设置于检测平台20一端的上方，并可于探针22的两侧设置对位模块21。本专利技术的优选实施方式还包括抵压柱23，用以抵压探针22而调整探针22与液晶面板10的接触程度。此外，本专利技术的优选实施方式还包括移动架24，用以固定探针22与抵压柱23，并于移动架24上设置位移模块25，用以移动探针22，其中位移模块25包括蜗轮蜗杆组251。图6为本专利技术的液晶面板的检测方法流程图。本专利技术的液晶检测方法包括步骤(a)移除集成电路13；步骤(b)将液晶面板10放置于检测平台20上；步骤(c)以探针22接触液晶面板10的线缺陷处； 步骤(d)通过探针22导入测试信号至显示单元11；以及步骤(e)根据显示单元11所输出的图像信号判定检测结果。具体检测过程结合图7说明如下如图7所示，当液晶面板10于发现线缺陷的情况下，若无法判定是显示单元11或是集成电路13不良，先将集成电路13自液晶面板10上移除，再将液晶面板10放置于检测平台20上。调整位移模块25，使蜗轮蜗杆组251带动探针22移至液晶面板10已移除集成电路13的位置处，并通过对位模块21抓取液晶面板10的对位标记14而进行对位。对位完成后，再通过抵压探针22调整探针22与液晶面板10的接触程度，即可由探针22将与集成电路13转换的信号相同的测试信号导入显示单元11，以驱动显示单元11输出图像信号。待显示单元11依据测试信号输出图像信号后，测试人员比较显示单元11输出的图像信号与基准信号，若输出的图像信号与基准信号的比较结果指出显示单元11为正常，则判定集成电路13为良好；若显示单元11输出的图像信号与基准信号的比较结果指出显示单元11为异常，则判定显示单元11为不良。根据本专利技术所揭示的检测方法，在移除集成电路13后，直接以探针22导入测试信号至显示单元11，并根据显示单元11所输出的图像信号判定检测结果，以此解决公知测试方式因重新安装集成电路所造成人力、机台等浪费，并减少液晶面板的测试时间，同时解决公知测试方式测试成本过高的缺点。虽然本专利技术的
技术实现思路
已经以优选实施例揭示如上，然而其并非用以限定本专利技术，任何本领域的技术人员，在不脱离本专利技术的精神所作一些更动与润饰，都应涵盖于本专利技术的保护范畴内，因此本专利技术的保护范围当视后附的权利要求书为准。权利要求1.一种液晶面板的检测方法，用以检测液晶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶面板的检测方法，用以检测液晶面板，该液晶面板包括集成电路与显示单元，该检测方法包括：（ａ）移除该集成电路；（ｂ）将该液晶面板放置于检测平台；（ｃ）以探针接触该液晶面板的线缺陷处；（ｄ）通过该探针导入测 试信号至该显示单元；及（ｅ）根据该显示单元所输出的图像信号判定检测结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张金林，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]