光学检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光学检测装置，包括定位模块以及检测模块，且适于检测工件。工件包括顶面及第一工件侧面。定位模块包括透光载台、光源模块以及第一定位棱镜。光源模块配置于透光载台下方。第一定位棱镜配置于透光载台上的第一载台侧面。第一定位棱镜包括第一垂直定位面及第一反射斜面。第一垂直定位面垂直于透光载台。第一反射斜面相邻且非平行于垂直定位面。工件放置于透光载台上。第一工件侧面适于朝向第一垂直定位面。第一反射斜面反射第一工件侧面的影像。检测模块配置于定位模块上。检测模块提取透光载台上的工件的顶面的影像及被反射的侧面的影像。

【技术实现步骤摘要】
光学检测装置
本专利技术涉及一种检测装置，且特别涉及一种光学检测装置。
技术介绍
一般而言，目前用以检测工件的光学检测装置，在检测工件时，大多需要额外配置定位治具，以使工件可以固定于检测装置的载台上。然而，此种定位治具通常是以铁或是铝等金属制成。因此，在定位或导引工件时，时常会遮蔽工件的部分，以致于光学检测装置无法检测到完整的工件的影像，而需要选转工件的角度，十分耗费时间。另一方面，目前的定位治具需要针对各种不同的工件形状以及光学检测装置的机种而设计。因此，若工件形状不同或是光学检测装置的机种不同，便需要另外在制作治具，将十分耗费成本。
技术实现思路
本专利技术提供一种光学检测装置，其能够检测工件的侧面以及顶面的影像，以使检测程序更加有效率。一种光学检测装置，包括定位模块以及检测模块，且适于检测工件。工件包括顶面及第一工件侧面。定位模块包括透光载台、光源模块以及第一定位棱镜。光源模块配置于透光载台下方。第一定位棱镜配置于透光载台上的第一载台侧面。第一定位棱镜包括第一垂直定位面及第一反射斜面。第一垂直定位面垂直于透光载本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学检测装置，适于检测一工件，该工件包括一顶面及一第一工件侧面，其特征在于，该光学检测装置包括：/n一定位模块，包括:/n一透光载台，包括一第一载台侧面；/n一光源模块，配置于该透光载台下方；以及/n一第一定位棱镜，配置于该透光载台的该第一载台侧面，该第一定位棱镜包括垂直于该透光载台的一第一垂直定位面及相邻且非平行于该第一垂直定位面的一第一反射斜面，其中该工件放置于该透光载台，该第一工件侧面适于朝向该第一垂直定位面，该第一工件侧面的影像经过该第一垂直定位面入射至该第一反射斜面后该第一反射斜面向上反射该第一工件侧面的影像；以及/n一检测模块，配置于该定位模块的上方，用以提取该工件的该顶面...

【技术特征摘要】
20190704 TW 1081236081.一种光学检测装置，适于检测一工件，该工件包括一顶面及一第一工件侧面，其特征在于，该光学检测装置包括：
一定位模块，包括:
一透光载台，包括一第一载台侧面；
一光源模块，配置于该透光载台下方；以及
一第一定位棱镜，配置于该透光载台的该第一载台侧面，该第一定位棱镜包括垂直于该透光载台的一第一垂直定位面及相邻且非平行于该第一垂直定位面的一第一反射斜面，其中该工件放置于该透光载台，该第一工件侧面适于朝向该第一垂直定位面，该第一工件侧面的影像经过该第一垂直定位面入射至该第一反射斜面后该第一反射斜面向上反射该第一工件侧面的影像；以及
一检测模块，配置于该定位模块的上方，用以提取该工件的该顶面的影像及被反射的该第一工件侧面的影像，以及检测所提取的该工件的该顶面及被反射的该第一工件侧面的影像。


2.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，该工件包括垂直于该第一工件侧面的一第二工件侧面，该透光载台还包括垂直于该第一载台侧面的一第二载台侧面，该定位模块还包括一第二定位棱镜，配置于该透光载台上的该第二载台侧面，该第二定位棱镜包括一第二垂直定位面以及相邻且非平行于该第二垂直定位面的第二反射斜面，该工件的该第二工件侧面适于朝向该第二垂直定位面而放置于该透光载台上，该第二反射斜面用以反射该第二工件侧面的影像。


3.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，该定位模块还包括配置于该透光载台的多个第一磁吸件，该定位模块还包括一辅助定位块，且该辅助定位块具有一第二磁吸件，该辅助定位块可选择地配置于该工件，使该工件介于该第二磁吸件以及其中至少一个该第一磁吸件之间，而通过该第二磁吸件以及其中至少一个该第一磁吸件的磁力将该工件定位于该透光载台上。

【专利技术属性】
技术研发人员：林雨德，林家纬，洪泰霖，林义隆，简宏文，
申请(专利权)人：和硕联合科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71