电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质技术

本申请涉及一种电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质。电路板晶须物质的检测方法包括获取电路板检测图像。对电路板检测图像进行灰度化处理，获得电路板灰度图像。对电路板灰度图像进行中值滤波处理，获得滤波图像。对滤波图像进行二值化处理，获得二值化图像。对二值化图像进行边缘检测，获得边缘图像。对边缘图像进行轮廓检测，获得边缘图像中所有轮廓，并将所有轮廓内部填充为单一颜色，获得轮廓填充图像。对轮廓填充图像进行形态学开运算，获得开运算轮廓。若开运算轮廓为线形轮廓，则为电路板晶须物质的轮廓。通过电路板晶须物质的检测方法，不需要依靠人眼检测即可实现自动检测，具有效率高、准确率高等优势。

【技术实现步骤摘要】
电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质
本申请涉及机器视觉
，特别是涉及一种电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质。
技术介绍
在电气领域会使用大量的电路板。电路板在长期使用后由于部分器件、材质和工作环境的影响，会使得部分电路板表面会生长晶须。晶须会导致电路板出现短路故障，危及设备安全甚至会影响机组安全。为此我们需要在大批量维修期间对电路板进行检查和处理。晶须是指从金属表面生长出的细丝状、针状单晶体，它能在固体物质的表面生长出来。晶须容易发生在锡、锌、镉、银等低熔点金属表面。晶须通常发生在0.5微米至50微米、厚度很薄的金属沉积层表面。典型的晶须直径为1微米至10微米，长度为1微米至500微米。晶须在静电或气流作用下可能变形弯曲，在电子设备运动中可能脱落造成短路或损坏。在低气压环境中，晶须与邻近导体之间甚至可能发生电弧放电，造成严重破坏。所以电路板上面存在的晶须物质对电路板的运行增加安全隐患。然而，传统的晶须物质检测方法，往往是通过人眼观察，从而找到晶须物质。然而人工检测耗时耗力，且难以进行大规模的检测，使本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路板晶须物质的检测方法，其特征在于，包括：/n获取电路板检测图像；/n对所述电路板检测图像进行灰度化处理，获得电路板灰度图像；/n对所述电路板灰度图像进行中值滤波处理，获得滤波图像；/n对所述滤波图像进行二值化处理，获得二值化图像；/n对所述二值化图像进行边缘检测，获得边缘图像；/n对所述边缘图像进行轮廓检测，获得所述边缘图像中所有轮廓，并将所述所有轮廓内部填充为单一颜色，获得轮廓填充图像；/n对所述轮廓填充图像进行形态学开运算，获得开运算轮廓；/n判断所述开运算轮廓是否为线形轮廓；/n若所述开运算轮廓为线形轮廓，则为电路板晶须物质的轮廓。/n

【技术特征摘要】
1.一种电路板晶须物质的检测方法，其特征在于，包括：
获取电路板检测图像；
对所述电路板检测图像进行灰度化处理，获得电路板灰度图像；
对所述电路板灰度图像进行中值滤波处理，获得滤波图像；
对所述滤波图像进行二值化处理，获得二值化图像；
对所述二值化图像进行边缘检测，获得边缘图像；
对所述边缘图像进行轮廓检测，获得所述边缘图像中所有轮廓，并将所述所有轮廓内部填充为单一颜色，获得轮廓填充图像；
对所述轮廓填充图像进行形态学开运算，获得开运算轮廓；
判断所述开运算轮廓是否为线形轮廓；
若所述开运算轮廓为线形轮廓，则为电路板晶须物质的轮廓。


2.根据权利要求1所述的电路板晶须物质的检测方法，其特征在于，对所述电路板检测图像进行灰度化处理，获得电路板灰度图像的步骤，包括：
根据第一灰度化公式Y＝0.3×R+0.59×G+0.11×B对所述电路板检测图像进行灰度化处理，获得第一灰度图像；
根据第二灰度化公式对所述第一灰度图像进行灰度化处理，获得所述电路板灰度图像。


3.根据权利要求1所述的电路板晶须物质的检测方法，其特征在于，对所述滤波图像进行二值化处理，获得二值化图像的步骤，包括：
预设自适应阈值；
若所述滤波图像中灰度图像像素点的像素值大于所述自适应阈值，则将所述灰度图像像素点的像素值设置为第一像素值；
若所述滤波图像中灰度图像像素点的像素值不大于所述自适应阈值，则将所...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴长雷，李勇，丁俊超，浦黎，纪庆泉，董世儒，
申请(专利权)人：中广核核电运营有限公司，中国广核集团有限公司，中国广核电力股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44