适用于显示屏离线全检的光学量测设备及量测方法技术

一种适用于显示屏离线全检的光学量测设备，包括依次连接的测试头、测试控制／数据处理模块，和个人电脑，所述测试控制／数据处理模块与个人电脑统一装载在可移动的小车上，所述测试头包括作为测试探头的手持部和辅助定位块，其中辅助定位块的最外端形成的平面在测试时完全贴合在显示屏的表面上，所述测试头上安装有触发器。本发明专利技术还提供一种适用于显示屏离线全检的光学量测方法，包括：模组点灯；启动待测模组的显示屏的测试画面；测试画面定位；触动手持部上的触发器；完成单片测量；完成测试结果判断记录；移动测试头，开始下一次测量。本发明专利技术的优点在于：结构简单，适用于显示屏离线生产方式的批量测试，操作方便，并且测试效率高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于 一种用于显示屏光学特性量测设备及量测方法，特 别是指一种。
技术介绍
LCD (Liquid crystal display, 液晶显示屏)的光学特性量测 依其测试场合、测试精度需求，常见的有1)针对少量的高精度要求的检测场合，这时常需要使用一套搭 建在实验室的复杂昂贵的光学量测系统，比如WESTAR公司的型号 为F P M - 5 2 0的光学量测系统，该系统除了有特定的光学量测设备外， 还有一套非常复杂精密的自动化定位系统，可以实现量测设备和待测 模组之间的复杂定位关系，这套系统通常自带信号发生系统，来控制 模组的画面显示，这类系统的特点是自动化程度高，测试功能完善、 测试结果精度高，缺点则是系统庞大/昂贵，测试效率低，不适合批 量测试。2 )针对批量中等精度要求的检测场合，比如传统的LCD全检的 方案是将某一光学量测设备集成到流水线上的特定站别，该站别通常 提供一模组定位装置，另外光学量测设备也会有另一个相关联的定位 装置，当模组到达该站别后会被定位装置卡到特定位置，这时再将光 学量测设备通过其定位装置移动到相对模组的某个特定位置，比如量 测设备的测试轴线垂直对准模组的中心位置，然后由操作员通过 一 些 开关来调整显示画面并控制完成各项测试，即该方式适用于流水线的 作业方式。3)另外还有一种适合小型实验室使用的光学测试设备，类似美 能达的CA-210,这类系统通常具有类似图1所示的结构，包括具有 显示屏的控制主机，及与控制主机连接的测试头，该类设备通常仅提 供可简单定位的测试头，测试结果则连续显示在对应的控制主机的显示屏上。实际应用时，需要使用者提供待测模组的定位方法并为其提 供信号系统，并需要对测试结果自行攫取并做相应处理。这种设备特 点是便携、价格相对低廉，适合小型实验室用，但不适合现场的批量 测试。目前仍有大量LCM (LCD module,液晶显示器模组)厂使用 Off-line (离线)的方式生产，若需要批量检测产品光学特性，而方 式1、 3显然又不适合批量测试。鉴于对显示屏的光学品质要求曰益 提高，配合Off-Line作业方式提供一种可执行的光学特性全检方案 成为目前液晶显示器模组厂的迫切需求。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题之一在于提供一种配合Off-Line作业方 式的适用于显示屏离线全检的光学量测设备。本专利技术所要解决的技术问题之二在于提供一种配合Off-Line作业方 式的适用于显示屏离线全检的光学量测方法。本专利技术是通过以下技术方案解决上述技术问题之一的 一种适用于显示 屏离线全检的光学量测设备，包括测试头、测试控制/数据处理模块，和个人 电脑，其中测试头连接于测试控制/数据处理模块，测试控制/数据处理模块 连接于个人电脑，还包括可移动的小车，所述测试控制/数据处理模块与个 人电脑统一装载在可移动的小车上，所述测试头包括作为测试探头的手持部 和辅助定位块，其中辅助定位块包括套在测试头头部的套筒以及一体连接延 伸出套筒的外端并向外呈圓锥形放大的接触部，所述接触部的最外端形成的 平面与手持部的轴线成一定角度，当测试头置于显示屏上时，接触部的最外 端完全贴合在显示屏的表面上，所述测试头上安装有触发器。所述接触部的最外端形成的平面与手持部的轴线垂直。所述辅助定位块的套筒与接触部交界的位置设有至少一个挡块，手持部 止挡于该挡块，另外，辅助定位块的套筒上开设有至少一个螺孔，锁固在该 螺孔内的螺栓顶住手持部，使辅助定位块定位在手持部的前端。本专利技术是通过以下技术方案解决上述技术问题之二的 一种适用于显 示屏离线全检的光学量测方法，包括依次进行的下述步骤步骤100:模组点灯，使用点灯机台单片点灯，或者使用高温炉多片同 时点灯；步骤200:启动待测模组的显示屏的测试画面；步骤300:作业人员手持测试头的手持部，利用辅助定位块完成对待测 模组的显示屏的测试画面定位；步骤400:触动手持部上的触发器，给个人电脑一个触发信号，个人电 脑利用其上运行的控制程序完成一次量测；步骤500:完成单片测量；步骤600:完成测试结果判断记录；步骤70(h移动测试头，开始定位下一片待测^t组的显示屏的测试画面， 并返回步骤400。所述步骤400中的控制程序包括依次进行的下述步骤 步骤410:等待触发信号； 步骤420:接收触发信号； 步骤430:控制硬件完成一次量测；步骤440:判断测试结果是否合理，若合理，则进入步骤450，若不合 理，则返回步骤430;步骤450:提取画面特征值和画面特征库进行比较，判定对应画面； 步骤460:记录测试画面和测试结果；步骤470:判断是否已完成所需画面量测，若完成，则进入步骤480， 若未完成，则返回步骤430;步骤480:判定、记录测试结果，提示单次测试完成，并返回步骤410， 循环执行。本专利技术的优点在于 结构简单，适用于显示屏离线生产方式的批量测试，操作方便，并且测试效率高。附图说明下面参照附图结合实施例对本专利技术作进一 步的描述。图l是现有的一种适合小型实验室使用的光学测试设备示意图。图2是本专利技术适用于显示屏离线全检的光学量测设备组成示意图。6图3是本专利技术适用于显示屏离线全检的光学量测设备的测试头的第一实 施例结构示意图。图4是本专利技术适用于显示屏离线全检的光学量测设备的测试头的第二实 施例结构示意图。图5是本专利技术适用于显示屏离线全检的光学量测方法的执行流程图。 图6是本专利技术中手持测试头垂直方向定位示意图。 图7至图9是为满足不同测试要求，显示屏显示的画面图。 图10是配合适用于显示屏离线全检的光学量测方法的执行流程的软件 流程图。具体实施方式请同时参阅图1，本专利技术适用于显示屏离线全检的光学量测设备主要由 三部分组成测试头10、测试控制/数据处理模块20、 PC (个人电脑)30 和可移动的小车40。其中测试头10连接于测试控制/数据处理模块20，测试 控制/数据处理模块20连接于PC30,且为适应Off-line生产方式的批量测试 需求，测试控制/数据处理模块20与PC30统一装载在可移动的小车40上。如图3所示，是测试头IO的一实施例的结构示意图，该测试头10包括 作为测试探头的手持部12、触发器(图未示)和辅助定位块16。其中辅助 定位块16包括套在测试头10头部的套筒122，以及一体连接延伸出套筒122 的外端并向外呈圆锥形放大的接触部164，该接触部164的最外端形成的平 面与手持部12的轴线垂直，从而当该测试头IO置于显示屏上时，接触部164 的最外端完全贴合在显示屏的表面上，从而手持部12垂直于显示屏。其中辅助定位块16的套筒122与接触部164交界的位置设有至少一个 挡块166，手持部12止挡于该挡块166,不至于通过接触部164滑出，另外， 辅助定位块16的套筒122上开设有至少一个螺孔，通过锁固在该螺孔内的 螺栓168顶住手持部12,从而使辅助定位块16定位在手持部12的前端。请参阅图4，是测试头IO的另一实施例的结构示意图，其与上述测试头 IO的区别仅在于，接触部164的最外端形成的平面与手持部12的轴线不垂 直，其他结构完全相同，用于当需要手持部12与显示屏成其他角度定位的 场合，如实现类似上下左右显示角的测试。测试控制/本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种适用于显示屏离线全检的光学量测设备，包括测试头、测试控制／数据处理模块，和个人电脑，其中测试头连接于测试控制／数据处理模块，测试控制／数据处理模块连接于个人电脑，其特征在于：还包括可移动的小车，所述测试控制／数据处理模块与个人电脑统一装载在可移动的小车上，所述测试头包括作为测试探头的手持部和辅助定位块，其中辅助定位块包括套在测试头头部的套筒以及一体连接延伸出套筒的外端并向外呈圆锥形放大的接触部，所述接触部的最外端形成的平面与手持部的轴线成一定角度，当测试头置于显示屏上时，接触部的最外端完全贴合在显示屏的表面上，所述测试头上安装有触发器。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林长贺，
申请(专利权)人：福建华映显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：35[中国|福建]