【技术实现步骤摘要】
一种全自动半导体产品测试装置
本专利技术涉及半导体测试
,特别涉及一种全自动半导体产品测试装置。
技术介绍
在半导体测试领域,通常为人工取放材料进行测试,观察测试器显示屏上显示的波形进行区分,速度约为5s/颗,效率低下,工人劳动强度大易出错。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种全自动半导体产品测试装置,以解决现有的人工测试半导体效率低下,工人劳动强度大易出错的问题。为解决上述技术问题,本专利技术提供一种全自动半导体产品测试装置,包括测试器本体和测试站,所述测试器本体和所述测试站之间通过导线连接;所述测试器本体正面固定连接有安装平台;所述安装平台远离所述测试器本体的一端通过AOI固定块固定连接有AOI监视器;所述安装平台靠近所述测试器本体的一端固定安装有显示屏;所述AOI监视器和所述显示屏均与所述测试器本体电连接。可选的,所述安装平台上沿中线开有若干个调节槽,所述AOI固定块与所述调节槽通过螺栓固定连接。可选的,所述AOI固定块及与其固定连接的AOI监视器与所述安装平台垂直连接。可选的,所述安装平台上固定安装有遮光罩。可选的,所述遮光罩从所述显示屏端开始延伸至所述AOI监视器。在本专利技术中提供了一种全自动半导体产品测试装置,包括测试器本体和测试站,所述测试器本体和所述测试站之间通过导线连接;所述测试器本体正面固定连接有安装平台;所述安装平台远离所述测试器本体的一端通过AOI固定块固定连接有AOI监视器;所述安装平台靠近所 ...
【技术保护点】
1.一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,包括测试器本体(1)和测试站(2),所述测试器本体(1)和所述测试站(2)之间通过导线(3)连接;/n所述测试器本体(1)正面固定连接有安装平台(4);/n所述安装平台(4)远离所述测试器本体(1)的一端通过AOI固定块(5)固定连接有AOI监视器(6);/n所述安装平台(4)靠近所述测试器本体(1)的一端固定安装有显示屏(7);/n所述AOI监视器(6)和所述显示屏(7)均与所述测试器本体(1)电连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,包括测试器本体(1)和测试站(2),所述测试器本体(1)和所述测试站(2)之间通过导线(3)连接;
所述测试器本体(1)正面固定连接有安装平台(4);
所述安装平台(4)远离所述测试器本体(1)的一端通过AOI固定块(5)固定连接有AOI监视器(6);
所述安装平台(4)靠近所述测试器本体(1)的一端固定安装有显示屏(7);
所述AOI监视器(6)和所述显示屏(7)均与所述测试器本体(1)电连接。
2.如权利要求1所述的一种全自动半导体产品测试装置,其特征在于,所述安...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈能强,
申请(专利权)人:无锡昌鼎电子有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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