一种可控硅调光器的检测电路、装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种可控硅调光器的检测电路、装置，检测电路包括线电压采样模块、峰值电压采样模块、平均电压采样模块、判断模块和泄放模块；线电压采样模块对线电压进行采样后分别输出采样电压至峰值电压采样模块和平均电压采样模块；峰值电压采样模块根据采样电压输出第一比较电压至判断模块，平均电压采样模块根据采样电压输出第二比较电压至判断模块；判断模块用于比较第一比较电压和第二比较电压，并根据比较结果输出控制信号控制泄放模块导通或断开；泄放模块用于在导通时为可控硅调光器提供泄放电流，本实用新型专利技术能够有效解决当线网电压波动引起电压平均值变化而参考电压不变化时可控硅调光器检测结果不可靠的问题，提高检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种可控硅调光器的检测电路、装置
本技术涉及LED照明
，特别涉及一种可控硅调光器的检测电路、装置。
技术介绍
现有检测可控硅调光器是否接入线网的方案是通过检测线网电压的平均值，将该值和一固定参考电压值作比较，从而判断线网是否接入可控硅调光器。当有可控硅调光器接入线网中时，交流电压经可控硅调光器切相后得到的电压平均值将小于无可控硅调光器接入时的电压平均值，通过设定一个固定不变的参考电压与该平均值比较，可判断出线网中是否接入了可控硅调光器。但是该方法中由于与电压平均值比较的电压是固定不变的参考电压，当线网电压波动引起电压平均值变化时，平均值变化而参考电压不变化，造成检测结果不可靠，误检测的风险较高。因而现有技术还有待改进和提高。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足之处，本技术的目的在于提供一种可控硅调光器的检测电路、装置，能够有效解决当线网电压波动引起电压平均值变化而参考电压不变化时可控硅调光器检测结果不可靠的问题。为了达到上述目的，本技术采取了以下技术方案：一种可控硅调光器的检测电路，包括线电压采样模块、本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可控硅调光器的检测电路，其特征在于，包括线电压采样模块、峰值电压采样模块、平均电压采样模块、判断模块和泄放模块；所述线电压采样模块用于对线电压进行采样后分别输出采样电压至所述峰值电压采样模块和所述平均电压采样模块；所述峰值电压采样模块用于根据所述采样电压输出第一比较电压至所述判断模块，所述平均电压采样模块用于根据所述采样电压输出第二比较电压至所述判断模块；所述判断模块用于比较所述第一比较电压和所述第二比较电压，并根据比较结果输出控制信号控制所述泄放模块导通或断开；所述泄放模块用于在导通时为可控硅调光器提供泄放电流。/n

【技术特征摘要】
1.一种可控硅调光器的检测电路，其特征在于，包括线电压采样模块、峰值电压采样模块、平均电压采样模块、判断模块和泄放模块；所述线电压采样模块用于对线电压进行采样后分别输出采样电压至所述峰值电压采样模块和所述平均电压采样模块；所述峰值电压采样模块用于根据所述采样电压输出第一比较电压至所述判断模块，所述平均电压采样模块用于根据所述采样电压输出第二比较电压至所述判断模块；所述判断模块用于比较所述第一比较电压和所述第二比较电压，并根据比较结果输出控制信号控制所述泄放模块导通或断开；所述泄放模块用于在导通时为可控硅调光器提供泄放电流。


2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述峰值电压采样模块具体用于将所述采样电压的峰值电压乘以预设值后输出第一比较电压至所述判断模块。


3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述峰值电压采样模块包括第一源随单元和第二源随单元；所述第一源随单元用于将所述采样电压乘以预设值后输出检测电压至所述第二源随单元,所述第二源随单元用于根据所述检测电压得到所述检测电压的峰值电压后输出第一比较电压至所述判断模块。


4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于,所述判断模块包括判断单元和控制单元；所述判断单元用于在比较出所述第一比较电压大于所述第二比较电压时输出第一比较信号至所述控制单元,在比较出所述第一比较电压小于所述第二比较电压时输出第二比较信号至所述控制单元；所述控制单元用于根据所述第一比较信号控制所述泄放模块导通,或根据所述第二比较信号控制所述泄放模块断开。


5.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述第一源随单元包括第一运算放大器，第一M...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶羽安，邓迅升，王文攀，
申请(专利权)人：深圳市晟碟半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44