【技术实现步骤摘要】
一种光子晶体的目标激发频率查找方法、装置及可读介质
本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种光子晶体的目标激发频率查找方法、装置及可读介质。
技术介绍
零折射率材料由于其本构参数近零，从而波在零折射率材料中传播没有相位变化，并且这样特殊的一种材料具有很多有趣的波操纵特性。零折射率材料分为单零折射率材料和双零折射率材料。单零折射率材料又分为介电常数近零材料和磁导率近零材料。但是由于单零折射率材料只有一个本构参数近零，导致与背景场的阻抗失调，这并不适合实际应用。双零折射率材料，即两个本构参数都近零的材料与背景场之间具有一个有限的有效阻抗，这个可以克服单零折射率介质不实用的缺点。在现有技术中，这些材料可以使用由金属谐振器或手性夹杂组成的人造复合材料来实现，但金属成分具有损害高频功能的损耗。而人造复合材料的方法，例如可以是：利用能带的偶然简并，设计和制作在布里渊区中心以有限频率显示类狄拉克锥色散的光子晶体，并且这种具有合理介电常数的光子晶体操纵波，在类狄拉克点频率处具有近零的折射率。理论上，光子晶体中布里渊区中心类...
【技术保护点】
1.一种光子晶体的目标激发频率查找方法，其特征在于，包括：/n获取预先构建的光子晶体的三重简并点频率；/n根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第一待检测激发频率，其中，每一个所述第一待检测激发频率均大于所述三重简并点频率；/n针对每一个所述第一待检测激发频率，向所述光子晶体发射在该第一待检测激发频率且在不同入射角度下的电磁波，获得入射角度变化信息；/n根据各所述入射角度变化信息，确定目标激发频率，其中，具有所述目标激发频率的电磁波在设定角度下不能入射到所述光子晶体。/n
【技术特征摘要】
1.一种光子晶体的目标激发频率查找方法，其特征在于，包括：
获取预先构建的光子晶体的三重简并点频率；
根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第一待检测激发频率，其中，每一个所述第一待检测激发频率均大于所述三重简并点频率；
针对每一个所述第一待检测激发频率，向所述光子晶体发射在该第一待检测激发频率且在不同入射角度下的电磁波，获得入射角度变化信息；
根据各所述入射角度变化信息，确定目标激发频率，其中，具有所述目标激发频率的电磁波在设定角度下不能入射到所述光子晶体。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第一待检测激发频率，包括：
根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第二待检测激发频率，其中，所述第二待检测激发频率包括所述第一待检测激发频率；
针对每一个所述第二待检测激发频率，从所述光子晶体中出射具有该第二待检测激发频率的电磁波，获得出射相位涨落信息；
根据各所述出射相位涨落信息，在多个所述第二待检测激发频率中确定多个所述第一待检测激发频率。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据各所述出射相位涨落信息，在多个所述第二待检测激发频率中确定多个所述第一待检测激发频率，包括：
从各出射相位涨落信息中确定出数值最小的出射相位涨落信息，并将与该出射相位涨落信息相对应的第二待检测激发频率确定为第三待检测激发频率；
将位于所述三重简并点频率和所述第三待检测激发频率之间的第二待检测激发频率、所述第三待检测激发频率、以及超过所述第三待检测激发频率且与所述第三待检测激发频率相邻的至多两个第二待检测激发频率确定为第一待检测激发频率。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据各所述入射角度变化信息，确定目标激发频率，包括：
针对每一个所述入射角度变化信息，将与预设的入射角度变化信息的相似度大于预设的相似度阈值的当前入射角度变化信息确定为目标入射角度变化信息；
将与所述目标入射角度变化信息相对应的第一待检测激发频率确定为目标激发频率。
5.一种光子晶体的目标激发频率查找装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取预先构建的光子晶体的三重简并点频率；
第一确定模块，用于根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第一待检测激发频率，其中，每一个所述第一...
【专利技术属性】
技术研发人员：李粮生，朱勇，殷红成，
申请(专利权)人：北京环境特性研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。