一种可控硅调光器的检测电路、装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种可控硅调光器的检测电路、装置，检测电路包括线电压采样模块、峰值电压采样模块、平均电压采样模块、判断模块和泄放模块；线电压采样模块对线电压进行采样后分别输出采样电压至峰值电压采样模块和平均电压采样模块；峰值电压采样模块根据采样电压输出第一比较电压至判断模块，平均电压采样模块根据采样电压输出第二比较电压至判断模块；判断模块用于比较第一比较电压和第二比较电压，并根据比较结果输出控制信号控制泄放模块导通或断开；泄放模块用于在导通时为可控硅调光器提供泄放电流，本实用新型专利技术能够有效解决当线网电压波动引起电压平均值变化而参考电压不变化时可控硅调光器检测结果不可靠的问题，提高检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种可控硅调光器的检测电路、装置
本技术涉及LED照明
，特别涉及一种可控硅调光器的检测电路、装置。
技术介绍
现有检测可控硅调光器是否接入线网的方案是通过检测线网电压的平均值，将该值和一固定参考电压值作比较，从而判断线网是否接入可控硅调光器。当有可控硅调光器接入线网中时，交流电压经可控硅调光器切相后得到的电压平均值将小于无可控硅调光器接入时的电压平均值，通过设定一个固定不变的参考电压与该平均值比较，可判断出线网中是否接入了可控硅调光器。但是该方法中由于与电压平均值比较的电压是固定不变的参考电压，当线网电压波动引起电压平均值变化时，平均值变化而参考电压不变化，造成检测结果不可靠，误检测的风险较高。因而现有技术还有待改进和提高。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足之处，本技术的目的在于提供一种可控硅调光器的检测电路、装置，能够有效解决当线网电压波动引起电压平均值变化而参考电压不变化时可控硅调光器检测结果不可靠的问题。为了达到上述目的，本技术采取了以下技术方案：一种可控硅调光器的检测电路，包括线电压采样模块、峰值电压采样模块、平均电压采样模块、判断模块和泄放模块；所述线电压采样模块用于对线电压进行采样后分别输出采样电压至所述峰值电压采样模块和所述平均电压采样模块；所述峰值电压采样模块用于根据所述采样电压输出第一比较电压至所述判断模块，所述平均电压采样模块用于根据所述采样电压输出第二比较电压至所述判断模块；所述判断模块用于比较所述第一比较电压和所述第二比较电压，并根据比较结果输出控制信号控制所述泄放模块导通或断开；所述泄放模块用于在导通时为可控硅调光器提供泄放电流。所述的检测电路中，所述峰值电压采样模块具体用于将所述采样电压的峰值电压乘以预设值后输出第一比较电压至所述判断模块。所述的检测电路中，所述峰值电压采样模块包括第一源随单元和第二源随单元；所述第一源随单元用于将所述采样电压乘以预设值后输出检测电压至所述第二源随单元,所述第二源随单元用于根据所述检测电压得到所述检测电压的峰值电压后输出第一比较电压至所述判断模块。所述的检测电路中，所述判断模块包括判断单元和控制单元；所述判断单元用于在比较出所述第一比较电压大于所述第二比较电压时输出第一比较信号至所述控制单元,在比较出所述第一比较电压小于所述第二比较电压时输出第二比较信号至所述控制单元；所述控制单元用于根据所述第一比较信号控制所述泄放模块导通,或根据所述第二比较信号控制所述泄放模块断开。所述的检测电路中，所述第一源随单元包括第一运算放大器，第一MOS管、第一电阻和第二电阻；所述第一运算放大器的正相输入端连接所述线电压采样模块，所述运算放大器的反相输入端连接所述第一MOS管的源极和所述第一电阻的一端，所述第一电阻的另一端和所述第二电阻的一端均连接所述第二源随单元，所述第一运算放大器的输出端连接所述第一MOS管的栅极，所述第一MOS管的漏极接电源，所述第二电阻的另一端接地。所述的检测电路中，所述第二源随单元包括第二运算放大器，第二MOS管、第三电阻和第一电容；所述第二运算放大器的正相输入端连接所述第一电阻的另一端和所述第二电阻的一端，所述第二运算放大器的反相输入端连接所述第一电容的一端、所述第三电阻的一端和所述判断模块，所述第二运算放大器的输出端连接所述第二MOS管的栅极，所述第二MOS管的漏极接电源，所述第二MOS管的源极连接所述第三电阻的一端，所述第三电阻的另一端接地，所述第一电容的另一端接地。所述的检测电路中，所述平均电压采样模块包括第三运算放大器、第四电阻和第二电容；所述第三运算放大器的正相输入端连接所述线电压采样模块，所述第三运算放大器的反相输入端和输出端均连接所述第四电阻的一端，所述第四电阻的另一端连接所述第二电容的一端和所述判断模块，所述第二电容的另一端接地。所述的检测电路中，所述平均电压采样模块包括第三电容，所述第三电容的一端分别连接所述线电压采样模块和所述判断模块，所述第三电容的另一端接地。一种可控硅调光器的检测装置，包括PCB板，所述PCB板上设置有如上所述的检测电路。相较于现有技术，本技术提供的一种可控硅调光器的检测电路、装置，所述检测电路包括线电压采样模块、峰值电压采样模块、平均电压采样模块、判断模块和泄放模块；所述线电压采样模块用于对线电压进行采样后分别输出采样电压至所述峰值电压采样模块和所述平均电压采样模块；所述峰值电压采样模块根据所述采样电压输出第一比较电压至所述判断模块，所述平均电压采样模块根据所述采样电压输出第二比较电压至所述判断模块；所述判断模块用于比较所述第一比较电压和所述第二比较电压，并根据比较结果输出控制信号控制所述泄放模块导通或断开；所述泄放模块用于在导通时为可控硅调光器提供泄放电流，本技术能够有效解决当线网电压波动引起电压平均值变化而参考电压不变化时可控硅调光器检测结果不可靠的问题，提高检测的准确性。附图说明图1为本技术提供的可控硅调光器的检测电路的结构框图；图2为本技术提供的可控硅调光器的检测电路中未设置可控硅调光器以及设置有可控硅调光器时切相角小于90度和切相角大于90度的线电压波形对比图；图3为本技术提供的可控硅调光器的检测电路中第一实施例的电路原理图；图4为本技术提供的可控硅调光器的检测电路中第二实施例的电路原理图；图5为本技术提供的可控硅调光器的检测电路中第三实施例的电路原理图。具体实施方式本技术提供一种可控硅调光器的检测电路、装置，能够有效解决当线网电压波动引起电压平均值变化而参考电压不变化时可控硅调光器检测结果不可靠的问题。为使本技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。请参阅图1，本技术提供的包括整流桥10、线电压采样模块11、峰值电压采样模块12、平均电压采样模块13、判断模块14、泄放模块15、恒流模块16和LED灯串17，所述整流桥10连接交流电源和线电压采样模块11，所述线电压采样模块11还分别连接所述峰值电压采样模块12和所述平均电压采样模块13，所述峰值电压采样模块12和所述平均电压采样模块13均与所述判断模块14连接，所述判断模块14还与所述泄放模块15连接，所述泄放模块15还与所述整流桥10连接，所述恒流模块16连接所述LED灯串17的输出端，所述LED灯串17的输入端连接所述整流桥10。具体实施时，所述整流桥10将交流电进行整流处理后输出线电压至所述LED灯串17，为所述LED灯串17供电，还将线电压输出至所述线电压采样模块11，以便于后续判断线网中是否有可控硅调光器；所述线电压采样模块11用于对线电压进行采样后分别输出采样电压至所述峰值电压采样模块12和所述平均电压采样模块13；所述峰值电压采样模块12根据所述采样电压输出第一比较本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可控硅调光器的检测电路，其特征在于，包括线电压采样模块、峰值电压采样模块、平均电压采样模块、判断模块和泄放模块；所述线电压采样模块用于对线电压进行采样后分别输出采样电压至所述峰值电压采样模块和所述平均电压采样模块；所述峰值电压采样模块用于根据所述采样电压输出第一比较电压至所述判断模块，所述平均电压采样模块用于根据所述采样电压输出第二比较电压至所述判断模块；所述判断模块用于比较所述第一比较电压和所述第二比较电压，并根据比较结果输出控制信号控制所述泄放模块导通或断开；所述泄放模块用于在导通时为可控硅调光器提供泄放电流。/n

【技术特征摘要】
1.一种可控硅调光器的检测电路，其特征在于，包括线电压采样模块、峰值电压采样模块、平均电压采样模块、判断模块和泄放模块；所述线电压采样模块用于对线电压进行采样后分别输出采样电压至所述峰值电压采样模块和所述平均电压采样模块；所述峰值电压采样模块用于根据所述采样电压输出第一比较电压至所述判断模块，所述平均电压采样模块用于根据所述采样电压输出第二比较电压至所述判断模块；所述判断模块用于比较所述第一比较电压和所述第二比较电压，并根据比较结果输出控制信号控制所述泄放模块导通或断开；所述泄放模块用于在导通时为可控硅调光器提供泄放电流。


2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述峰值电压采样模块具体用于将所述采样电压的峰值电压乘以预设值后输出第一比较电压至所述判断模块。


3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述峰值电压采样模块包括第一源随单元和第二源随单元；所述第一源随单元用于将所述采样电压乘以预设值后输出检测电压至所述第二源随单元,所述第二源随单元用于根据所述检测电压得到所述检测电压的峰值电压后输出第一比较电压至所述判断模块。


4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于,所述判断模块包括判断单元和控制单元；所述判断单元用于在比较出所述第一比较电压大于所述第二比较电压时输出第一比较信号至所述控制单元,在比较出所述第一比较电压小于所述第二比较电压时输出第二比较信号至所述控制单元；所述控制单元用于根据所述第一比较信号控制所述泄放模块导通,或根据所述第二比较信号控制所述泄放模块断开。


5.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述第一源随单元包括第一运算放大器，第一M...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶羽安，邓迅升，王文攀，
申请(专利权)人：深圳市晟碟半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44