测量方法及装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种测量方法及装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取包含待测量物体的二维图像和所述二维图像的深度图；所述二维图像通过二维成像设备采集得到；依据所述二维图像和所述深度图，得到所述待测量物体的第一角点和所述待测量物体的第二角点之间的距离。

【技术实现步骤摘要】
测量方法及装置、电子设备及存储介质
本申请涉及计算机视觉
，尤其涉及一种测量方法及装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
在日常生活中，人们经常需要测量物体的尺寸。传统方法中，人们通常使用长度测量工具(如卷尺、直尺、游标卡尺)测量物体的尺寸。但这种传统测量方法对测量者而言，既耗时又耗力，测量效率低。因此，如何高效、准确测量物体的尺寸具有非常重要的意义。
技术实现思路
本申请提供一种测量方法及装置、电子设备及存储介质。第一方面，提供了一种测量方法，所述方法包括：获取包含待测量物体的二维图像和所述二维图像的深度图；所述二维图像通过二维成像设备采集得到；依据所述二维图像和所述深度图，得到所述待测量物体的第一角点和所述待测量物体的第二角点之间的距离。结合本申请任一实施方式，所述依据所述二维图像和所述深度图，得到所述待测量物体的第一角点和所述待测量物体的第二角点之间的距离，包括：依据所述二维图像和所述深度图，得到所述待测量物体的第一角点在所述二维成像设备的相机坐标系下的第一像点，以及所述待测量物体的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取包含待测量物体的二维图像和所述二维图像的深度图；所述二维图像通过二维成像设备采集得到；/n依据所述二维图像和所述深度图，得到所述待测量物体的第一角点和所述待测量物体的第二角点之间的距离。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量方法，其特征在于，所述方法包括：
获取包含待测量物体的二维图像和所述二维图像的深度图；所述二维图像通过二维成像设备采集得到；
依据所述二维图像和所述深度图，得到所述待测量物体的第一角点和所述待测量物体的第二角点之间的距离。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据所述二维图像和所述深度图，得到所述待测量物体的第一角点和所述待测量物体的第二角点之间的距离，包括：
依据所述二维图像和所述深度图，得到所述待测量物体的第一角点在所述二维成像设备的相机坐标系下的第一像点，以及所述待测量物体的第二角点在所述相机坐标系下的第二像点；
确定所述第一像点和所述第二像点之间的距离，作为所述第一角点与所述第二角点之间的距离。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测量物体包含待测量面；
所述依据所述二维图像和所述深度图，得到所述待测量物体的第一角点在所述二维成像设备的相机坐标系下的第一像点，以及所述待测量物体的第二角点在所述相机坐标系下的第二像点，包括：
依据所述待测量面中至少三个第一点在所述二维图像中的坐标，以及从所述深度图中得到的所述至少三个第一点的深度值，得到所述待测量面在所述二维成像设备的相机坐标系下的投影平面；
从所述投影平面中确定所述第一像点和所述第二像点。


4.根据权利要求1至3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述待测量物体表面包含非主体结构，所述方法还包括：
对所述二维图像进行边缘检测处理，得到第一边缘和第二边缘；所述第一边缘和所述第二边缘位于所述待测量物体的同一个表面内，且所述第一边缘的梯度和所述第二边缘的梯度超过边缘阈值；
确定所述第一边缘与所述第二边缘之间的距离，作为所述非主体结构的尺寸。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述对所述二维图像进行边缘检测处理，得到第一边缘和第二边缘之后，在所述确定所述第一边缘与所述第二边缘之间的距离，作为所述非主体结构的尺寸之前，所述方法还包括：
对所述第一边缘和所述第二边缘分别进行曲率检测处理，得到所述第一边缘的第一曲率和所述第二边缘的第二曲率；
所述确定所述第一边缘与所述第二边缘之间的距离，作为所述非主体结构的尺寸，包括：
在所述第一曲率和所述第二曲率均超过曲率阈值的情况下，确定所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛地，周杨，
申请(专利权)人：深圳市慧鲤科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44